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拉曼-掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)使您能夠在單一系統(tǒng)內(nèi)全面地原位表征樣品性能。雷尼紹結(jié)構(gòu)與化學(xué)成分分析儀(SCA)接口使掃描電鏡(SEM)具有了inVia的拉曼分析能力,。
inVia和SCA接口提供了一種SEM內(nèi)的分析技術(shù),,既補(bǔ)充了以光學(xué)顯微鏡為基礎(chǔ)的拉曼光譜,又克服了X射線能量散射譜(EDS)作為傳統(tǒng)SEM內(nèi)的分析技術(shù)的局限性,。采用雷尼紹SEM-拉曼聯(lián)用系統(tǒng),您將受益于定位共同點(diǎn)的形貌,、元素,、化學(xué)、物理和電子分析,。
聯(lián)用系統(tǒng)優(yōu)勢(shì):
原位測(cè)量,。無(wú)需在不同儀器之間移動(dòng)樣品,節(jié)約時(shí)間,,保證正確的分析區(qū)域,。
inVia和SEM可同時(shí)作為獨(dú)立系統(tǒng)使用,而不會(huì)影響兩者的任何性能,。
得到豐富的樣品信息,。使用SEM記錄樣品的高分辨圖像,并進(jìn)行元素分析,。增加拉曼分析樣品化學(xué)信息的能力,,以識(shí)別材料和非金屬化合物。
還可進(jìn)行光致發(fā)光(PL)和陰極射線發(fā)光(CL)光譜測(cè)試,。
雷尼紹SCA接口具有非常高的普適性,,可以配備到您現(xiàn)有的SEM上,基本不需要對(duì)SEM進(jìn)行改裝,。SCA可以安裝到所有主要供應(yīng)商提供的SEM上,,包括:
Zeiss
FEI
TESCAN
JEOL
Hitachi
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