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電鏡腔等離子清潔儀(遠(yuǎn)程等離子清潔儀)
美國(guó)PIE出品的EM-KLEEN型遠(yuǎn)程等離子清潔儀,,廣泛用于SEM掃描電鏡,,F(xiàn)IB聚焦離子束雙束電鏡,TEM透射電鏡,,XPS_X射線光電子能譜分析儀,,ALD原子層沉積系統(tǒng),CD-SEM,, EBR,, EBI, EUVL和其它高真空系統(tǒng),,可同時(shí)清潔真空腔室和樣品,!
污染物對(duì)電子顯微鏡SEM/TEM和其它高真空系統(tǒng)產(chǎn)生的影響
潤(rùn)滑劑,、真空脂、泵油樣品中的高分子聚合物,,或未經(jīng)處理的空氣都會(huì)把碳?xì)湮廴疚镆秸婵障到y(tǒng)中,。低蒸汽壓下高分子重污染物會(huì)凝聚在樣品表面和腔室壁上,而使用普通氣體吹掃方法很難把碳?xì)湮廴疚锴宄?/span>
電子和高能光子(EUV,, X-ray)能夠分解存在于真空系統(tǒng)中或樣品上的碳?xì)湮廴疚?。碳?xì)浠衔锏姆纸猱a(chǎn)物沉積在被觀測(cè)的樣品表面或電子光學(xué)部件上。這種碳?xì)湮廴境练e會(huì)降低EUV的鏡面反射率,,降低SEM圖像對(duì)比度和分辨率,,造成錯(cuò)誤的表面分析結(jié)果,沉積在光闌或其它電子組件的不導(dǎo)電碳?xì)湮廴疚锷踔習(xí)斐呻娮邮恢没蚓劢咕徛?。?/span>ALD系統(tǒng)中,,樣品表面的碳?xì)湮廴疚镞€會(huì)降低薄膜的界面匹配質(zhì)量。
遠(yuǎn)程等離子清潔的原理
遠(yuǎn)程等離子源需安裝在要被清潔的真空腔室上,,控制器向遠(yuǎn)程離子源提供射頻能量,。射頻電磁場(chǎng)能激發(fā)等離子體,分解輸入氣體而產(chǎn)生氧或氫的活性基,,活性基會(huì)擴(kuò)散到下游的真空腔室,,并與其中的污染物發(fā)生化學(xué)反應(yīng),反應(yīng)產(chǎn)物能輕易地被抽走,。遠(yuǎn)程等離子清洗機(jī)可同時(shí)清潔真空系統(tǒng)和樣品,。
技術(shù)特點(diǎn):
快速清潔被污染的SEM樣品。2-60秒氫等離子體清潔ALD樣品,。不需減速或關(guān)閉渦輪分子泵
低等離子偏壓設(shè)計(jì)減少離子濺射和顆粒生成,。結(jié)合自有**多級(jí)氣體過(guò)濾技術(shù),SEMI-KLEEN能夠滿足用戶*苛刻的顆粒污染清除要求
可選藍(lán)寶石管腔體和耐腐蝕性氣體的流量控制器,,以便支持CF4,, NF3, NH3,, HF,, H2S等應(yīng)用
特有的等離子強(qiáng)度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)等離子狀態(tài),用戶對(duì)等離子狀態(tài)一目了然
基于壓力傳感回饋控制的自動(dòng)電子流量控制器,,無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)針閥
直觀的觸摸屏操作,,可定義60條清洗程序方案
擁有智能安全操作模式和專家控制模式;SmartScheduleTM定時(shí)裝置,,通過(guò)檢測(cè)樣品裝載次數(shù)或時(shí)間間隔來(lái)定時(shí)清潔系統(tǒng)
低電磁干擾設(shè)計(jì),,安靜的待機(jī)模式
除了EM-KLEEN型遠(yuǎn)程等離子清潔儀之外,另有SEMI-KLEEN quartz型和SEMI-KLEEN sapphire型遠(yuǎn)程等離子清潔儀可供選購(gòu),,三款主要應(yīng)用范圍如下:
EM-KLEEN:SEM,, FIB,, TEM, XPS,, SIMS,, AES
SEMI-KLEEN quartz:SEM, FIB,, TEM,, CD-SEM, EBR,, EBI,, XPS, SIMS,, AES
SEMI-KLEEN sapphire:ALD, EUVL,, for NF3,, CF4, NH3,, H2,, HF, H2S plasma
請(qǐng)根據(jù)您需要的應(yīng)用選擇合適的型號(hào)和配置,。
暫無(wú)數(shù)據(jù),!