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*近,,德國(guó)LEICA推出了新一代薄膜測(cè)厚儀DRM1000以應(yīng)對(duì)微電子,,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的新高潮。該膜厚儀的先進(jìn)性在于:
--*小光斑可達(dá)1微米
--既使用顯微光譜反射法又能使用白光干涉法進(jìn)行測(cè)量半導(dǎo)體薄膜厚度
--德國(guó)LEICA頂尖的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)
--自動(dòng)建模和海量光譜數(shù)據(jù)
德國(guó)LEICA DRM1000 顯微光譜薄膜測(cè)厚儀是對(duì)薄膜的反射光譜的干涉圖樣進(jìn)行分析來(lái)進(jìn)行膜厚測(cè)量,,*小測(cè)量光斑可達(dá)1微米,。該系統(tǒng)由德國(guó)LEICA DM4M,DM6M等顯微鏡和膜厚測(cè)量模塊組成,,由于它的快速運(yùn)算,使得它可高重復(fù)率進(jìn)行膜厚的光學(xué)測(cè)量以及對(duì)膜的相關(guān)計(jì)算,。另外,,它的新型自動(dòng)建模功能:可為待測(cè)的樣品與光譜庫(kù)里的數(shù)據(jù)快速的比較,來(lái)自動(dòng)建模,。是真正適合半導(dǎo)體,,液晶等微電子行業(yè)進(jìn)行在線膜厚檢測(cè)新型高端儀器。
LEICA DRM1000膜厚儀還可使用白光干涉和雙光干涉進(jìn)行膜厚測(cè)量,。技術(shù)參數(shù):
測(cè)量方法:非接觸式
測(cè)量原理:反射光譜法
測(cè)量樣本大?。?*為12 inch -300mm
測(cè)量范圍:500?~ 20?(Depends on Film Type) 選配干涉測(cè)量模塊時(shí)*小30?光斑尺寸:*小可達(dá)1微米
測(cè)量速度:300ms
準(zhǔn)確性: 1nm (典型:400nm Sio2/Si)
精確度:0.3nm (典型:400nm Sio2/Si)
光譜范圍: 450 – 920nm應(yīng)用領(lǐng)域:
半導(dǎo)體: Poly-Si, GaAs,, GaN,, InP, ZnS + Si,, Ge,, SiGe...電解質(zhì): SiO2, TiO2,, TaO5,, ITO,, ZrO2, Si3N4,, Photoresist,, ARC,...平板行業(yè):(包括 LCD,, PDP,, OLED, ): a-Si,, n+-a-Si,, Gate-SiNx MgO, Alq,, ITO,, PR, CuPc,, NPB,, PVK, PAF,, PEDT-PSS,, Oxide, Polyimide...光學(xué)涂層:: 減反射膜,, Color Filters...太陽(yáng)能電池 Doping a-Si(i-type,, n-type, p-type),, TCO(ZnO,, SnO, ITO..)聚合物: PVA,, PET,, PP, Dye,, Npp,, MNA, TAC,, PR... Recordable materials: Photosensitive drum,, Video head, Photo masks,, Optical disk
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