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掃描電鏡選型指南｜為科研工作者助力

復(fù)納科技 2024-01-12 | 閱讀：1523

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如何正確選擇不同功能的掃描電鏡,？掃描電鏡選型指南

掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于材料科學(xué),、生物學(xué),、納米技術(shù)、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域,，為研究人員提供了觀察和分析微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌的有效工具。

針對不同領(lǐng)域和樣品需求，應(yīng)該如何選擇不同功能的掃描電鏡呢？

我們對已有的不同功能的掃描電鏡進(jìn)行了盤點(diǎn)：

系列 1 場發(fā)射掃描電鏡

肖特基場發(fā)射掃描電鏡（Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope,，Schottky FE-SEM）是一種采用肖特基場發(fā)射電子源的高分辨率掃描電子顯微鏡，可以提供更高的電子束亮度和穩(wěn)定性,，用于觀察微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。

第二代場發(fā)射掃描電鏡,，臺式設(shè)計(jì),，完全防震,，在臺式機(jī)身上獲得接近大型場發(fā)射的性能。優(yōu)秀的低電壓成像能力,，可減輕電子束對樣品的損傷和穿透,，最大程度還原樣品的真實(shí)形貌。延續(xù)電鏡能譜一體化設(shè)計(jì),，升級的快速面掃可以即時顯示所選元素的分布情況,，實(shí)時能譜分析功能大幅提升了檢測效率。

特點(diǎn)

· 肖特基場發(fā)射電子槍

· 分辨率最高的臺式電鏡

· 卓越的低電壓成像

· 電鏡能譜一體化設(shè)計(jì)

· 操作簡單

· 內(nèi)置磁屏蔽和減震系統(tǒng),，可放置于任意樓層

SEM-STEM 電子顯微鏡

2023 年推出臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,，在較低的加速電壓下，減少了電子束對樣品的損傷,，顯著提高了圖像的襯度,。在臺式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像,、HAADF 像,，且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效,、全面的表征方式,。

系列 2 CeB6 燈絲掃描電鏡

CeB6（鈰六硼化物）燈絲掃描電鏡是一種采用CeB6作為電子發(fā)射源的掃描電子顯微鏡。CeB6燈絲具有良好的發(fā)射性能和長壽命,，可提供穩(wěn)定的電子束,，用于高分辨率的表面成像和樣品分析。

特點(diǎn)

· 高亮度,、低色差 CeB6 燈絲,，使用時長不低于 1500h

· 無需噴金

· "全面屏”操作界面

· 不受震動、磁場等環(huán)境因素干擾

系列 3 全自動掃描電鏡

全自動掃描電鏡以掃描電鏡和能譜儀為基礎(chǔ),，結(jié)合自動控制系統(tǒng)以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫系統(tǒng),，可以全自動對雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計(jì),，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速,、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

特點(diǎn)

· 顆粒粒度分布

· 顆粒形貌分析

· 雜質(zhì)成分檢測

· 高分辨率成像

系列 4 自動化專用掃描電鏡

在犯罪事件中,，槍擊殘留物（GSR）的分析發(fā)揮著重要的作用,。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡（SEM）的背散射成像，用來掃描樣品和發(fā)現(xiàn) “可疑” 的 GSR 顆粒,。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒,，使用能譜（EDS）識別該顆粒的元素。最常見的搜索元素為 Pb,，Sb 和 Ba,。無鉛底火的檢測,，例如 Ti 和 Zn 也可作為搜索條件進(jìn)行搜索。

DiatomAI? 利用人工智能的技術(shù),，賦能法醫(yī)硅藻檢驗(yàn)系統(tǒng),，配合 DiatomScope? ，實(shí)現(xiàn)了掃描和檢測的全自動化,。它是目前市面上可靠,、高效、自動化程度高的硅藻檢測解決方案,，幫助法醫(yī)在檢測過程中實(shí)現(xiàn)硅藻的全自動檢測,，識別過程全程無需人工參與。大大縮短了檢測時間,，提升工作效率,。

掃描電鏡樣品制備

1.制樣簡單無需噴金即可觀察不導(dǎo)電樣品