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名 稱:大塚電子(蘇州)有限公司認 證:工商信息已核實
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品信息
特 點
? 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
? 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置,,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
? 安全對策和粒子對策,,可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
測量項目
? 封入cell gap
? twist角 *
? rubbing角 *
? pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA] *
? 空cell gap *
? 相位差(復(fù)折射相位差)的波長分散 *
? 光學(xué)軸 *
? 橢圓率/方位角 *
? 三次元折射率/Rth/β *
? 分光光譜/色度*
測量對象
? 液晶cell
- 透過,、半透過型液晶cell(TFT,、TN,、STN,、IPS,、VA,、OCB,、強感應(yīng)電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS,、VA)
? 光學(xué)材料
- 其他(相位差?橢圓?偏光膜,、液晶材料)
仕 樣
型號 | RETS series |
---|---|
樣品尺寸 | 20mm×20mm ~* |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ~數(shù)10μm |
cell gap重復(fù)性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計 |
測量波長范圍 | 400nm ~ 800nm |
光學(xué)系 | 偏光光學(xué)系 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機構(gòu) | -20 ~ 45°,、-45 ~ 45°等 |
測量案例
相位差與液晶層間隙值
液晶面內(nèi)分布圖
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