參考價(jià)格
面議型號(hào)
氣體團(tuán)簇粒子束GCIB品牌
高德英特產(chǎn)地
北京樣本
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氣體團(tuán)簇粒子束GCIB
簡(jiǎn)介
PHI Ar2500 氣體團(tuán)簇離子槍是進(jìn)行深度分析有機(jī)物和聚合物而不破壞其化學(xué)狀態(tài)的有效工具,。類似于C60的應(yīng)用,,使一次離子束得能量均分到60個(gè)碳原子上; Ar2500能獲得更低的沖擊能量,,由于其團(tuán)簇是由2500個(gè)氬離子構(gòu)成,。這種Ar2500 GCIB氬離子在深度分析時(shí),對(duì)樣品造成的破壞很小,,同時(shí)也避免了類似C-60離子濺射過(guò)程中離子堆積的可能性,。總之,, Ar2500 GCIB自身非常適合深度分析,,如聚亞酰胺(PI)等廣泛用于半導(dǎo)體、太陽(yáng)能電池和顯示器工業(yè)的材料,。ULVAC-PHI該型號(hào)產(chǎn)品在第五十七屆國(guó)際博覽會(huì)(2011年10月17-22日在Albuquerque, NM.舉行)上被美國(guó)真空學(xué)會(huì)(AVS)授予**展品獎(jiǎng),。
圖1 - ULVAC-PHI**的Ar2500 GCIB型離子槍
應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
聚亞酰胺(PI)薄膜樣品用不同Ar離子束流能量濺射后,下面的表格1總結(jié)了XPS測(cè)試的濺射前后化學(xué)組成,。
表1 - Ar離子濺射前后聚亞酰胺(PI)樣品原子濃度的匯總
從上面的結(jié)果中,,看出Ar離子濺射后聚亞酰胺樣品化學(xué)組成明顯改變,該樣品緊接著用配有Ar2500 GCIB的XPS進(jìn)行深度剖析,。如下圖2所示,,Ar2500 GCIB可以非常有效地移除受損層,并將PI層恢復(fù)其原本得化學(xué)結(jié)構(gòu),,由此可見,,即使如PI般的樣品,用Ar2500 GCIB濺射的時(shí)也不會(huì)對(duì)化學(xué)組成造成破壞,。
圖2 - Ar離子濺射后的受損層,,經(jīng)Ar2500 GCIB剝離后,回到PI的初始狀態(tài)
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