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飛納手套箱版掃描電鏡
飛納手套箱版掃描電鏡

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

Phenom Ar-C

品牌

飛納

產(chǎn)地

荷蘭

樣本

暫無(wú)
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

金牌會(huì)員

|

第8年

|

代理商

工商已核實(shí)

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電話詢價(jià)
核心參數(shù)
  • 探測(cè)器:

    背散射電子探測(cè)器
  • 加速電壓:

    5kV,,10kV,15kV
  • 電子槍:

    六硼化鈰
  • 電子光學(xué)放大:

    160-200000x
  • 光學(xué)放大:

    3-16x
  • 分辨率:

    優(yōu)于8nm
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Phenom Ar-C 手套箱版掃描電鏡

  +  

在手套箱內(nèi)進(jìn)行空氣敏感材料的制備和分析





Phenom Argon-Compatible Desktop SEM(以下簡(jiǎn)稱:Phenom Ar-C)是**一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運(yùn)行的掃描電   鏡,,可以在手套箱內(nèi)進(jìn)行更安全的樣品制備,、顯微觀察和能譜分析。無(wú)需將樣品從一臺(tái)儀器轉(zhuǎn)移到另一臺(tái)儀器,,實(shí)現(xiàn)了直接對(duì)空氣敏感 樣品的研究,,節(jié)省了時(shí)間和資源。

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傳統(tǒng)方法與 Phenom 手套箱版臺(tái)式掃描電鏡對(duì)比
   


Phenom Ar-C,,標(biāo)配四分割背散射電子檢測(cè)器(BSD),,可獲取清晰的圖像并 提供成分襯度??梢赃x配二次電子探測(cè)器(SED),, 完全集成的能譜(EDS)系 統(tǒng)進(jìn)行元素分析。兼容 ProSuite 拓展軟件,,如 ParticleMetric 顆粒統(tǒng)計(jì)分析系   統(tǒng),、PoroMetric 孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)、FiberMetric 纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)和 3D 粗糙度重建系統(tǒng),,來(lái)協(xié)助進(jìn)一步分析樣品,。    



放置于氬氣手套箱中的 Phenom Ar-C    

2 μm

電池陰極顆粒的 SEM 圖像

   


   

規(guī)格參數(shù)                    

成像模式                    

光學(xué)顯微鏡                            放大倍數(shù):3 – 16x                    

電子顯微鏡                    

放大倍數(shù):160 –200,000x                    

照明                    

光學(xué)                    

明場(chǎng)和暗場(chǎng)模式                    


電子光學(xué)                    

•     長(zhǎng)壽命 CeB6 燈絲                    

•     束斑尺寸連續(xù)可調(diào)                    


加速電壓                    

基本模式:5kV, 10kV 和 15kV                    

高級(jí)模式:4.8kV  -  15kV   續(xù)可調(diào),用于成像和元素分析                    

樣品真空                    

低 - - 高                    

分辨率                    

優(yōu)于 8 nm                    

探測(cè)器                    

標(biāo)配                    

背散射電子探測(cè)器                    

選配                    

二次電子探測(cè)器 能譜探測(cè)器                    

圖像檢測(cè)                    

光學(xué)                    

高分辨率彩色導(dǎo)航相機(jī)                    


電子光學(xué)                    

高靈敏度四分割背散射電子探測(cè) 器(具有成分模式和形貌模式)                    

圖像格式                    

JPEG, TIFF, BMP                    

圖像分辨率選項(xiàng)                    

960x600, 1920x1200, 3840x2400, 和 7680x4800 像素                    

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)                    

USB 閃存, 網(wǎng)絡(luò), 工作站                    


手套箱饋通要求                    

•     網(wǎng)口                    

•     電源口                    

•     USB 接口                    



   

   


   

系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)                    

尺寸和重量 主機(jī)                    



316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg                    

隔膜泵                    

145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4.5 kg                    

電源                    

156(w) x 300(d) x 74(h) mm, 3 kg                    

顯示器 (24 英寸)                    

531.5 (w) x 250 (d) x 515.4 (h) mm, 6.7 kg                    


工作站                    

•     SSD 存儲(chǔ)和 4 個(gè) USB 插槽                    

•     92.5 (w) x 305.6 (d) x 343.5 (h)mm,                    

8 kg                    

樣品尺寸                    

•     ** 100mm (w) x 100mm (d) x 40mm (h) 樣品掃描區(qū)域                    

•     50mm x 50mm                    

•     100mm x 100mm(可選)                    

樣品加載時(shí)間                    

光學(xué)                    

<5 s                    

電子光學(xué)                    

安裝要求                    

<60 s                    

環(huán)境條件                    

溫度                    

15 –25°C (59–77°F)                    

H2O / O2 比例要求                    

< 0.5 PPM                    

電源                    

單相交流 100–240 V,,  50/60 Hz, 平均 163 W,, ** 348 W                    

物理參數(shù)                    

&bull;     建議桌臺(tái)規(guī)格為 150 x 75 cm, 承重至少 150 kg                    

&bull;     隔膜泵必須安裝在無(wú)明顯振動(dòng)處                    

可輸出用戶選定的獨(dú)立元素 背散射電子圖像    

元素 / SEM 混合圖像    


   

掃描區(qū)域                             任何尺寸的矩形    

面掃描像素?cái)?shù)                    

32x20–960x600 像素                    

像素停留時(shí)間                    

1 –500 ms                    

線掃描                    

線掃描像素?cái)?shù)                       16 –512 像素                    

線掃描停留時(shí)間                    10 –500 ms    


   

Docx 格式    




   

對(duì)地質(zhì)樣品進(jìn)行 EDS Mapping 分析    


自動(dòng)化    

Phenom Ar-C 可通過(guò) PPIPhenom 編程接口)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)訪  問(wèn),這是一種通過(guò) Python 腳本來(lái)運(yùn)行 Phenom Ar-C 的方法,。 可以協(xié)助用戶自動(dòng)化分析顆粒,、孔隙、纖維或大尺寸 SEM 圖像   的重復(fù)性任務(wù),。如果需要,,可以根據(jù)您的具體使用需求提供相應(yīng)   的技術(shù)支持。    

CeB6 長(zhǎng)壽命燈絲    

CeB6(六硼化鈰)長(zhǎng)壽命燈絲具有以下幾個(gè)優(yōu)點(diǎn),。首先,,與鎢燈 絲相比,提供的高亮度使用戶更易于獲得具有更多細(xì)節(jié)的高質(zhì)量   圖像,。第二,,燈絲的使用壽命很長(zhǎng),無(wú)需頻繁拆開手套箱進(jìn)行更   換,,加上定期的維護(hù)保養(yǎng),,這可以為用戶帶來(lái)長(zhǎng)周期的穩(wěn)定體    

驗(yàn)。第三,,通過(guò) Phenom 智能軟件可盡可能地延長(zhǎng)使用壽命,, 當(dāng) Phenom Ar-C 未使用時(shí),,燈絲進(jìn)入休眠狀態(tài)。    

優(yōu)中心樣品臺(tái)    

在許多的  SEM  應(yīng)用中,,如果樣品可以傾斜和旋轉(zhuǎn),,有助于更深 入地了解樣品特性。優(yōu)中心樣品臺(tái)就是考慮到這一點(diǎn)而專門開發(fā)    的,,該樣品臺(tái)可以輕松安全地從各個(gè)角度觀察樣品,。    



高度集成 ProSuite 軟件    

操作界面集成化 自動(dòng)識(shí)別譜峰    

迭代反卷積算法    置信度指標(biāo)可視化    

導(dǎo)出功能:CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA    


   

可 4 個(gè)方向移動(dòng):Z (高度)、R (旋轉(zhuǎn)),、T (傾斜) 和 x' (x-prime)    


**樣品尺寸                    

90° 傾斜放置                    

&Oslash; ≤30 mm; 高度 ≤32 mm                    

< 45° 傾斜放置                    

&Oslash; ≤70 mm; 高度 ≤32 mm                    

傾斜角度                    

-15° 和 +90°之間                    

旋轉(zhuǎn)角度                    

360° 連續(xù)                    





創(chuàng)新點(diǎn)

一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運(yùn)行的掃描電 鏡,,可以在手套箱內(nèi)進(jìn)行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析,。無(wú)需將樣品從一臺(tái)儀器轉(zhuǎn)移到另一臺(tái)儀器,,實(shí)現(xiàn)了直接對(duì)空氣敏感 樣品的研究,節(jié)省了時(shí)間和資源,。

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
評(píng)論內(nèi)容
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