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帶電粒子探測器ULTRA
1 帶電粒子的測量與探測器的基本類型
ORTEC帶電粒子硅探測器主要有金硅面壘和離子注入兩種工藝,，其耗盡層厚度從10微米到幾個(gè)毫米厚不等。而根據(jù)其幾何形狀與是否全耗盡又有諸多類型,。選擇合適的帶電粒子探測器,，除應(yīng)用本身外,，在探測器上應(yīng)從耗盡層厚度、結(jié)電容,、漏電流,、電子噪聲,、能量分辨率等性能指標(biāo)上綜合權(quán)衡。
用于alpha能譜測量的ULTRA和ULTRA-AS探測器采用了表面鈍化和離子注入工藝（即PIPS探測器）,，該工藝的探測器有諸多優(yōu)點(diǎn)：接觸極更薄，更堅(jiān)固,；低噪聲,，對Alpha能譜分辨率好；使用邊緣鈍化技術(shù),，可以使樣品離探測器入射窗小到1毫米,。而一般的面壘型探測器*小只能達(dá)到2.5毫米,。所以該類型探測器的效率要更高；常溫使用,，探測器窗可擦拭,。
Ultra-AS針對Ultra的區(qū)別或改進(jìn)是采用了進(jìn)一步低本底的材料，以專適于在ORTEC Alpha Suite譜儀,。
ULTRA-CAM系列則是針對氣溶膠連續(xù)監(jiān)測設(shè)計(jì),，探測器具有特殊密閉和抗潮性能,。
Beta能譜測量的難處在于常溫狀態(tài)下由硅探測器很難獲得良好的分辨率。ORTEC提供以下兩種解決方案：1,，Beta-X Si（Li）一體化探測器（包含探頭,，冷指前放）；2,，A和L系列可制冷的厚硅探測器,。
帶電粒子探測器在核物理實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用有諸多方面,，ORTEC在其探測器類型上都有相應(yīng)的側(cè)重。比如重離子由于其高度電離和短徑跡特性,，需要探測器在前接觸級具有強(qiáng)電場，適用的F系列探測器在前接觸級的場強(qiáng)為20,，000V/cm,。而對帶電粒子的時(shí)間譜測量，需要用ULTRA系列或能承受超電壓的強(qiáng)場局部耗盡探測器,。
探測器的種類如下：（詳細(xì)資料致電我公司）
ULTRA與ULTRA-AS系列離子注入硅探測器
A系列局部耗盡金硅面壘探測器
B系列全耗盡金硅面壘探測器
C系列環(huán)形局部耗盡金硅面壘探測器
D系列平面全耗盡金硅面壘探測器
F系列局部耗盡重離子金硅面壘探測器
L系列鋰漂移硅（室溫）探測器
暫無數(shù)據(jù),！
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