參考價格
1-5萬元型號
普賽斯S100品牌
普賽斯儀表產(chǎn)地
武漢樣本
暫無重現(xiàn)性:
無儀器原理:
圖像分析分散方式:
數(shù)字測量時間:
s測量范圍:
±300uV-±300V/±100pA-±1A誤差率:
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MiniLED光電特性測試
MiniLED芯片在被封裝前后,,需要經(jīng)過檢測工序,以剔除其中的不合格品,。其中,,光電性能檢測是非常重要的指標(biāo)參數(shù)。光電性能檢測是指對晶圓上的芯片,,或者封裝后的成品,,對其電壓(V)、電流(I),,VFD,,波長(WD)、亮度(LOP),、抗靜電能力(ESD),,等光電性性能逐一進(jìn)行測試,得到實際數(shù)值,,進(jìn)而為后續(xù)加工生產(chǎn)提供可靠的產(chǎn)品實際性能信息,。由于Mini LED具有尺寸小,,使用數(shù)量大等特性,因此,,其光電特性測試也提出了新的要求,。
高精度微弱電流
由于MiniLED本身的特性,正向點亮測試時,,輸入電流較小,一般在mA,甚至uA級,;反向高壓漏電流測試,電流甚至低至nA級,。精確穩(wěn)定地輸出與測量電流,,是獲取準(zhǔn)確測試結(jié)果數(shù)據(jù)的先決條件,。
高效率
MiniLED生產(chǎn)工藝效率要求高,,預(yù)留給芯片的電性能測試時間,,一般控制在十幾ms以內(nèi),。高效快速的輸出與檢測電壓,、電流,,是提升生產(chǎn)效率的重要保證,。
廣泛兼容性
Mini LED測試,往往需采用自動化設(shè)備來進(jìn)行,且測試項目包含電壓,,電流等電特性參數(shù),,以及光譜,,光功率等光性能參數(shù),。廣泛的軟硬件兼容性,,有助于終端用戶,,根據(jù)實際測試要求,,選配不同測試儀器,以及自動化設(shè)備,。
利用數(shù)字源表進(jìn)行Mini LED光電特性測試
實施MiniLED光電特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表(SMU),。數(shù)字源表作為獨立的恒壓源或恒流源,輸出恒壓或恒流,、還可以當(dāng)作表,,進(jìn)行電壓或者電流測量;支持Trig觸發(fā),,可實現(xiàn)與光譜儀,,探針臺,分選機等第三方設(shè)備聯(lián)動工作,。
目前,,光電性能檢測是通過Mini LED點測機實現(xiàn)的,,用于測量晶圓上每一顆芯片,。點測機的主要結(jié)構(gòu)單元包括探針臺,,電性能測試單元,,光性能測試單元,以及上位機控制系統(tǒng)等,。該工序根據(jù)實際情況,,位于晶圓劃片前,,或者后工序。設(shè)備基本構(gòu)成主要包括探針臺,電子顯微鏡,,SMU,,ESD,,工控機,,積分球,,光譜儀等,。其中,,SMU的作用是對芯片進(jìn)行IV特性測試,,同時在光學(xué)測試中,,對芯片進(jìn)行供電。
常用的電性能測試項目包括,,VF1,VF2,IR,VZ,VFD,DVF等。
⑴ VF(正向電壓)測試,, FIMV: 一般會測兩個點, D一個點VF1為 LED剛點亮?xí)r電壓,, 第二個點VF2為LED 正常工作時的電壓,;
⑵ VZ(反向擊穿電壓)測試,, FIMV:一定反向電流時,,器件兩端的電壓;
⑶ IR(反向泄露電流)測試,, FVMI: 一定反向電壓時,, 流過器件的電流;
⑸ DVF 測試,,材料熱縮效應(yīng)測試, FIMV: 對LED施加兩次不同的電流,,并計算不同條件下的電壓差,;
⑹ VFD 測試,正向電壓暫態(tài)峰值電壓測試,, FIMV: 對LED施加一定的正向電流,,同時采集電壓變化, 尖峰電壓與正常電壓的差值即為VFD,;
miniled光電特性測試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,,詳詢一八一四零六六三四七六;武漢普賽斯一直專注于半導(dǎo)體,,LED,激光器的光電性能測試儀表開發(fā),,基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術(shù)平臺優(yōu)勢,,S先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表,、窄脈沖源表,、集成插卡式源表,Mini LED源表測試系統(tǒng)等產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體,,LED,激光器等產(chǎn)品的生產(chǎn),、研發(fā)、測試場景,。可夠根據(jù)用戶的需求提供高性能,,高效率,高性價比的半導(dǎo)體,,LED,,激光器測試系統(tǒng)級解決方案,。miniled光電特性測試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表
武漢普賽斯一直專注于半導(dǎo)體,LED,,激光器的光電性能測試儀表開發(fā),,基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術(shù)平臺優(yōu)勢,,S先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表,、窄脈沖源表,、集成插卡式源表,Mini LED源表測試系統(tǒng)等產(chǎn)品,,廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體,,LED,激光器等產(chǎn)品的生產(chǎn),、研發(fā),、測試場景??蓧蚋鶕?jù)用戶的需求提供高性能,,高效率,高性價比的半導(dǎo)體,,LED,,激光器測試系統(tǒng)級解決方案
數(shù)字源表測試氣體傳感器方案利用數(shù)字源表源(SMU)設(shè)備進(jìn)行氣體傳感器電性能測試 I-V測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應(yīng),。根據(jù)待測器件(DUT)的不同,,信號電平可能相
2022-11-04