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Semiconsoft MProbe薄膜測厚儀
Semiconsoft MProbe薄膜測厚儀

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型號

品牌

產(chǎn)地

美國

樣本

暫無
廣州市固潤光電科技有限公司

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第2年

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Semiconsoft MProbe薄膜測厚儀

M p r o b e 讓 你 成 為 測 量 專 家 !

大部分半透明的或具有輕微吸收性的薄膜能夠被快速,、可靠的測量:

氧化物、氮化物,、感光耐蝕膜,、聚合物、半導(dǎo)體(Si, aSi,,polySi)、半導(dǎo)體化合物(AlGaAs,,InGaAs,,CdTe,CIGS),、硬涂層(SiC,, DLC), 聚合物涂料 (Paralene,, 聚甲基丙烯酸甲酯,, 聚酰胺), 薄金屬薄膜等,。

厚度范圍: 1 nm-1 mm

波長范圍: 200nm -5000nm

在薄膜太陽能電池中的應(yīng)用:

aSi,, TCO, CIGS,, CdS,, CdTe-全太陽能堆棧測量

LCD, FPD應(yīng)用:

ITO,, 細(xì)胞間隙,,聚酰胺。

光學(xué)涂層:

介質(zhì)濾波器,,硬涂層,,防反射涂層半導(dǎo)體和電解質(zhì): 氧化物,氮化物,, OLED堆,。

實時測量和分析。各種多層次的,, 高強(qiáng)度的,,厚的, 獨立和不均勻的層 ,。

豐富的材料庫 (500多種材料) – 新材料容易增添,。

支持參數(shù)化材料:

Cauchy, Tauc-Lorentz,, Cody-Lorentz,, EMA 等?

使用靈活:

可聯(lián)網(wǎng)在操作臺桌面或現(xiàn)場進(jìn)行研究與開發(fā)。用TCP或Modbus接口能容易的和外部系統(tǒng)連接,。

測量參數(shù):

厚度,、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度。

界面友好強(qiáng)大:

測量和分析設(shè)置簡單,。背景和縮放修正,,連接層和材料。

離線數(shù)據(jù)分析:

仿真和靈敏度分析,,多樣品測量,,生產(chǎn)批量處理。

MProbe系統(tǒng)示意圖

精度0.01nm or 0.01%
精確度0.2% or 1 nm
穩(wěn)定性0.02nm or 0.03%
光斑尺寸標(biāo)準(zhǔn)為 3mm ,, 可以小到 3μm
樣本大小從 1mm 起

主要參數(shù)

模型波長范圍光譜儀探測器/檢測器/光源厚度范圍 *
VIS 400-1100 nm分光儀 F4/Si 3600像素點/

鎢-鹵素光源

15 nm to 20 mm

(option:up to 50 mm)

UVVisSR200-1100 nm分光儀 F4/ Si CCD 3600

像素點/氘-鎢鹵組合式光源

3 nm to 20 mm

(option:up to 50 mm)

HRVIS700-1000 nmHR分光儀F4/Si 3600 像素點/

鎢-鹵素光源

1 mm to 400 mm
NIR900-1700nm傳輸光譜儀(TVG)

F2/512 InGaAs/鎢-鹵素光源

100 nm-200 mm
VISNIR400-1700 nm分光儀 F4 Si CCD 3600 像素點

(Vischannel),;傳輸光譜儀(TVG)

F2/512 InGaAs

PDA( NIR channel) 鎢-鹵素光源

15 nm to 200 mm
UVVISNIR200 -1700 nm分光儀F4 Si CCD 3600

像素點(Vis頻道);傳輸

氘-鎢鹵組合式光源

3 nm -200 mm
NIRScan900nm -5000nm掃描分光計/InGaAs/

MCT 探測器 (掃描時間 <60 秒 )

TH-SiN光源

100 nm -800 mm
XTXT 1590nm -1650nm傳輸光譜儀 (TVG)

F2/512 InGaAs/鎢 -鹵素光源

10 mm- 1 mm

* T, n & k 測量的厚度范圍為25nm – 5um

其他配置也是可以做到,,歡迎原始設(shè)備制造商咨詢和定制開發(fā)項目,。

對所有系統(tǒng)中的配件有一年的質(zhì)量保證。

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

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