
蘇州晶格電子有限公司

已認(rèn)證
ST2253型數(shù)字式四探針測試儀
二,、概述
ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由主機(jī),、選配的四探針探頭,、測試臺以及PC軟件等部分組成。
主機(jī)主要由精密恒流源,、高分辨率ADC,、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,USB通訊接口,。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定,、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入;具有零位,、滿度自校功能,;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成,,也可脫PC機(jī)由四探針儀器面板上獨立操作完成,。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示,也可連機(jī)由軟件界面同步顯示,、分析,、保存和打印,!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,,以測試硅類半導(dǎo)體,、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,;也有球形鍍金銅合金探針探頭,,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻,。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量,。配專用探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻,。
測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導(dǎo)體粉末電阻率,,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
儀器具有測量精度高,、靈敏度高,、穩(wěn)定性好,、智能化程度高,、測量簡便,、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點,。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位,、高等院校對導(dǎo)體,、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試,。
三、基本技術(shù)參數(shù)
3.1 測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105 Ω ,,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
直 徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,,手持方式不限
SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向,、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程:0.1μA,,1μA,10μA,,100μA,,1mA,,10mA,100mA,,1A
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7.外形尺寸:
主 機(jī) 220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高)
凈 重:≤2.5kg
聯(lián)系人:王經(jīng)理
聯(lián)系電話:13656 225155
微信:13656 225155
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