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憑借 DUALSCOPE^®FMP100 和 FMP150，F(xiàn)ISCHEER可提供高性能手持式測量儀器,，用于專業(yè)涂鍍層厚度測量中各種要求嚴苛的任務,。這些儀器配備觸摸屏和 Windows™ CE 操作系統(tǒng)，操作快速且直觀,。更大的系統(tǒng)內(nèi)存意味著您可以執(zhí)行數(shù)千個測量任務,。具有各種統(tǒng)計與分析功能,，可用于處理結(jié)果。

此外,，借助 DataCenter IP 檢查計劃軟件,，您可以編譯單個圖形計劃，以確保生產(chǎn)中的工作流程一致,，或使未經(jīng)培訓的用戶快速熟悉正確的測量程序,。

特性：

• 可更換的探頭可為各種測量任務提供靈活選擇

• 在高分辨率圖形觸摸屏上詳細展示測試方案與檢查計劃

• 使用 Windows™ CE 操作系統(tǒng)進行直觀的操作

• 通過磁感應法和電渦流法進行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測量

• 測量符合標準，具有適用于 IMO PSPC,、

  SSPCPA2,、QUALANOD 或 QUALICOAT 的特殊模式

應用：

• DUALSCOPE^®用于鋼、鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層,，無需更換儀器

• FMP150：非鐵磁性金屬或絕緣體上的鎳涂鍍層

• 非鐵磁性金屬,、鐵或鋼上的微米級涂鍍層

• 非鐵磁性制成的厚涂鍍層或鋼上的保護涂鍍層