
HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

已認(rèn)證
HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
已認(rèn)證
輝光放電光譜儀是解密鍍層工藝,、解析鍍層結(jié)構(gòu)的強(qiáng)有力手段,,可以通過(guò)元素變化獲得鍍層結(jié)構(gòu),、層間擴(kuò)散,、元素富集,、表面處理,、鍍層均一性等信息,,從而改善工藝條件等。主要應(yīng)用行業(yè)有金屬冶金,、半導(dǎo)體器件,、LED芯片、薄膜太陽(yáng)能電池,、鋰電池陰陽(yáng),、光學(xué)玻璃、核材料等,。
GD-Profiler 2 作為超快鍍層分析的理想工具,,非常適合于導(dǎo)體和非導(dǎo)體復(fù)合鍍層的分析,操作簡(jiǎn)單,、便于維護(hù),,是鍍層材料研發(fā)、質(zhì)控的理想工具,。
· 使用脈沖式射頻輝光源,,可有效分析熱導(dǎo)性能差以及熱敏感的樣品。
· 采用多項(xiàng)技術(shù),,如高動(dòng)態(tài)檢測(cè)器(HDD),,可測(cè)試ppm-100%的濃度范圍,Polyscan多道掃描的光譜分辨率為18pm~25pm等,。
· 分析速度快(2-10nm/s)
技術(shù)參數(shù):
1,、射頻發(fā)生器-標(biāo)準(zhǔn)配置、復(fù)合D級(jí)標(biāo)準(zhǔn),、穩(wěn)定性高,、濺射束斑為平坦、等離子體穩(wěn)定時(shí)間短,,表面信息無(wú)任何失真,。
2、脈沖工作模式既可以分析常規(guī)的涂/鍍層和薄膜,,也可以很好地分析熱導(dǎo)性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜,。
3,、Polyscan多道(同時(shí))光譜儀可全譜覆蓋,光譜范圍從110nm-800nm,,可測(cè)試遠(yuǎn)紫外元素C,、H,、O,、N和Cl。
4,、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有大的光通量,,因而擁有**的光效率和靈敏度。
5,、高動(dòng)態(tài)檢測(cè)器(HDD)可快速,、高靈敏的檢測(cè)ppm-100%含量的元素。動(dòng)態(tài)范圍為5×1010,。
6,、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。
7,、功能強(qiáng)大的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測(cè)報(bào)告,。
8、HORIBA獨(dú)有的單色儀(選配)可大地提高儀器靈活性,,可實(shí)現(xiàn)固定通道外任意一個(gè)元素的同步測(cè)試,,稱為n+1。
9,、適用于ISO14707和16962標(biāo)準(zhǔn),。
儀器原理:
輝光放電腔室內(nèi)充滿低壓氬氣,當(dāng)施加在放電兩的電壓達(dá)到一定值,,超過(guò)激發(fā)氬氣所需的能量即可形成輝光放電,,放電氣體離解為正電荷離子和自由電子。在電場(chǎng)的作用下,,正電荷離子加速轟擊到(陰)樣品表面,,產(chǎn)生陰濺射。在放電區(qū)域內(nèi),,濺射的元素原子與電子相互碰撞被激化而發(fā)光,。
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