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布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,，測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5Å,。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)**地位,。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量,，通過(guò)在研究工作中的廣泛使用，DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大,，操作更簡(jiǎn)易,，檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破,，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能,，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體,，電池,，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域,。
利用獨(dú)特的直接掃描平臺(tái)，DektakXT通過(guò)減少?gòu)牡玫皆紨?shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時(shí)間,，來(lái)提高掃描效率,。這一改進(jìn)，大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描的掃描速度,。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下,，可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,，DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64,，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數(shù)據(jù)分析處理效率,。Vision64還具有***直觀的用戶(hù)界面,，簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置，可以自動(dòng)完成多掃描模式,，使很多枯燥繁復(fù)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔,。
與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件,。Vision64提供了操作上*實(shí)用簡(jiǎn)潔的用戶(hù)界面，具備智能結(jié)構(gòu),，可視化的使用流程,，以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿(mǎn)足用戶(hù)的各種使用要求，快速簡(jiǎn)便的實(shí)現(xiàn)各種類(lèi)型數(shù)據(jù)的采集和分析,。
DektakXT 技術(shù)參數(shù)
—單傳感器設(shè)計(jì)提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍
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