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◆PLMapping測量
◆多種激光器可選
◆Mapping掃描速度:優(yōu)于20點(diǎn)/秒
◆空間分辨率:10um(物鏡),,50um(透鏡)
◆光譜分辨率:0.1nm@1200g/mm
◆Mapping結(jié)果以3D方式顯示
◆**8吋的樣品測量
◆晶片精確定位
◆樣品真空吸附
◆可做低溫測量
◆膜厚測量
測試原理:
PL是一種輻射復(fù)合效應(yīng),。在一定波長光源的激發(fā)下,電子吸收激發(fā)光子的能量,,向高能級躍遷而處于激發(fā)態(tài),。激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的狀態(tài),會以輻射復(fù)合的形式發(fā)射光子向低能級躍遷,,這種被發(fā)射的光稱為熒光,。熒光光譜代表了半導(dǎo)體材料內(nèi)部,一定的電子能級躍遷的機(jī)制,,也反映了材料的性能及其缺陷,。
操作簡便、全電腦控制
PMEye-3000系列PL Mapping測量儀,,是一款適合于半導(dǎo)體晶片和LED外延片科研,、生產(chǎn)和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)的儀器;采用整機(jī)設(shè)計,,用戶只需要根據(jù)需要放置合適的檢測樣品,,無需進(jìn)行復(fù)雜的光路調(diào)整,操作簡便,;所有控制操作均通過計算機(jī)來控制實現(xiàn),。
全新的樣品臺設(shè)計,采用真空吸附方式對樣品進(jìn)行固定,,防止對樣品的損傷,;可對常規(guī)尺寸的晶圓樣品進(jìn)行精確定位,提高測量重復(fù)性,。
系統(tǒng)采用直流和交流兩種測量模式,,直流模式用于常規(guī)檢測,交流模式用于微弱熒光檢測,。
熒光測量
一般的PL測量儀只是測量熒光的波長和強(qiáng)度,。PMEye-3000系列增加對激光強(qiáng)度的監(jiān)控,,并根據(jù)監(jiān)控結(jié)果來對熒光測量進(jìn)行校正。這樣就可以消除激發(fā)光源的不穩(wěn)定帶來的測量誤差,,也使測量結(jié)果有可比性,。
Mapping功能
PMEye-3000系列配置200X200mm的X-Y電控位移臺,**可測量8英寸的晶圓樣品,。用戶可以根據(jù)不同的樣品規(guī)格來設(shè)置掃描區(qū)域及空間分辨率,掃描速度優(yōu)于每秒20個點(diǎn),,空間分辨率可達(dá)10um(物鏡),,50um(透鏡)。掃描結(jié)果以3D方式顯示,,以不同的顏色來表示不同的熒光強(qiáng)度,。
激光器
PMEye-3000系列有多種高穩(wěn)定性的激光器可選,系統(tǒng)*多可內(nèi)置2個激光器和一個外接激光器,,標(biāo)配為1個激光器,。用戶可以根據(jù)測量對象來配置不同的激光器,使PL檢測更加靈活,。
PMEye-3000系列可內(nèi)置的激光器波長有:266nm,,405nm,442nm,,532nm,、785nm等,外置激光器波長有:325nm,,632.8nm等,。
功能強(qiáng)大的軟件
我們具有多年的測量儀器操作軟件的開發(fā)經(jīng)驗,熟悉用戶的操作習(xí)慣,,這使我們開發(fā)的這套PMEye-3000系列操作軟件功能強(qiáng)大且操作簡便,。
PMEye-3000系列操作軟件提供單點(diǎn)PL光譜測量及顯示,單波長的X-Y Mapping測量及顯示,,mapping結(jié)果以3D方式顯示,。同時具有多種數(shù)據(jù)處理方式來對所測量的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。
低溫樣品室附件
該附件可實現(xiàn)樣品在低溫狀態(tài)下的熒光檢測,。
有些樣品在不同的溫度條件下,,將呈現(xiàn)不同的熒光效果,這時就需要對樣品進(jìn)行低溫制冷,。
如圖所示,,從圖中我們可以發(fā)現(xiàn)在室溫時,GaN薄膜的發(fā)光波長幾乎含蓋整個可見光范圍,,且強(qiáng)度的**峰出現(xiàn)在580nm附近,,但整體而言其強(qiáng)度并不強(qiáng),;隨著溫度的降低,發(fā)光強(qiáng)度開始慢慢的增加,,直到110K時,,我們可以發(fā)現(xiàn)在350nm附近似乎有一個小峰開始出現(xiàn),且當(dāng)溫度越降越低,,這個小峰強(qiáng)度的增加也越顯著,,一直到*低溫25K時,基本上就只有一個熒光峰,。
GaN薄膜的禁帶寬度在室溫時為3.40Ev,,換算成波長為365nm,而我們利用PL系統(tǒng)所測的GaN薄膜在25K時在356.6nm附近有一個峰值,,因此如果我們將GaN薄膜的禁帶寬度隨溫度變化情況也考慮進(jìn)去,,則可以發(fā)現(xiàn)在理論上25K時GaN的禁帶寬度為3.48eV,即特征波長為357.1nm,,非??拷鼘嶒炈玫?56.6nm,因此我們可以推斷這個發(fā)光現(xiàn)象應(yīng)該就是GaN薄膜的自發(fā)輻射,。
性能及功能
掃描模式 | 單波長mapping |
攝譜模式 | 峰值波長mapping,;給定波長范圍的積分 |
光源 | 405nm激光(標(biāo)配) 150W溴鎢燈(可選,用于膜厚測量) |
光源調(diào)制 | 斬波器 |
光譜儀 | 三光柵DSP掃描光譜儀 |
光譜儀焦距 | 500mm(標(biāo)配) |
波長準(zhǔn)確度 | ±0.2nm(1200g/mm,,300nm) ±0.6nm(600g/mm,,500nm) ±0.8nm(300g/mm,1250nm) |
探測器 | Si探測器,,波長范圍:200~1100nm (標(biāo)配) |
數(shù)據(jù)采集設(shè)備 | 帶前置放大器的數(shù)字采集器DCS300PA 鎖相放大器SR830 |
二維位移平臺 | 行程200*200mm,,重復(fù)定位精度<3μm |
樣品臺 | 具有真空吸附功能,對主流的3’’,,4’’,,5’’,6’’,,8’’的晶片可進(jìn)行精確定位 |
Mapping掃描速度 | 優(yōu)于20點(diǎn)/秒 |
Mapping位移步長 | *小可到1um |
空間分辨率 | 10um(物鏡方式),,50um(透鏡方式) |
重復(fù)定位精度 | <3μm |
探測器選擇
探測器類型 | 光譜響應(yīng)范圍 |
R1527光電倍增管 | 200~680nm |
CR131光電倍增管 | 200~900nm |
DSi300硅光電探測器 | 200~1100nm |
DInGaAs1700常溫型銦鎵砷探測器 | 800~1700nm |
DInGaAs1900制冷型銦鎵砷探測器 | 800~1900nm |
DinGaAs2200制冷型銦鎵砷探測器 | 800~2200nm |
DinGaAs2600制冷型銦鎵砷探測器 | 800~2600nm |
暫無數(shù)據(jù)!