參考價(jià)格
面議型號(hào)
SiCOPE系列品牌
國(guó)儀量子產(chǎn)地
安徽合肥樣本
暫無(wú)誤差率:
0%,;最可幾孔徑重復(fù)偏差分辨率:
分析站和P0站: 1000 Torr精度±0.1%重現(xiàn)性:
比表面積重復(fù)性(RSD)≤1.0%儀器原理:
靜態(tài)容量法分散方式:
4站原位脫氣,;并配置獨(dú)立樣品預(yù)處理設(shè)備測(cè)量時(shí)間:
3.3L杜瓦瓶長(zhǎng)效保溫72h測(cè)量范圍:
比表面積:0.0005 m2 /g及以上; 孔徑:0.35-500 nm孔徑精準(zhǔn)分析;總孔體積:0.0001 cc/g及以上看了微孔分析儀 SiCOPE系列的用戶又看了
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微孔分析儀
SiCOPE系列
SiCOPE系列微孔分析儀為微孔材料精準(zhǔn)表征而設(shè)計(jì),在0.35-2 nm孔徑范圍的測(cè)量精準(zhǔn)度達(dá)到國(guó)際**水平,。依托精密管路設(shè)計(jì)和高品質(zhì)核心部件,,結(jié)合強(qiáng)大且靈活的數(shù)據(jù)分析模型,為分子篩,、多孔碳,、MOFs等材料研究提供了高分辨率分析保障,助力科研探索與工業(yè)研發(fā)多領(lǐng)域突破,。
核心優(yōu)勢(shì)
比表面積重復(fù)精度≤1%,,*可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm
不少于40種NLDFT模型助力多孔材料分析
支持N2、CO2,、Ar,、H2等其他非腐蝕性氣體測(cè)試
各分析站配置
獨(dú)立壓力傳感器
4站同步分析
垂直上推式防護(hù)門
操作便捷
不占用額外空間
3.3L杜瓦瓶
長(zhǎng)效保溫72h
內(nèi)嵌進(jìn)度燈條
實(shí)時(shí)反饋測(cè)試進(jìn)度
產(chǎn)品特點(diǎn)
精準(zhǔn)控氣 效能提升
采用高精度比例閥與電磁閥聯(lián)動(dòng)控制技術(shù),確保目標(biāo)壓力點(diǎn)的快速精準(zhǔn)控制,,大幅提升儀器運(yùn)行效率,,控氣精度達(dá)±0.5 mmHg。
精準(zhǔn)控漏 精度**
創(chuàng)新性自研自鎖閥,、電磁閥等核心部件,,技術(shù)自主可控,極低漏率為低壓微孔段測(cè)試提供高精度保障。
模型精鑄 洞見(jiàn)非凡
軟件內(nèi)置算法集成BET,、Langmuir,、HK等常用分析模型及不少于40種NLDFT模型;BET一鍵智能選點(diǎn),,解決微孔材料BET段前移的選點(diǎn)問(wèn)題,,消除不同人員處理數(shù)據(jù)的偏差。
無(wú)塵精裝 穩(wěn)定保障
核心模塊在ISO Class 7萬(wàn)級(jí)潔凈間(電鏡級(jí)裝配標(biāo)準(zhǔn))完成全密封組裝,,相較傳統(tǒng)裝配環(huán)境潔凈度提升兩個(gè)數(shù)量級(jí),,確保氣路系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
自動(dòng)后標(biāo) 零氦測(cè)試
采用He-Free自由空間后置標(biāo)定方案,,從源頭消除氦氣殘留對(duì)測(cè)試的干擾,,為超微孔材料精準(zhǔn)分析提供可靠方案。
靈活脫氣 轉(zhuǎn)移無(wú)憂
支持原位與異位兩種脫氣方式,,提供空氣隔離塞或真空隔離塞,,保障微孔樣品從脫氣站轉(zhuǎn)移至分析站過(guò)程零污染。
人性設(shè)計(jì) 省力高效
垂直上推式防護(hù)門操作便捷,、節(jié)省空間,;杜瓦瓶設(shè)計(jì)符合人體工學(xué),方便拿??;設(shè)備底座內(nèi)嵌進(jìn)度燈條實(shí)時(shí)反饋測(cè)試進(jìn)度。
暫無(wú)數(shù)據(jù),!
摘要:硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料,,因?yàn)榫哂辛己玫目拐承浴⒃隽餍院蜐?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用,,作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑,,比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響,硬脂酸鎂的比表面積越大,,其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn),、高硬度、高耐磨性,、耐氧化等一系列特點(diǎn),,被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè),、紡織,、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域,。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu),,是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
4月9日,,“國(guó)儀電鏡論壇暨內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)國(guó)產(chǎn)電鏡技術(shù)講座”在內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)實(shí)驗(yàn)管理中心(測(cè)試中心)成功舉辦,吸引了來(lái)自周邊院校的多位電鏡領(lǐng)域?qū)<覍W(xué)者參與,。本次論壇以“國(guó)產(chǎn)電鏡的發(fā)展與機(jī)遇”為主題,,聚焦
4月1日,由湖南大學(xué)分析測(cè)試中心與國(guó)儀量子聯(lián)合主辦,,深圳速普儀器有限公司,、長(zhǎng)沙凱普樂(lè)科技有限責(zé)任公司協(xié)辦的“國(guó)儀電鏡論壇暨湖南大學(xué)電子顯微技術(shù)交流會(huì)”在湖南大學(xué)分析測(cè)試中心成功舉行。本次會(huì)議吸引了湖南
引言 為更好地激勵(lì)在科研領(lǐng)域辛勤探索,、努力拼搏的科研工作者,同時(shí)助力光探測(cè)磁共振事業(yè)發(fā)展,,國(guó)儀量子決定對(duì)使用本公司ODMR系列產(chǎn)品,,發(fā)表高水平學(xué)術(shù)文章的科研工作者給予現(xiàn)金獎(jiǎng)勵(lì)。2025年OD
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹 在芯片制造工藝中,,金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié),。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,,對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升,,芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié),。在芯片工作時(shí),Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,,芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”,,覆蓋在芯片表面,,隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利