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器件的制造是通過(guò)一系列精確控制的加工工藝完成的，為了保證每步工序都能正確地進(jìn)行,，在每一個(gè)工藝步驟中都有許多測(cè)量和監(jiān)控技術(shù),，其中光學(xué)測(cè)量由于其非接觸、無(wú)破壞,、無(wú)污染的特點(diǎn)被廣泛使用,。

其中，光學(xué)測(cè)量的一項(xiàng)重要內(nèi)容是薄膜特性———例如厚度和光學(xué)性質(zhì),。目前,，常用的光學(xué)測(cè)量技術(shù)根據(jù)其原理可分為: 光吸收法、干涉監(jiān)控法,、偏振光分析法等,。

今天小編為大家介紹的這款橢偏儀采用偏振光分析法（也稱為橢圓偏振光譜測(cè)量技術(shù)），該方法是利用偏振光在材料表面反射后,，相應(yīng)偏振態(tài)的改變來(lái)測(cè)量該材料的光學(xué)性質(zhì),。

橢偏儀概況

橢偏儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備,。由于并不與樣品接觸,，對(duì)樣品沒(méi)有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種極具吸引力的測(cè)量設(shè)備,。

橢偏儀應(yīng)用

橢偏儀可測(cè)的材料包括：半導(dǎo)體,、電介質(zhì)、聚合物,、有機(jī)物,、金屬、多層膜物質(zhì),。

橢偏儀涉及領(lǐng)域有：半導(dǎo)體,、通訊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ),、光學(xué)鍍膜,、平板顯示器、科研,、生物,、醫(yī)藥等。

橢偏法測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)

1,、能測(cè)量很薄的膜(1nm),，且精度很高，比干涉法高1~2個(gè)數(shù)量級(jí),。

2,、是一種無(wú)損測(cè)量，不必特別制備樣品,，也不損壞樣品,，比其他精密方法如稱重法,、定量化學(xué)分析法簡(jiǎn)便。

3,、可同時(shí)測(cè)量膜的厚度,、折射率以及吸收率。因此可以作為分析工具使用,。

4,、對(duì)一些表面結(jié)構(gòu)、表面過(guò)程和表面反應(yīng)相當(dāng)敏感,，是研究表面物理的一種方法,。

橢偏儀的分類及介紹

橢偏儀按照測(cè)試原理的不同，主要分為消光式和光度式兩類,。大體可以分為PCSA 型消光式橢偏儀,、旋轉(zhuǎn)偏振器件型橢偏儀、相位調(diào)制型橢偏儀,、橢偏光譜儀,、紅外橢偏光譜儀、成像橢偏儀和廣義橢偏儀,。

橢偏儀廠家介紹

今天,，小編為大家介紹的這家橢偏儀廠家——HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部，公司總部自1953年成立,，是一家分析檢測(cè)儀器和設(shè)備制造商,，并且以其高精尖的產(chǎn)品成功地將市場(chǎng)拓展到了全球各個(gè)國(guó)家和地區(qū)。

HORIBA 研究級(jí)全自動(dòng)橢偏儀UVISEL 2

技術(shù)參數(shù)：

光譜范圍：190-2100 nm

8種光斑尺寸: 小35 X 85 um

探測(cè)器：3個(gè)獨(dú)立探測(cè)器,，分別優(yōu)化紫外,，可見和近紅外

自動(dòng)樣品臺(tái)尺寸：200mm X 200mm；XYZ方向自動(dòng)調(diào)節(jié); Z軸高度>35mm

樣品水平度自動(dòng)調(diào)整

自動(dòng)量角器：變角范圍35°- 90°,，全自動(dòng)調(diào)整,，小步長(zhǎng)0.01°

HORIBA一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SE

主要特點(diǎn)

1. 液晶調(diào)制技術(shù)，無(wú)機(jī)械轉(zhuǎn)動(dòng)部件,，重復(fù)性,，信噪比高

2. 技術(shù)成像技術(shù)，所有樣品均可成像,，對(duì)于透明樣品，自動(dòng)去除樣品的背反射信號(hào),，使得數(shù)據(jù)分析更簡(jiǎn)單

3. 反射式微光斑,，覆蓋全譜段，利于非均勻樣品圖案化樣品測(cè)試

4. 全自動(dòng)集成度高,，安裝維護(hù)簡(jiǎn)便

5. 一鍵式操作軟件,，快速簡(jiǎn)單

6. 自動(dòng)MAPPING掃描,，分析樣品鍍膜均勻性

技術(shù)參數(shù)

1. 光譜范圍：450-1000 nm

2. 多種微光斑自動(dòng)選擇

3. 光斑可視技術(shù)，可觀測(cè)任何樣品表面

4. 自動(dòng)樣品臺(tái)尺寸：200mmX200mm,；XYZ方向自動(dòng)調(diào)節(jié); Z軸高度>35mm

5. 70度角入射

6. CCD探測(cè)器

參考資料：

朱緒丹等.《橢圓偏振光譜測(cè)量技術(shù)及其在薄膜材料研究中的應(yīng)用》HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部