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布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué),、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng),,利用SEM的高分辨率,可以直接觀測整個(gè)材料動(dòng)態(tài)變化的過程,。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化,,中間過程無法觀察到,載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋,,甚至單從曲線分析會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的解釋,。
PI 85L安裝于電鏡,可以精確施加載荷,,檢測位移,,在電鏡下做壓痕、拉伸,、彎曲,、壓縮、加熱、電學(xué)和劃痕測試,,可以借助電鏡的高分辨率,,觀測并記錄整個(gè)材料測試過程,觀測材料在力下發(fā)生的動(dòng)態(tài)變化,,如金屬蠕變,、相變、斷裂起始等,。
PI 85L采用Hysitron**技術(shù)三板電容傳感器,,具備載荷和位移同時(shí)監(jiān)測和驅(qū)動(dòng)的獨(dú)特功能。具備業(yè)界**的精度,,重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn),。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇,如動(dòng)態(tài)力學(xué)測試,、MEMS加熱,、拉伸測試、電學(xué)測試,、納米劃痕等功能模塊,。
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