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低溫強磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡
- attoAFM/attoMFM/attoSHPM系統(tǒng)
納米尺度下的磁學(xué)圖像對于研究磁性材料和超導(dǎo)樣品是非常重要的,,利用attocube公司attoAFM/attoMFM/atoSHPM系統(tǒng),,科學(xué)家可以在無以倫比的空間分辨率(20nm)和磁場敏感性下分析樣品磁性,工作溫度從極低溫,、強磁場到室溫,。
attoAFM/attoMFM/attoSHPM采用模塊化的設(shè)計。利用標配的控制器和樣品掃描臺,,用戶僅需要更換掃描頭和對應(yīng)的光學(xué)部件即可實現(xiàn)不同功能之間的切換,。
低溫強磁場磁力顯微鏡 - attoMFM I系統(tǒng)
attoMFM I采用緊湊設(shè)計,其主要用于低溫和極低溫環(huán)境中,。在掃描時,,探針是固定的,而進行樣品掃描,。樣品與探針之間的磁力梯度由光纖干涉的模式,,通過測量共振頻率或相位變化而確定。
在實驗過程中,,樣品和探針保持一定的距離,,典型值為10-100nm。工作在共振頻率模式時,,PLL用于激發(fā)微懸臂,,進行閉環(huán)掃描,實現(xiàn)極高的空間分辨率(10.7nm,,如下圖),。
attoMFM I特點與技術(shù)優(yōu)勢
+ 工作模式:MFM、接觸式/半接觸式/非接觸模式AFM,、導(dǎo)電AFM、EFM
+ 可升級到SHPM,、共聚焦顯微鏡,、SNOM和STM
+ 5X5X5mm粗定位范圍,4K
+ 30umX30um掃描范圍,,4K
+ MFM極高空間分辨率:好于11nm
+ 變溫范圍:mK - 373K
+ 兼容強磁場:可達15Tesla
+ 兼容1"和2"孔徑的磁體與恒溫器,,如Quantum Design-PPMS系統(tǒng)
+ 極其緊湊和可靠MFM掃描頭設(shè)計
+ 閉環(huán)式掃描模式
+ 外置CCD,用于檢測低溫環(huán)境中樣品的位置
+ 用于超導(dǎo)體的vortex分布與定扎測量
+ 磁性顆粒的局域場測量
+ 磁化率和磁滯回線測量
+ 超導(dǎo),、磁疇,、材料科學(xué)研究
attoMFM I技術(shù)參數(shù)
+ 樣品定位范圍:5 X 5 X 5mm,4K
+ 樣品位移步長:0.05 -3um @ 300K,, 10 -500nm @ 4K
+ 掃描范圍:40X40 um @300K,;30X30 um @4K
+ 磁場強度: 0 -15Tesla (取決于磁體)
+ 變溫范圍:mK - 300K (取決于恒溫器)
+ 工作真空環(huán)境:1X10-6mbar - 1bar(He交換氣氛)
+ MFM側(cè)向分辨率:好于20nm
+ RMS z-noise水平(4K):0.05nm
+ z bit分辨率(全范圍內(nèi)):7.6pm
+ z bit分辨率(掃描范圍內(nèi)):0.12pm
低溫強磁場掃描霍爾顯微鏡- attoSHPM系統(tǒng)
attoSHPM采用緊湊設(shè)計,其主要用于低溫和極低溫環(huán)境中,。其探針是采用MBE生長的GaAs/AlGaAs霍爾傳感器,。局域測量通過霍爾探針在樣品表面進行掃描而實現(xiàn),,將測得的霍爾電壓進行轉(zhuǎn)換,即可計算出局域磁場強度,。
attoSHPM特點與技術(shù)優(yōu)勢
+ 可升級到MFM,、接觸式/半接觸式/非接觸模式AFM、導(dǎo)電AFM,、EFM,、共聚焦顯微鏡、SNOM和STM
+ 5X5X5mm粗定位范圍,,4K
+ 30umX30um掃描范圍,,4K
+ 變溫范圍:mK - 373K
+ 兼容強磁場:可達15Tesla
+ 兼容1"和2"孔徑的磁體與恒溫器,如Quantum Design-PPMS系統(tǒng)
+ 極其緊湊和可靠SHPM掃描頭設(shè)計
+ 定量和非破壞性磁性測量,,mK溫度
+ 閉環(huán)式掃描模式
+ 用于超導(dǎo)體的vortex分布與定扎測量
+ 磁性顆粒的局域場測量
+ 磁化率和磁滯回線測量
+ 超導(dǎo),、磁疇、材料科學(xué)研究
attoSHPM技術(shù)參數(shù)
+ 利用STM原理/音叉模式探測樣品與探針之間的距離
+ 樣品定位范圍:5 X 5 X 5mm,,4K
+ 樣品位移步長:0.05 -3um @ 300K,, 10 -500nm @ 4K
+ 掃描范圍:40X40 um @300K;30X30 um @4K
+ 磁場強度: 0 -15Tesla (取決于磁體)
+ 變溫范圍:mK - 300K (取決于恒溫器)
+ 工作真空環(huán)境:1X10-6mbar - 1bar(He交換氣氛)
+ SHPM探針:MBE生長的GaAs/AlGaAs異質(zhì)結(jié)
+ 分辨率:250nm超高分辨
+ z bit分辨率,,300K :0.065nm,,4.3um掃描范圍
+ 側(cè)向(xy)bit分辨率,4K:0.18nm,,12um掃描范圍
+ z bit分辨率,,4K:0.030nm,2um掃描范圍
應(yīng)用案例:
PPMS-MFM vortex測量 | 高分辨磁疇測量 |
315mK下vortex測量 | 300mK下SHPM測量 |
AFM在脈沖管制冷機中使用 | 300mK-9T下AFM/STM測量 |
暫無數(shù)據(jù),!