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X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,，配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析,。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。其配備了高精度,、可編程運行的 X/Y 軸工作臺,，是全自動測量樣品的理想設備。

XDV-SDD設計為界面友好的臺式測量儀器,。它配備了高精度,、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅動的Z軸升降臺。當具有防護功能的測量門開啟時,，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置,。通過激光點，可以快速對準需要測量的位置,。儀器內置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng),，簡化了樣品放置的過程，并可對測量點位置進行精確微調,。

所有的儀器操作,，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成,。

XDV-SDD*多可同時測定從鋁（13）到鈾（92）中的24 種元素

測量門向上開啟的臺式儀器,，側面開槽設計

馬達驅動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺

馬達驅動,、可切換的準直器和基本濾片,。

儀器配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管,，三擋可調節(jié)高壓，6個可切換的基本濾片,。

可按要求,，提供額外的XDV 型產品更改和XDV 儀器技術咨詢