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美國PSS Nicomp 380 Z3000 Zeta電位儀及納米粒度儀
美國PSS Nicomp 380 Z3000 Zeta電位儀及納米粒度儀

參考價(jià)格

40-50萬元

型號(hào)

Nicomp 380 Z3000

品牌

美國PSS

產(chǎn)地

美國

樣本

暫無
上海奧法美嘉生物科技有限公司

鉆石會(huì)員

|

第18年

|

生產(chǎn)商

工商已核實(shí)

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核心參數(shù)
  • 分辨率:

    1024個(gè)數(shù)據(jù)通道
  • 重現(xiàn)性:

    >99%
  • 儀器原理:

    動(dòng)態(tài)光散射
  • 分散方式:

    濕法分散
  • 測量時(shí)間:

    1min-10min
  • 測量范圍:

    0.3nm-10μm
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Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 
專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
基本信息

儀器型號(hào):Z3000 

工作原理:

粒度分布:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

檢測范圍: 

粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

ZETA電位 +/- 500mV

   

Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來,,采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV,。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有**技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,對(duì)于多組分,、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢,。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個(gè)電極可以使用成千上萬次,。另外,,采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度,,亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本,。



技術(shù)優(yōu)勢


1、APD&PMT雙檢測器,;

2,、多角度檢測(multi angle)模塊;

3,、可搭配不同功率光源,;

4、雙列直插式電極和樣品池,,可反復(fù)使用成千上萬次;

5,、鈀電極,;

6、精確度高,,*接近樣品真實(shí)值,;

7、復(fù)合型算法:

 高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

 相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

8,、快速檢測,,可以追溯歷史數(shù)據(jù);

9,、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn),;

10、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求,;

11,、無需校準(zhǔn),;

12、復(fù)合型算法:

(1)高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

10,、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí),;

(1)可自動(dòng)稀釋模塊**;

(2)搭配多角度檢測器,;

(3)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配),;


380/MA多角度檢測器


粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對(duì)光的敏感性來測試某些特殊級(jí)別粒子,。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,,步長0.7°的多角度測角器,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,,通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測,,改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。


Nicomp多峰分布概念


      基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨(dú)有的兩個(gè)主要特點(diǎn),,Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,,這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符,因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系,,非單分散體系,,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,,這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用,。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性,。


圖一:Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)


      如圖一:此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測其血液所得的真實(shí)案例,。其檢測項(xiàng)目為:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,,由圖中可以看出,,其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm;29.3nm和217.5nm,。由此可見,,Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。



Nicomp多峰分布優(yōu)勢

       Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換,。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì),,Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系,。



圖二:高斯分布及Nicomp多峰分布對(duì)比圖

      如圖二:此數(shù)據(jù)為檢測93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布(Gaussian)結(jié)果,,右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果,,兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù),。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間,卻無法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu),。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰,,即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn),體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,,這和實(shí)際情況相符,。


      為滿足不同客戶的實(shí)際檢測需求,我司的Nicomp 380 N3000會(huì)配備相應(yīng)的配置,,旨在為客戶們?cè)诳刂瞥杀镜幕A(chǔ)上,,得到需求的解決方案,達(dá)到收益**化,。


產(chǎn)品優(yōu)勢



模塊化設(shè)計(jì)

      Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀,。隨著模塊的升級(jí)和增加,Nicomp 380的功能體系越來越強(qiáng)大,,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析,。


自動(dòng)稀釋模塊

      帶有**的自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯(cuò)來獲得合適的測試濃度,,這大大縮短了測試者寶貴時(shí)間,,且無需培訓(xùn),測試結(jié)果重現(xiàn)性好,,誤差率<1%,。


380/HPLD大功率激光器

      美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測試條件中不同的需求,,對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器,。大功率的激光器可以對(duì)極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào),使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布,。同樣,,大功率激光器在測試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助,比如在檢測右旋糖酐大分子時(shí),,折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。                                    

      因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?,?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減,,測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束,、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題,。即使沒有色譜分離,Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度,。


雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測器

      Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和軍品級(jí)別的雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有7-10倍放大增益效果),。

      APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束,、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán),,他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對(duì)光的散射不敏感的原子組成,。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊,,在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測分析納米級(jí)顆粒的分布情況。


380/MA多角度檢測器

      粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射,。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對(duì)光的敏感性來測試某些特殊級(jí)別粒子,。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長0.7°的多角度測角器,,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,,通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測,改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度,。


工作原理


目錄結(jié)構(gòu):
    

1. 前言

2. 動(dòng)態(tài)光散射粒度儀原理

3. 動(dòng)態(tài)光散射理論:光的干涉

4. 粒子的擴(kuò)散效應(yīng)

5. Stoke-Einstein方程式

6. 自相關(guān)函數(shù)原理

7. ZETA電勢電位原理

 

前言     

       近十幾年來,,動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)(Dynamic Light scattering, DLS),也被稱為準(zhǔn)彈性光散射(quasi-elastic light scattering, QELS)或光子相關(guān)光譜法(photon correlation spectroscopy,, PCS),已經(jīng)被證明是表征液體中分散體系的粒徑分布(PSD)的極有用的分析工具,。DLS技術(shù)的有效檢測粒徑范圍——從5am(0.005微米)到10幾個(gè)微米。DLS技術(shù)的優(yōu)勢相當(dāng)明顯,,尤其是當(dāng)檢測到300nm以下亞微米的粒徑范圍時(shí),,在此區(qū)間,其他的技術(shù)手段大部分都已經(jīng)失效或者無法得到準(zhǔn)確的結(jié)果,。因此,,基于DLS理論的設(shè)備儀器被廣泛采用用以表征特定體系的粒度分布,包括合成的高分子聚合物(如乳膠,,PVCs等),,水包油和油包水的乳劑,囊泡,,膠團(tuán),,微粒,生物大分子,,顏料,,燃料,硅土,,金屬晶體,,陶瓷和其他的膠體類混懸劑和分散體系。

動(dòng)態(tài)光散射原理 

       下圖所示為DLS系統(tǒng)的簡單的示意圖。激光照射到盛有稀釋的顆?;鞈乙旱牟Aг嚬苤?。此玻璃試管溫度恒定,每一個(gè)粒子被入射光擊發(fā)后向各個(gè)方向散射,。散射光的光強(qiáng)值和粒徑的分子量或體積(在特定濃度下)成比例關(guān)系,,再帶入其他影響參數(shù)比如折射率,這就是經(jīng)典光散射(Classic light scattering)的理論基礎(chǔ),。

 

圖1:DLS系統(tǒng)示意圖


**的動(dòng)態(tài)光散射方法(DLS)從傳統(tǒng)的光散射理論中分離,,不再關(guān)注于光散射的光強(qiáng)值,而關(guān)注于光強(qiáng)隨著時(shí)間的波動(dòng)行為,。簡單來說,,我們?cè)谝欢ń嵌龋ㄒ话闶褂?0°角)檢測分散溶劑中的混懸顆粒的總體散射光信息。由于粒度的擴(kuò)散,,光強(qiáng)值不斷波動(dòng),,理論上存在有非常理想化的波動(dòng)時(shí)間周期,此波動(dòng)時(shí)間和粒子的擴(kuò)散速度呈反比例關(guān)系,。我們通過光強(qiáng)值的波動(dòng)自相關(guān)函數(shù)的計(jì)算來獲得隨時(shí)間變化的衰減指數(shù)曲線,。從衰減時(shí)間常量τ,我們可以獲得粒子的擴(kuò)散速度D,。使用Stokes-Einstein 方程式,,我們*終可以計(jì)算得出顆粒的半徑(假定其是一個(gè)圓球形狀)。


動(dòng)態(tài)光散射理論:光的干涉

       為了容易理解什么叫做強(qiáng)度隨時(shí)間波動(dòng),,我們必須先理解相干疊加(coherent addition)或線性疊加(superposition)的概念,進(jìn)一步要知道檢測區(qū)域內(nèi)的不同的粒子產(chǎn)生了很多獨(dú)立散射光,,這些獨(dú)立的散射光相干疊加或互相疊加的*終結(jié)果就是光強(qiáng)。這種物理現(xiàn)場被稱為“干涉”,。下圖是光干涉圖樣,。

 

 

 

       每一束獨(dú)立的散射光波到達(dá)檢測器和入射激光波長有相位關(guān)系,這主要取決于懸浮液中顆粒的精確定位,。所有的光波在PMT檢測器的表面的狹縫中混合在一起,,或者叫干涉在一起,*終在特定的角度可以檢測得到“凈”散射光強(qiáng)值,,在DLS系統(tǒng)中,,絕大部分都使用90度角。

 

小知識(shí)——光電倍增管(PMT) 

       光電倍增管(Photomultiplier,,簡稱PMT),,是一種對(duì)紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管,。它能使進(jìn)入的微弱光信號(hào)增強(qiáng)至原本的108倍,,使光信號(hào)能被測量,。


光電倍增管示意圖



小知識(shí)——光電倍增管(PMT)

MT)

   

光電倍增管(Photomultiplier,,簡稱PMT),,是一種對(duì)紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管,。它能使進(jìn)入的微弱光信號(hào)增強(qiáng)至原本的108倍,,使光信號(hào)能被測量。

光電倍增管示意圖


 

 

工作原理

光電倍增管是由玻璃封裝的真空裝置,,其內(nèi)包含光電陰極 (photocathode),,幾個(gè)二次發(fā)射極 (dynode)和一個(gè)陽極。入射光子撞擊光電陰極,,產(chǎn)生光電效應(yīng),,產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管,,電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個(gè)二次電子,,通常每個(gè)二次發(fā)射極的電位差在 100 到 200 伏特。二次電子流像瀑布一般,,經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使得電子倍增,,*后到達(dá)陽極。一般光電倍增管的二次發(fā)射極是分離式的,,而電子倍增管的二次發(fā)射極是連續(xù)式的,。

 

應(yīng)用

       光電倍增管集高增益,低干擾,,對(duì)高頻信號(hào)有高靈敏度的優(yōu)點(diǎn),,因此被廣泛應(yīng)用于高能物理、天文等領(lǐng)域的研究工作,,與及流體流速計(jì)算,、醫(yī)學(xué)影像和連續(xù)鏡頭的剪輯。雪崩光電二極管(Avalanche photodiodes,,簡稱APDs)為光電倍增管的替代品,。然而,后者仍在大部份的應(yīng)用情況下被采用,。

 

動(dòng)態(tài)光散射理論:  粒子的擴(kuò)散效應(yīng)

       懸浮的粒子并不是靜止不動(dòng)的,,相反,他們以布朗運(yùn)動(dòng)(Brownian motion)的方式無規(guī)則的運(yùn)動(dòng),,布朗運(yùn)動(dòng)主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的,。因此,到達(dá)PMT檢測區(qū)的每一束散射光隨時(shí)間也呈無規(guī)則波動(dòng),,這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導(dǎo)致的無規(guī)則波動(dòng),。因?yàn)檫@些光互相干涉在一起,在檢測器中檢測到的光強(qiáng)值就會(huì)隨時(shí)間而不斷波動(dòng)。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,,進(jìn)而產(chǎn)生有實(shí)際意義的波動(dòng),,*終這些波動(dòng)在凈光強(qiáng)值上反應(yīng)出來,。
       DLS測量粒徑技術(shù)的關(guān)鍵物理概念是基于粒子的波動(dòng)時(shí)間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的,。為了簡化這個(gè)概念,,我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的,,具有相同的擴(kuò)散系數(shù)(diffusion coefficient),。分散體系中的小粒子運(yùn)動(dòng)的快,,將會(huì)導(dǎo)致光強(qiáng)波動(dòng)信號(hào)變化很快,;而相反地,,大粒子擴(kuò)散地畢竟慢,,導(dǎo)致了光強(qiáng)值的變化比較慢,。
        圖示4使用相同的時(shí)間周期來觀測不同大小(小,,中,,大)的粒子產(chǎn)生的散射光強(qiáng)變化,請(qǐng)注意,橫坐標(biāo)是時(shí)間t,。


 

我們需要再次強(qiáng)調(diào),,光強(qiáng)的波動(dòng)并不是因?yàn)闄z測區(qū)域內(nèi)粒子的增減引起的

 而是大量的粒子的位置變動(dòng)(位移)而引起的。

 

Stokes Einstein Equation

        DLS技術(shù)的目標(biāo)是從原始數(shù)據(jù)(raw data)中確定粒子的擴(kuò)散系數(shù)“D”,。原始數(shù)據(jù)主要是指光強(qiáng)信號(hào)的波動(dòng),,比如上述圖4中所示。通過擴(kuò)散系數(shù)D我們可以很容易的計(jì)算出粒子的半徑,,這時(shí)候就是廣為人知的Stokes-Einstein方程式:
D=kT/6πηR    (2)
這里k 指的是玻爾茲曼常數(shù)1.38 x 10-16 erg K-1,;
T是**溫度;
η是分散溶劑的額剪切粘度,,比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊,;
        從上述公式2中我們可以看到,通常情況下,,粒子的擴(kuò)散系數(shù)D會(huì)隨著溫度T的上升而增加,。溫度進(jìn)而也會(huì)影響溶劑粘度η。例如,,純水的粘度在25℃下會(huì)落到0.890×10-2泊,,和20℃下相比會(huì)有10%的改變。毫無疑問,,溶劑的粘度越小,,粒子的無規(guī)則擴(kuò)散速度會(huì)越大,從而導(dǎo)致光強(qiáng)的波動(dòng)也越快,。因此,,溫度T的變化和粒徑的變化是完全分不開的,,因?yàn)樗麄兌加绊懙搅藬U(kuò)散系數(shù)D。正因?yàn)檫@個(gè)原因,,樣本的溫度必須保持恒定,,而且必須非常精確,這樣才能獲得有實(shí)際意義的擴(kuò)散系數(shù)D,。
        從圖4的“噪聲”信號(hào)中無法直接提取出擴(kuò)散系數(shù)。但是可以清楚地看到,,信號(hào)b比信號(hào)c波動(dòng)地快,,但是比信號(hào)a波動(dòng)地慢,因?yàn)?,信?hào)b地粒徑一定在a和c之間,,這只是很直觀地得到一個(gè)結(jié)論而已。然而,,量化此種散射信號(hào)是一個(gè)很專業(yè)地課題,。幸而,我們有數(shù)學(xué)方法來解決這個(gè)問題,,這就是自相關(guān)函數(shù)(auto-correlation),。

自相關(guān)函數(shù)原理

       現(xiàn)在讓我們?cè)O(shè)定散射光強(qiáng)的自相關(guān)函數(shù)為IS(t),在上述圖4中可以看到其隨時(shí)間而波動(dòng),。我們用C(t’)來標(biāo)識(shí)自相關(guān)函數(shù),。C(t’)可以通過如下方程式3來表達(dá):
C(t’)=< Is(t)*Is(t-t’) >    (3)
括號(hào)< >表示有很多個(gè)t和對(duì)應(yīng)的Is值。也就是說,,一次計(jì)算就是運(yùn)行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和,,所有都具有相同的間隔時(shí)間段t’
       圖5是典型的Is(t)的波形圖,,通過這張圖,,我們可以認(rèn)為C(t’)和Is(t)之間有簡單的比例關(guān)系,這張圖的意義在于通過C(t’)函數(shù)可以通過散射光強(qiáng)Is(t)的波動(dòng)變化“萃取”出非常有用的信息,。

 

       自相關(guān)函數(shù)C(t’)其實(shí)是表征的不同大小的粒子隨時(shí)間而衰變的規(guī)律,。



Zeta電勢電位原理

  

 

1.1 什么是ZETA電勢電位

1.2 STERN雙電子層

1.3 DLS散射系統(tǒng)是如何測ZETA電位的?

 

什么是ZETA電勢電位

Zeta電位(Zeta potential)是指剪切面(Shear Plane)的電位,,又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(ζ-電位或ζ-電勢),,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。

我們知道膠體系統(tǒng)中有兩個(gè)相,,分散相和連續(xù)相,,分散相在納米和亞微米之間。因?yàn)槲⒘5牧胶苄?,因此它比表面積大從而有一些增強(qiáng)屬性使其穩(wěn)定懸浮,。但是如果微粒開始絮凝,,微粒的粒徑改變,性能也可能發(fā)生變化,,如果不加以控制,,絮凝體也可能進(jìn)一步團(tuán)聚形成沉淀,接著就會(huì)相位分離,。當(dāng)我們建立穩(wěn)定分散體系時(shí),,我們需要維持微粒的穩(wěn)定與分散,其中一個(gè)方法就是增強(qiáng)微粒表面電荷,,然后這些微粒將帶偶極矩互相之間產(chǎn)生排斥,,隨著微粒電荷的增加,微粒團(tuán)聚而形成絮凝的幾率降低,。讓微粒分散,,帶正電荷還是帶負(fù)電荷并不重要,重要的是電荷的**值,。我們研究微粒表面電荷的方法就是Zeta電勢電位,。

STERN雙電子層


圖 1膠團(tuán)模型

膠核表面擁有一層離子,稱為電位離子,,電位離子通過靜電作用,,把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍,被吸引的離子稱為反離子,,越靠近膠核表面的地方反離子越密集,,相反,越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏,,他們的電荷總量與電位離子相等并且符號(hào)相反,。因此,整個(gè)膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài),,而膠核表面電勢是**的,,根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢

圖 2 STERN雙電子層模型

STERN雙電子層即為膠核表面以及擴(kuò)散層共同形成的電子層模型,,值得注意的是擴(kuò)散層中帶電離子是分布在連續(xù)相中,,因此其與分散介質(zhì)息息相關(guān)(例如:通過水分散的體系,擴(kuò)散層離子濃度以及擴(kuò)散層寬度與水有很大關(guān)聯(lián)),,所以擴(kuò)散層都沒有明確的邊界,。

DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位

目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法,、流動(dòng)電位法以及超聲波法,。Nicomp Z3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。

圖 3 儀器內(nèi)部光路圖

圖3是Nicomp 380 Z3000設(shè)備內(nèi)部的光路圖,,激光通過一個(gè)分光器分成兩組光路,,一組通過反射鏡直接進(jìn)入檢測器,,另一組經(jīng)過一個(gè)可調(diào)節(jié)的濾光片后,再經(jīng)由微粒散射進(jìn)入到相關(guān)檢測器中,。觀察兩組相干光的頻率變化或者相位變化,,從而計(jì)算得出ZETA電勢電位。

從微觀角度來理解ZETA電位的計(jì)算,,微粒由于帶電量或是帶點(diǎn)符號(hào)不同,,其在電場作用下的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)也會(huì)不同,這種運(yùn)動(dòng)狀態(tài)我們用電泳淌度μ(帶電離子在單位場強(qiáng)下的平均電泳遷移速率)來表征,,我們通過檢測器觀察到的兩組相干光的頻率或是相位變化,,結(jié)合電場強(qiáng)度,相干光波長等參數(shù)通過簡單的數(shù)學(xué)建模計(jì)算得出粒子的電泳淌度μ,,*終ZETA電位通過公式:


換算得出。η為分散劑的剪切粘度,,ε為分散劑的介電常數(shù),。

 

點(diǎn)擊下載工作原理





儀器參數(shù)

粒徑檢測范圍

0.3nm-10μm

數(shù)字相關(guān)器通道數(shù)

1024

分析方法

動(dòng)態(tài)光散射,Gaussian單峰算法和 Nicomp多峰算法

pH值范圍

2-12

溫度范圍

0℃-90 ℃

激光光源

35mW激光光源

檢測角度

10°-170°(0.7°步進(jìn))

檢測器

APD(雪崩二極倍增管,,可7倍增益放大)

PMT(高性能光電檢測器)

 可用溶劑

水相,絕大多數(shù)有機(jī)相

樣品池

標(biāo)準(zhǔn)4 mL樣品池(1cm×4cm,,高透光,石英玻璃或塑料),;

1mL樣品池(玻璃,,高透光率微量樣品池,*小進(jìn)樣量10μL)

分析軟件

Windows 兼容軟件,;符合 21 CFR Part 11 規(guī)范分析軟件(可選)

驗(yàn)證文件

電壓

220–240VAC,,50Hz或100–120VAC,60Hz

計(jì)算機(jī)配置要求

Windows 7及以上版本windows操作系統(tǒng),,40Gb硬盤,,2G內(nèi)存,USB接口

外形尺寸

56 cm * 41 cm   * 24cm

重量

約26kg(與配置有關(guān))


配件


大功率激光二極管

PSS使用一系列大功率激光二極管來滿足更多更苛刻的要求,。使用大功率激光照射,,以便從小粒子出貨的足夠的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波長為635nm 的紅色二極管,。20 mW 50 mW 和 100 mW 波長為 514.4nm的綠色二極管,。

雪崩光電二極管檢測器(APD Detector)

提供比普通光電倍增管(PMT)高20倍的靈敏度。

自動(dòng)稀釋系統(tǒng)模塊(選配)

將初始濃度較高的樣本自動(dòng)稀釋至可檢測的的濃度,,可稀釋初始固含量為50%的原始樣品,,本模塊收**保護(hù),其可免除人工稀釋樣品帶來的外界環(huán)境的干擾和數(shù)據(jù)上的誤差,,此技術(shù)被用于批量進(jìn)樣和在線檢測的過程中,。

多角度檢測系統(tǒng)模塊(選配)

提供多角度的檢測能力,。使用高精度的步進(jìn)電機(jī)和針孔光纖技術(shù)可對(duì)散射光的接收角度進(jìn)行調(diào)整,可為微粒粒徑分布提供可高分辨率的多角度檢測,。對(duì)高濃度樣品(≤40%)以及大粒子多分散系的粒徑提供了提供15至175度之間不同角度上散射光的采集和檢測,。

自動(dòng)進(jìn)樣器(選配)

批量自動(dòng)進(jìn)樣器能實(shí)現(xiàn)*多76個(gè)連續(xù)樣本的分析而無需操作人員的干預(yù)。因此它是一個(gè)非常好的質(zhì)量控制工具,,能增大樣品的處理量,。大大節(jié)省了寶貴的時(shí)間。

樣品池

標(biāo)準(zhǔn)4 mL樣品池(1cm×4cm,,高透光,,石英玻璃或塑料);1mL樣品池(玻璃,,高透光率微量樣品池,,*小進(jìn)樣量10μL)


應(yīng)用領(lǐng)域

 

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納米載藥

納米藥物研究近些年主要著重在藥物的傳遞方向并發(fā)展迅猛,納米粒的大小可以有效減少毒性和副作用,。所以,,控制這些納米粒的粒徑大小是非常必要的。

磨料

磨料既有天然的也有合成的,,用于研磨,、切削、鉆孔,、成形以及拋光,。磨料是在力的作用下實(shí)現(xiàn)對(duì)硬度較低材料的磨削。磨料的質(zhì)量取決于磨料的粗糙度和顆粒的均勻性,。

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陶瓷在工業(yè)中的應(yīng)用非常廣泛,,從磚瓦到生物醫(yī)用材料及半導(dǎo)體領(lǐng)域。在生產(chǎn)加工過程中監(jiān)測陶瓷顆粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制*終產(chǎn)品的性能和質(zhì)量,。

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粘土是一種含水細(xì)小顆粒礦物質(zhì)天然材料,。粉砂與粘土類似,但粉沙的顆粒比粘土大,。粘土中易于混雜粉砂從而降低粘土的等級(jí)和使用性能,。ISO14688定義粘土的顆粒小于63μm,。

涂料


創(chuàng)新點(diǎn)

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評(píng)論內(nèi)容
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