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?D0表示粉體粒度的最小粒徑，D100表示粉體粒度的最大粒徑,，這兩個值是粉體粒度的兩端極限邊界值——極值,。對粉體粒度分布規(guī)律來看，極值顆粒是最少的,，可能只有幾個甚至1個,。那么激光粒度儀能不能測量測粉體粒度的極值呢？答案是否定的,，一是取樣代表性上受到限制,，二是激光粒度測量原理上不可行。首先從取樣代表性來

?粒度儀的檢定和校準(zhǔn)可采用有證顆粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM）,， 也可采用一般標(biāo)物（ReferenceMaterial，RM）,。 其 中CRM 是經(jīng)過權(quán)威部門定值的,，并且定值數(shù)據(jù)是公開發(fā)布的。目前國內(nèi)認(rèn)定的絕對測量方法是顯微鏡法，其刻度可溯源到長度標(biāo)準(zhǔn),。通常標(biāo)尺刻度為 10μm,，最小已達到 416nm。 顆粒

?評價一臺粒度儀的品質(zhì)好壞主要有四個衡量指標(biāo)：（1）靈敏度：指兩個粒度相差很?。ㄈ鏒50 相差 1μm）時，分析結(jié)果的變化量,。（2）分辨力：分辨力指在認(rèn)定誤差遵從正態(tài)分布條件下,，在給定置信度（通常取 99.7%，有時也取 95%）下能檢出被測物質(zhì)的最小量值,。（3）重復(fù)性（又稱精度 Precision）

?在粒度測量中我們常常會遇到這樣的情況：同一個樣品，不同的儀器往往測出不同的結(jié)果,，一些粉體生產(chǎn)廠家和用戶往往會根據(jù)各自粒度數(shù)據(jù)來評判產(chǎn)品質(zhì)量,，從而產(chǎn)生種種分歧。產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因主要有以下幾個方面：1,、所用儀器的原理不同。自然界中顆粒是不規(guī)則的,、非球形的,，由于不同原理的儀器所測出的等效粒徑不同，所以測

?動態(tài)光散射納米粒度儀是測量納米材料粒度的主要手段,。很多人會認(rèn)為進口品牌準(zhǔn)確性更好。而事實到底是怎樣呢,？在2017年11月17日廣州“第十一屆全國顆粒測試學(xué)術(shù)會議暨2017年全國粉體測試技術(shù)應(yīng)用研討會”上傳來消息,，在中國合格評定國家認(rèn)可委員會和北京粉體技術(shù)協(xié)會聯(lián)合舉辦的納米顆粒粒度分析能力驗證活動中，

?（1）如果是原理不同的儀器,，結(jié)果不同是正常，在兩者之間找到一個規(guī)律就行,。（2）如果是原理相同的儀器甚至是品牌相同的儀器,，首先要統(tǒng)一測試條件，包括介質(zhì),、分散劑,、分散時間、遮光率,、取樣方法等,。其次查看儀器狀態(tài)， 包括背景、對中,、樣品池,、折射率、分析模式,、參數(shù)設(shè)置等,，如果仍無法統(tǒng)一就與廠家聯(lián)系。（3

? 噴流性指數(shù)是流動性指數(shù),、崩潰角,、差角、分散度等項指數(shù)的加權(quán)求得到的一組數(shù)值,，用來綜合評價粉體的噴流性,。噴流性指數(shù)主要描述粉體克服重力，在空間飛濺特性的強弱,，指數(shù)范圍也是 0-100,。粉體物性是粉體材料的基本特性，主要指粉體的流動性,、飛濺性,、密實性等。研究粉體物性對粉體生產(chǎn),、加工,、包裝、運輸,、儲

?1,、概述：對高分子聚合物材料而言，分子量是一個基本的結(jié)構(gòu)參數(shù),，它的許多性能與分子量有關(guān),，如抗沖擊、高彈性等性能就是分子量大的結(jié)果,。但是,，分子量太大也影響高分子材料的流變性和加工性，給加工成型造成困難,。因此,，兼顧到使用性能和加工性能兩方面的要求，需要對高分子聚合物的分子量加以控制,，需要研究聚合條件對產(chǎn)

?流動性指數(shù) : 流動性指數(shù)是將安息角,、壓縮度、平板角,、均齊度,、凝集度等項指數(shù)的加權(quán)求和得到了一組數(shù)值,，用來綜合評價粉體的流動性。流動性指數(shù)主要用來描述粉體在重力作用下自然流淌特性的強弱,，指數(shù)的范圍是0-100,。 流動性指數(shù)：

?堆積密度：堆積密度是松裝密度（也稱疏充填堆積密度）和振實密度（也稱密充填堆積密度）的統(tǒng)稱。松裝密度：顆粒在規(guī)定的自然裝填條件下單位體積的質(zhì)量稱為松裝密度,。這時的體積就是顆粒體積 + 顆粒上的開孔和閉孔體積 + 自然狀態(tài)下顆粒間空隙體積,。松裝密度的別稱很多，有松堆密度,、疏充填堆積密度,、松密度、松散堆積

?對粒度進行檢測分析的方法有很多,，最常用到的兩大類測量方法——圖像法與激光衍射法,，其中圖像法包括電鏡法和顯微圖像法兩種形式。這兩類方法的測量結(jié)果通常會有差異,，原因有以下三個方面：一． 原理不同導(dǎo)致的結(jié)果不同假定有3個直徑分別為1,2,3的球體顆粒,，不同測量原理的儀器將會采用不同的方法來計算平均粒徑。

?密度：是指材料在絕對密實狀態(tài)下單位體積的質(zhì)量，也叫真密度（truedensity）,。對粉體而言，由于在測量真密度時無法去除顆粒內(nèi)部的閉孔,，也就是說無法使顆粒呈絕對密實狀態(tài),，所以通常所說的顆粒的真密度是指表觀密度。表觀密度：顆粒的質(zhì)量與表觀體積之比,。表觀體積是指顆粒體積 + 顆粒的閉口孔隙體積,，即顆粒

?內(nèi)摩擦角表示粉體內(nèi)部顆粒層間的摩擦特性,，粉體內(nèi)部任一點會承受四周顆粒的作用致使顆?；瑒有纬上嗷ブg的摩擦。摩擦角有以下幾種測量方法：（1）倉流試驗法（bin-flowtest）：在料倉底部開有小孔,，倉內(nèi)粉體通過該孔自由降落,，顆粒移動面與水平面的夾角，即為該粉體的內(nèi)摩擦角,。（2）圓棒張力實驗法（rod

?根據(jù) GB1482 或 ISO4490,，金屬粉體流動性通常用霍爾流速計來測量,。測量過程是稱量 50g±0.1g 樣品，用手指堵住漏斗小孔,，將樣品倒入漏斗,，在快速移開堵小孔的手指同時啟動秒表（精度 0.2s）計時，直到粉樣流盡時刻立即停止計時,，通過 50g 粉體流過小孔的時間的長短來評價金屬粉體的流動

? 測量安息角有兩種方法，一種是注入角法,，指從某一高度粉體注入到大的平板上所形成的錐體斜面的角度,。另一種是排出角法，指將粉體注入到較小直徑的圓板上后當(dāng)粉體堆積到圓板的邊緣時,，粉體開始從邊緣排出,，此時圓板上粉體形成的堆積角為排出角。由于排除角法體積較小,，操作簡便,，因此實際測量安息角時常用排除角法。

?利用汞對固體表面的不浸潤特性,，將汞壓入多孔材料的空隙中，根據(jù)汞壓入空隙內(nèi)的總壓力與孔徑成反比的關(guān)系,，求得多孔材料孔徑分布及其特性的方法,。壓汞法是測量中孔和大孔孔徑分布的一種方法。目前所用壓汞儀使用壓力最大約200MPa,，適合測量孔徑范圍在0.0064-950μ ｍ的材料,。也常用壓汞儀來檢測混凝土、砂

?氣體吸附法是在恒溫條件下,，通過測定樣品在一系列分壓下對背吸附氣體的飽和吸附量獲得吸附—脫附等溫線，以求得樣品比表面積孔徑分布的方法,。求得樣品比表面和孔徑分布的理論基礎(chǔ)是BTE理論,，也叫多孔物質(zhì)的多分支層吸附理論，它是建立在 Langmuir 方程之上并對其修正的一種方法,，是計算比表面的普遍理論,。

?本系統(tǒng)包括帶自動載物臺和自動對焦系統(tǒng)的金相顯微鏡、控制系統(tǒng),、高分辨率CCD 和軟件系統(tǒng)四部分組成,。與普通的靜態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)不同的是，本系統(tǒng)可實現(xiàn)自動拍攝和圖像還原,，其過程是自動載物臺在控制系統(tǒng)的控制下能一小步一小步地移動,，每移動一步顯微鏡就拍攝一幅圖像,，自動載物臺能連續(xù)一行一行地掃描，CCD

?鞘流技術(shù)也叫液體聚焦技術(shù),，它是通過在樣品流的四周包圍一層流速更高的鞘液流,，來約束樣品流中的顆粒不發(fā)散，使它們沿著近似直線的路徑流動,，如果將這個近似直線的樣品流設(shè)置在鏡頭的焦平面上,，則所有顆粒都將在焦平面上通過鏡頭，顆粒圖像將很清晰,，保證了圖像粒度粒形分析的準(zhǔn)確性,。如果不采用這種技術(shù)，由于顆粒發(fā)散產(chǎn)生

?通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒投影所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計,，計算出每個顆粒的等圓面積,，從而得到顆粒的等圓面積直徑，進而得到粒度分布,，還能通過長徑,，短徑計算出長徑比和球形度等粒形參數(shù)。圖像顆粒分析系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡,、數(shù)字CCD 攝像頭,、圖像處理與分析軟件、電腦,、打印機等部分組成,。它是將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代

?電阻法（庫爾特）顆粒計數(shù)器粒度測量原理是小孔電阻原理，如圖所示,。小孔管浸泡在電解液中,，小孔管內(nèi)外各有一個電極，電流通過孔管壁上的小圓孔從陽極流到陰極,。小孔管內(nèi)部處于負(fù)壓狀態(tài),，因此管外的液體將流動到管內(nèi)。測量時將顆粒分散到液體中,，顆粒就跟著液體一起流動。當(dāng)其經(jīng)過小孔時,，小孔的橫截面積變小,，兩電極之間的

? 分散在液體（特別是水）中的顆粒對液體中離子有選擇性吸附作用，加上固液兩相對電子的親和性不同,，往往致使顆粒表面帶電,。帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合,，構(gòu)成固定吸附層,，或稱 Stern 層,，另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相

?沉降法是通過測量顆粒在液體中的沉降速度來反映粉體粒度分布的一種方法。在液體中大顆粒沉降速度快,，小顆粒沉降速度慢,。沉降速度與粒徑的數(shù)量關(guān)系我們可以從下面的 Stokes 定律的數(shù)學(xué)表達式得到：從上式可以看到，顆粒的沉降速度與粒徑的平方成正比,，可見在重力沉降中顆粒越大沉降速度越快,。比如在相同條件下，兩個

?在傳統(tǒng)的動態(tài)光散射法粒度測試中,，為了避免復(fù)散射 (Multiple scattering) 現(xiàn)象,，需要盡量降低樣品的濃度，有時甚至看上去都是澄清透明的,。而實際上大多數(shù)膠體產(chǎn)品原樣的濃度都在5%以上,，外觀是渾濁的。對這樣的樣品,，用傳統(tǒng)光子相關(guān)光譜法分析前要做高倍率的稀釋,，這既不便于使用，又可能會破壞膠

?動態(tài)光散射（Dynamic Light ScatteringDLS),， 也稱光子相關(guān)光譜（PhotonCorrelation Spectroscopy PCS) 法,，是一種常規(guī)的納米粒度表征方法，具有準(zhǔn)確,、快速,、可重復(fù)性好等優(yōu)點。隨著儀器的更新和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,，現(xiàn)在的動態(tài)光散射儀器不僅具備測量粒

?振實密度是將裝有粉末或顆粒的刻度量筒固定在機械振動裝置上,，振動電機帶動機械振動裝置垂直上下振動，裝有粉或顆粒的刻度量筒隨機械振動裝置而發(fā)生有節(jié)拍的振動,，隨著振動次數(shù)的增加,，刻度量筒里的粉末或顆粒逐漸振實，振動次數(shù)達到設(shè)定的次數(shù)后,，機械振動裝置停止振動,，讀出刻度量筒的體積，根據(jù)密度的定義：質(zhì)量除以體積

?由激光器發(fā)出的一束激光,，經(jīng)濾波,、擴束、準(zhǔn)值后變成一束平行光,，在該平行光束沒有照射到顆粒的情況下,，光束穿過富氏透鏡后在焦平面上匯聚形成一個很小很亮的光點——焦點，如下圖所示：當(dāng)樣品通過分散系統(tǒng)均勻送到平行光束中時,，顆粒將使激光將發(fā)生散射現(xiàn)象,，一部分光向與光軸成一定的角度向外散射,，如下圖所示。理論與實踐

? 釹鐵硼顆粒帶有較強的磁性,，極易團聚，因此不能用濕法測試,。而干法是通過高速氣流瞬間分散,，可以克服磁性引起的團聚，因此干法激光粒度儀成為測量釹鐵硼的粒度分布的典型方法,。但是由于釹鐵硼粉在空氣中具有自燃性,，就是暴露在空氣中的釹鐵硼粉在環(huán)境溫度稍高時就會自燃，因此常常會燒毀吸塵器管路和濾網(wǎng),，使粒度測試

?在粒度測試過程中,，有時會出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的情況，如重復(fù)性不好,、同一個樣品結(jié)果與之前有差異等,。這樣的情況一般是由以下幾個原因造成的。1,、環(huán)境異常：粒度儀的使用環(huán)境應(yīng)該滿足以下條件,，一是室溫在10℃~30℃之間，并且介質(zhì)溫度要與室溫相同或相近,，若介質(zhì)與室溫溫相差過大會導(dǎo)致樣品池結(jié)霧而影響測試結(jié)果,。二是實驗臺

?影響激光粒度儀分辨力的因素很多：（1）光電探測器數(shù)量,，數(shù)量越多分辨力越高,。（2）反演算法的優(yōu)劣，好的反演算法分辨力高,。（3）分布模型,，多峰模型分辨力高，單峰模型分辨力低,。（4）富氏鏡頭,，相差小的富氏鏡頭分辨力高，相差大的富氏鏡頭分辨力低,。