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瑞士CSM 納米壓痕測試儀(NHT2)
完全符合 ISO 與 ASTM 國際標準
儀器簡介:
CSM NHT2 (NHT第二代)納米壓痕測試儀采用了UNHT(CSM超納米壓痕儀)的先進技術(shù),,其靈敏度及噪音水平和穩(wěn)定性得以顯著提高,。采用先進的top reference(表面參比測試技術(shù))設(shè)計, NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)(thermal drift)降低到了0.02nm/s的水平,??蛻舨恍枰浖M近似扣除即可獲得可靠、穩(wěn)定的數(shù)據(jù),也不需要長期甚至隔夜的穩(wěn)定時間,,對實驗室的環(huán)境要求大為降低,。
儀器應(yīng)用:
NHT2 納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度,、蠕變,、彈性功、塑性功,、斷裂韌性,、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞,、存儲模量及損耗模量等特性,。可適用于有機或無機,、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析,,包括PVD、CVD,、PECVD薄膜,,感光薄膜,彩繪釉漆,,光學(xué)薄膜,,微電子鍍膜,保護性薄膜,,裝飾性薄膜等等,。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料,,包括金屬,、合金,、半導(dǎo)體,、玻璃、礦物和有機材料等,。
主要特點:
獨特的參比環(huán)設(shè)計-實時消除大部分熱漂移
帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)
靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣(無需用膠粘結(jié)試樣)
高質(zhì)量金相顯微鏡觀測系統(tǒng)
計算機軟件包,,自動進行數(shù)據(jù)獲取、儲存,、分析等
豐富,、靈活的擴展空間
技術(shù)參數(shù):
載荷范圍:0-500mN
載荷分辨率:40nN
**壓入深度:200um
位移分辨率: 0.004nm
選件:
其它力學(xué)測試模塊(如微納米劃痕、超納米壓痕等)
真空及環(huán)境(溫度,、濕度)控制
原子力顯微鏡成像系統(tǒng)
環(huán)境隔離罩
暫無數(shù)據(jù),!