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球差場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000品牌
佳鼎半導(dǎo)體產(chǎn)地
山東樣本
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通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度,、高立體角EDX,。
透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能,,像差校正后的SEM圖像和對稱Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn),。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。
對于包括高端用戶在內(nèi)的廣泛用戶,,我們提供亞?級空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法,。
標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器(附自動(dòng)校正功能)
搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍
鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升
觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像
采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺結(jié)構(gòu)以及樣品桿
支持高立體角EDX*的對稱配置(對稱Dual SDD*)
采用全新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋
配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿
以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ),,進(jìn)行優(yōu)化,,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
此外,,還更新了鏡體,,電源系統(tǒng)和樣品臺,以支持觀察亞?圖像,,并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性,,然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭,,而且自動(dòng)像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正,,從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用,。
支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器,,以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析,。
由于第二檢測器位于**檢測器的對面位置,因此,,幾乎不會(huì)因?yàn)闃悠穬A斜,,導(dǎo)致X射線中的信號檢測量發(fā)生變化。所以,,即使是結(jié)晶性樣品,,也不用顧忌信號量,,可完全按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。
此外,,對于電子束敏感樣品,、低X光輻射量的樣品,除了原子列映射,,在低倍,、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有效。
配有標(biāo)配二次電子檢測器,,可同時(shí)觀察像差校正SEM/STEM圖像,。通過同時(shí)觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),可以掌握樣品的三維構(gòu)造,。
在像差校正SEM圖像中,,除了可以通過校正球差來提高分辨率之外,還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像,。
暫無數(shù)據(jù),!