探測器：
BSE、SE加速電壓：
-電子槍：
-電子光學放大：
-光學放大：
-分辨率：
優(yōu)于6nm看了ZEM20臺式掃描電鏡的用戶又看了
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澤攸科技推出的ZEM系列臺式掃描電鏡,，融合了眾多創(chuàng)新技術,，不僅成像效果**,，而且便于攜帶，能夠滿足多樣化的應用需求,。在國內外,，ZEM系列以其高端定位和多樣化型號，已在成像清晰度,、用戶友好性以及系統(tǒng)整合性等方面達到了先進標準,。
該系列產品以其高度的集成性和多樣化的配置選項而著稱，用戶界面簡潔,，易于學習和操作,，即使是非專業(yè)用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個工作流程,，從樣品準備,、參數調整到圖像分析，提供了一體化的高效解決方案,。ZEM系列在新材料,、新能源、生物醫(yī)藥和半導體等多個領域均顯示出了其強大的分析能力,，助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其**的性價比,，ZEM系列已成為眾多高校,、研究機構和企業(yè)重點選擇的臺式掃描電鏡。
產品參數：
產品特色：
▲ 真空分隔技術 ：采用獨特真空設計,，電子槍和樣品倉真空分離,，換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉：提供了更大的樣品存儲空間,，方便用戶操作,。
▲ 超高分辨率：極限放大倍數達到36萬倍，分辨率4nm@20kV,。
▲ 選配減速模式：允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察,。
▲ 倉內攝像頭：樣品倉內置高清攝像頭，原位實驗時可實時監(jiān)測樣品原位變化,。
可拓展原位電鏡附件列表：
SEM芯片加熱臺,，SEM加熱爐，SEM電池臺,，SEM液體電化學臺,，SEM氣體臺，SEM拉伸臺,，SEM-TEC冷臺,，SEM液氮冷臺,，SEM電學探針臺,，SEM通光等掃描電鏡原位測試系統(tǒng) ,。
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