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您可以將inVia拉曼的能力與掃描探針顯微鏡（SPM和AFM）聯用，在納米尺度上研究材料的組成,、結構和特性,。

聯用系統(tǒng)優(yōu)勢：

1. 原位測量。無需在不同儀器之間移動樣品,，節(jié)約時間,，保證正確的分析區(qū)域。

2. inVia和SPM/AFM可同時作為獨立系統(tǒng)使用,，而不會影響兩者的任何性能,。

3. 得到豐富的樣品信息。使用AFM記錄樣品的形貌及相關物理特性,。增加拉曼分析樣品化學信息的能力,，以識別材料和非金屬化合物。

4. 可實現針尖增強拉曼測量（TERS）,，獲得納米尺度的化學信息,。

選擇**的系統(tǒng)：

雷尼紹特殊設計的靈活的耦合臂可以用于將inVia與SPM或AFM光學整合,。inVia具有極大的靈活性,，能夠將其直接耦合到如下供應商的各種AFM和SPM上：

• Bruker Nano Surfaces

• Nanonics

• NT-MDT

• JPK

• Park