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低溫綜合物性測量系統(tǒng) CPMS-4
電學(xué)性能:電導(dǎo)率/電阻率,、熱電勢率/塞貝克系數(shù)
熱學(xué)性能:熱導(dǎo)率,、熱膨脹系數(shù)、比熱等
溫度范圍:4K-300K(-269℃—室溫)
低溫技術(shù):低溫制冷機(jī)作冷源,,無需消耗液氮/液氦
應(yīng)用領(lǐng)域:低溫?zé)犭姴牧?、超?dǎo)材料、低溫負(fù)熱膨脹/零膨脹等功能材料及其它固體材料低溫物性研究
概 述:
本系統(tǒng)采用低溫制冷機(jī)作冷源,,無需使用液氮/液氦,實(shí)現(xiàn)固體材料低溫區(qū)(4K-300K; -269℃—室溫)的電學(xué)性能(電導(dǎo)率/電阻率,,熱電勢率/塞貝克Seebeck系數(shù))和熱學(xué)性能(熱導(dǎo)率,、熱膨脹系數(shù)、比熱等)測量,。
系統(tǒng)設(shè)計(jì)思想
在一個(gè)以單臺或多臺制冷機(jī)為冷源的低溫平臺上,,集成全自動(dòng)的電學(xué)和熱學(xué)物性測量手段。使得整個(gè)系統(tǒng)的低溫環(huán)境得到充分利用,、極大減少了客戶購買儀器的成本,、避免實(shí)驗(yàn)的繁瑣和誤差。低溫平臺與測量平臺分離設(shè)計(jì),,測試樣品更換過程變得快捷,、方便。
基本系統(tǒng)
硬件結(jié)構(gòu)包括:樣品架組件,、插入管組件,、真空絕熱系統(tǒng)、制冷機(jī),、減震傳熱部件,、控溫部件、干式泵,、氦氣罐,、測控儀表和數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)等?;鞠到y(tǒng)平臺提供低溫環(huán)境,,以及測量相關(guān)的軟硬件控制中心。
樣品室
樣品室連接在樣品架組件上,,通過可拆卸方式安裝不同物性測量樣品臺,。測量時(shí)樣品室處于密封的真空狀態(tài),樣品冷卻過程是通過減震傳熱部件把制冷機(jī)冷量傳遞給樣品架組件,,再通過測試平臺把冷量傳遞給樣品,,使樣品降溫,。樣品測量采用樣品托的方式。
溫度控制
采用制冷機(jī)直接冷卻樣品的方式,,通過減震傳熱部件既減少制冷機(jī)的輕微震動(dòng)可能帶來的影響,,又保證了樣品能夠快速冷卻。通過獨(dú)特的設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)連續(xù)快速精準(zhǔn)溫度控制,。溫控范圍:4.0K-300K連續(xù)控溫,;溫度穩(wěn)定性:±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。
技術(shù)參數(shù)
熱導(dǎo)率測量單元
測量范圍: | 0.1 W/ m·K~600 W/m·K |
測量精度: | 優(yōu)于5% |
樣品尺寸: | 正方體:4×4,、6×6,、8×8、10×10 mm×2~15mm 圓柱體:Φ4~10 mm×2~15mm |
電導(dǎo)率 (電阻率)測量單元
測量范圍: | 10 μS/m~10 S/m |
測量精度: | 優(yōu)于1% |
樣品尺寸: | 長:4~20mm,;寬:1~3mm,;高:1~3mm |
熱電勢率(Seebeck系數(shù))測量單元
測量范圍: | 1μV/K~1V/K |
測量精度: | 優(yōu)于6% |
樣品尺寸: | 長:5~20 mm;寬:2~3 mm,;高:2~3 mm |
熱膨脹系數(shù)測量單元
測量范圍: | -100~100 E-6/K |
測量精度: | 優(yōu)于5% |
樣品尺寸: | 長:8~15 mm,;寬:5~15mm;高:1~5 mm 圓柱體:Φ8~15 mm×2~15mm |
比熱測量單元
測量精度: | 優(yōu)于5% |
樣品尺寸: | 0.3g-10g |
暫無數(shù)據(jù),!