探測器:
BSE、SE加速電壓:
-電子槍:
-電子光學放大:
-光學放大:
-分辨率:
優(yōu)于6nm看了ZEM20臺式掃描電鏡的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
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澤攸科技推出的ZEM系列臺式掃描電鏡,,融合了眾多創(chuàng)新技術,,不僅成像效果**,,而且便于攜帶,能夠滿足多樣化的應用需求,。在國內外,,ZEM系列以其高端定位和多樣化型號,已在成像清晰度,、用戶友好性以及系統(tǒng)整合性等方面達到了先進標準,。
該系列產品以其高度的集成性和多樣化的配置選項而著稱,用戶界面簡潔,,易于學習和操作,,即使是非專業(yè)用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個工作流程,,從樣品準備,、參數調整到圖像分析,提供了一體化的高效解決方案,。ZEM系列在新材料,、新能源、生物醫(yī)藥和半導體等多個領域均顯示出了其強大的分析能力,,助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其**的性價比,,ZEM系列已成為眾多高校,、研究機構和企業(yè)重點選擇的臺式掃描電鏡。
產品參數:
產品特色:
▲ 真空分隔技術 :采用獨特真空設計,,電子槍和樣品倉真空分離,,換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉:提供了更大的樣品存儲空間,,方便用戶操作,。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數達到36萬倍,分辨率4nm@20kV,。
▲ 選配減速模式:允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察,。
▲ 倉內攝像頭:樣品倉內置高清攝像頭,原位實驗時可實時監(jiān)測樣品原位變化,。
可拓展原位電鏡附件列表:
SEM芯片加熱臺,,SEM加熱爐,SEM電池臺,,SEM液體電化學臺,,SEM氣體臺,SEM拉伸臺,,SEM-TEC冷臺,,SEM液氮冷臺,,SEM電學探針臺,,SEM通光等掃描電鏡原位測試系統(tǒng) ,。
暫無數據!
近日,,浙江大學張澤院士、王江偉研究員團隊作為第一單位在《Nat. Commun.》上發(fā)表了題為《In situ atomistic observation of disconnection-media
近日,,蘇州科技大學作為第一單位,,在《Inorg. Chem.》上發(fā)表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Gra
近日,,澳大利亞昆士蘭理工大學作為第一單位,,在《NanoLetters》上發(fā)表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dyna