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飛納電鏡持續(xù)創(chuàng)新
系列一
01
“你這個位置是哪里拍的,？其他位置什么情況,？整個樣品上裂紋的走勢是什么樣的？”
作為失效工程師,，收到老板或同事的靈魂拷問,，是不是常常讓你頭疼？
02
“你這個太局部了,，不具有代表性,，其他位置什么情況？”
明明是供應(yīng)商產(chǎn)品的問題,，但強勢的甲方的詭辯總讓你無奈不已,？
03
“小張，我要整個組織切片的全貌,，請確保拍下來,。”
導(dǎo)師的要求太天真，臣妾做不到,？
別擔(dān)心,，飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)幫你解決這些問題！
2024 年,，飛納發(fā)布革命性的數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng) Phenom MAPS,。該系統(tǒng)不僅徹底革新了數(shù)據(jù)存儲的方式，還為 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析開啟了“上帝視角”,，幫您輕松掌握每一個細節(jié),，不再需要費力解釋。
今天,，我們來詳細了解一下這款為科學(xué)家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng),。
No.1 ：多圖層數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng)
PHENOM MAPS
“人如其名”，MAPS 是地圖的意思,，該系統(tǒng)會像百度地圖一樣,，通過層級的方式，實現(xiàn)對樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看,。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔,，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，徹底變革了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲模式,。并且,，多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。
No.2 ：大面積成像拼接,，完全無痕,！
PHENOM MAPS
導(dǎo)師再讓我拼全圖，我會大聲回答：我“朕”的可以,！
No.3：大面積能譜分析,，地質(zhì)行業(yè)最愛！
PHENOM MAPS
這里是一個地質(zhì)樣品的能譜拼圖結(jié)果,，Phenom MAPS 可以實現(xiàn)對整個樣品的能譜采集,，導(dǎo)出任意拼接的原始能譜數(shù)據(jù)，以方便進行離線分析,。
有相關(guān)需求的客戶,，可以識別下方二維碼留言聯(lián)系我們：
No.4 ：CISA，關(guān)聯(lián)一切可視化圖片
PHENOM MAPS
光鏡,、拉曼,、紅外、XPS,，甚至 CAD 或手繪草圖,，通通可以關(guān)聯(lián),。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合,，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌,。
通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合,。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池,、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究,。
總結(jié)
飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)不僅是一個自動化的圖像,、能譜采集工具，更是一個革命性的數(shù)碼存檔和關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)分析平臺,。通過地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數(shù)據(jù)采集及關(guān)聯(lián)系統(tǒng),，為您提供多模態(tài)的“上帝視角”，全面掌握顯微鏡數(shù)據(jù),，不再錯過任何細節(jié),。
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