簡 介: • 通用
• 高度精密
• 快速
• 穩(wěn)健可靠
白光干涉法是一個確定地形和表面光滑粗糙的方法,。測量精度可達(dá)到近似納米理論上無限的高度范圍,。這款白光干涉儀能夠用來測量和分析樣本的納米分辨率。數(shù)據(jù)分析是在筆記本或桌面電腦原位上做的,。 這款白光干涉儀有全功能設(shè)置,,因而可以用在許多不同的情況使用。機(jī)動xy-stage結(jié)合自動拼接程序因而能測量大面積,。主要應(yīng)用包括在質(zhì)量管理和過程控制的使用,。這款白光干涉儀通過其快速、準(zhǔn)確的檢測,,提供**條件產(chǎn)生有意義的尺度來確保產(chǎn)品和流程的質(zhì)量,。
延伸款白光干涉儀技術(shù)參數(shù)
• 花崗巖臺和花崗巖柱
• 手控臺XY(226 x232mm ,可移位范圍76 x52mm )
• 延伸款白光干涉儀的探測頭配有物鏡轉(zhuǎn)換器
• PC with MS Windows 7,,NVIDIA GPU數(shù)據(jù)處理超快
• smartWLl軟件的縫合模塊可以用來測量地形
• MountainsMap Image Topogrdpy
先進(jìn)的表面分析與視覺測量報告
采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Mountains Technology,,MountainsMap Imaging Topography是一流的實驗室、研究機(jī)構(gòu)和工業(yè)設(shè)施的設(shè)計以解決,、設(shè)計,、測試或制造功能方案。
該軟件提供了一個全面的解決方案以進(jìn)行觀察和分析表面紋理和幾何,,以及產(chǎn)生詳細(xì)的視覺表面計量報告
測量系統(tǒng) |
測量原理 | 白光干涉法 |
Z-定位系統(tǒng) | Piezo物鏡調(diào)整系統(tǒng) |
高度測量范圍 | **到400um |
物鏡放大 測量領(lǐng)域 橫向*小可溶解的間隔 | 2.5x,,5x,10x,,20x,,50x,100x 4.12x3.06mm to 0.103x0.075mm 10.54um or 0.55um |
光源 | LED |
測量時間 | < 20 sec. |
軟件 |
smartWLI | 軟件用于測量地形和使用一個直接接口到MountainsMap分析軟件輸出的3D數(shù)據(jù) |
MountainsMap | 廣泛的分析軟件以及輪廓和三維可視化,、測量數(shù)據(jù)預(yù)處理和后處理 DIN EN ISO粗糙度和高度的含量測定,,順序處理,測量記錄 |
File formats | ASCII,, SUR,, BCR-STM, BMP,, JPEG,, TIFF |