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多功能掃描X射線光電子能譜儀 XPS品牌
萬(wàn)德思諾產(chǎn)地
天津樣本
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產(chǎn)品圖片：
產(chǎn)品型號(hào)：
XPS
產(chǎn)品介紹：
XPS 作為一種重要的表面分析方法，廣泛應(yīng)用于固體材料表面的元素組分和化學(xué)態(tài)的研究,，例如電池材料,、催化劑、集成電路,、半導(dǎo)體,、金屬、聚合物,、陶瓷和玻璃等,，可滿足從研發(fā)到失效分析的廣泛分析需求。
VersaProbe4 采用了全新設(shè)計(jì)的高靈敏度分析器,，靈敏度是上一代的2倍,，具有更低的檢測(cè)限，能夠?qū)崿F(xiàn)從微區(qū) (<10 um) 到大面積(>1 mm) 的高靈敏度化學(xué)態(tài)分析,。
獨(dú)特的微聚焦掃描X射線和SXI影像,，通過(guò)類似SEM的SXI影像可以作為樣品導(dǎo)航，實(shí)現(xiàn)100%精準(zhǔn)地定義微區(qū)分析位置,。
*SXI (Scanning X-ray Image): 掃描X射線激發(fā)的二次電子影像
產(chǎn)品特性：
1. 全新設(shè)計(jì)的高靈敏度和低噪音能量分析器
2. 使用微區(qū)XPS分析技術(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確的深度剖析
3. 無(wú)需參數(shù)調(diào)整即可滿足任何絕緣樣品微區(qū)分析的荷電中和需求
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15. 樣品預(yù)處理室
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
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