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一、熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View)簡(jiǎn)介
作為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng),,這是全球首創(chuàng)將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的**結(jié)合,,融合了智能算法的先進(jìn)技術(shù)。能夠同時(shí)獲取樣品圖像和光譜信息,。
新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計(jì)的樣品倉(cāng)內(nèi),。入射光經(jīng)過(guò)積分球漫反射后均勻照射到樣品,,利用熒光光度計(jì)標(biāo)配的熒光檢測(cè)器可以獲得樣品熒光光譜,積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像,,并利用獨(dú)特的AI光譜圖像處理算法,,可以同時(shí)得到反射和熒光成分圖像,。
二,、 熒光分布成像系統(tǒng)特點(diǎn):
在不同光源條件下(白光和單色光)拍攝樣品圖像,,(區(qū)域:Φ20mm,、空間分辨率:0.1 mm左右、波長(zhǎng)范圍:360-700nm),,同時(shí)利用先進(jìn)的光譜算法,,分別顯示熒光圖像和反射圖像, 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息(熒光光譜,、反射光譜)
熒光分布成像系統(tǒng)軟件分析(EEM View Analysis)界面(樣品:LED電路板)
樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡(jiǎn)單,!
豐富的樣品支架
支持精確測(cè)量的校正工具
熒光分布成像系統(tǒng)是一種全新的技術(shù),,將它配置到熒光分光光度計(jì)中,改變了常規(guī)熒光光度計(jì)只能獲得樣品表面區(qū)域平均化信息的現(xiàn)狀,,可以查看樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息,,十分適合涂料、材料,、油墨,、LED、化工等領(lǐng)域,。
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