參考價格
面議型號
Phenom Ar-C品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無探測器：
背散射電子探測器加速電壓：
5kV，10kV,，15kV電子槍：
六硼化鈰電子光學(xué)放大：
160-200000x光學(xué)放大：
3-16x分辨率：
優(yōu)于8nm看了飛納手套箱版掃描電鏡的用戶又看了
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Phenom Ar-C 手套箱版掃描電鏡
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在手套箱內(nèi)進(jìn)行空氣敏感材料的制備和分析
Phenom Argon-Compatible Desktop SEM（以下簡稱：Phenom Ar-C）是**一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運(yùn)行的掃描電 鏡，可以在手套箱內(nèi)進(jìn)行更安全的樣品制備,、顯微觀察和能譜分析,。無需將樣品從一臺儀器轉(zhuǎn)移到另一臺儀器，實(shí)現(xiàn)了直接對空氣敏感 樣品的研究,，節(jié)省了時間和資源,。
傳統(tǒng)方法與 Phenom 手套箱版臺式掃描電鏡對比
Phenom Ar-C，標(biāo)配四分割背散射電子檢測器（BSD）,，可獲取清晰的圖像并 提供成分襯度,。可以選配二次電子探測器（SED）,， 完全集成的能譜（EDS）系 統(tǒng)進(jìn)行元素分析,。兼容 ProSuite 拓展軟件，如 ParticleMetric 顆粒統(tǒng)計分析系 統(tǒng)、PoroMetric 孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng),、FiberMetric 纖維統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)和 3D 粗糙度重建系統(tǒng),，來協(xié)助進(jìn)一步分析樣品。
放置于氬氣手套箱中的 Phenom Ar-C
2 μm
電池陰極顆粒的 SEM 圖像
成像模式 | |
光學(xué)顯微鏡 放大倍數(shù)：3 – 16x | |
電子顯微鏡 | 放大倍數(shù)：160 –200,000x |
照明 | |
光學(xué) | 明場和暗場模式 |
電子光學(xué) | • 長壽命 CeB6 燈絲 • 束斑尺寸連續(xù)可調(diào) |
加速電壓 | 基本模式：5kV, 10kV 和 15kV 高級模式：4.8kV - 15kV 連 續(xù)可調(diào),，用于成像和元素分析 |
樣品真空 | 低 - 中 - 高 |
分辨率 | 優(yōu)于 8 nm |
探測器 | |
標(biāo)配 | 背散射電子探測器 |
選配 | 二次電子探測器 能譜探測器 |
圖像檢測 | |
光學(xué) | 高分辨率彩色導(dǎo)航相機(jī) |
電子光學(xué) | 高靈敏度四分割背散射電子探測 器（具有成分模式和形貌模式） |
圖像格式 | |
JPEG, TIFF, BMP | |
圖像分辨率選項 | |
960x600, 1920x1200, 3840x2400, 和 7680x4800 像素 | |
數(shù)據(jù)存儲 | |
USB 閃存, 網(wǎng)絡(luò), 工作站 | |
• 網(wǎng)口 | |
• 電源口 • USB 接口 | |
尺寸和重量 主機(jī) | 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg | |
隔膜泵 | 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4.5 kg | |
電源 | 156(w) x 300(d) x 74(h) mm, 3 kg | |
顯示器 (24 英寸) | 531.5 (w) x 250 (d) x 515.4 (h) mm, 6.7 kg | |
工作站 | • SSD 存儲和 4 個 USB 插槽 • 92.5 (w) x 305.6 (d) x 343.5 (h)mm, 8 kg | |
樣品尺寸 | ||
• ** 100mm (w) x 100mm (d) x 40mm (h) 樣品掃描區(qū)域 • 50mm x 50mm • 100mm x 100mm（可選） | ||
樣品加載時間 | ||
光學(xué) | <5 s | |
電子光學(xué) 安裝要求 | <60 s | |
環(huán)境條件 | ||
溫度 | 15 –25°C (59–77°F) | |
H2O / O2 比例要求 | < 0.5 PPM | |
電源 | 單相交流 100–240 V,， 50/60 Hz, 平均 163 W， ** 348 W | |
物理參數(shù) | ||
• 建議桌臺規(guī)格為 150 x 75 cm, 承重至少 150 kg • 隔膜泵必須安裝在無明顯振動處 | ||
可輸出用戶選定的獨(dú)立元素 背散射電子圖像
元素 / SEM 混合圖像
掃描區(qū)域 任何尺寸的矩形
面掃描像素數(shù) | 32x20–960x600 像素 |
像素停留時間 | 1 –500 ms |
線掃描 | |
線掃描像素數(shù) 16 –512 像素 | |
線掃描停留時間 10 –500 ms
Docx 格式
對地質(zhì)樣品進(jìn)行 EDS Mapping 分析
自動化
Phenom Ar-C 可通過 PPI（Phenom 編程接口）進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)訪 問,，這是一種通過 Python 腳本來運(yùn)行 Phenom Ar-C 的方法,。 可以協(xié)助用戶自動化分析顆粒、孔隙,、纖維或大尺寸 SEM 圖像 的重復(fù)性任務(wù),。如果需要，可以根據(jù)您的具體使用需求提供相應(yīng) 的技術(shù)支持,。
CeB6 長壽命燈絲
CeB6（六硼化鈰）長壽命燈絲具有以下幾個優(yōu)點(diǎn),。首先，與鎢燈 絲相比,，提供的高亮度使用戶更易于獲得具有更多細(xì)節(jié)的高質(zhì)量 圖像,。第二，燈絲的使用壽命很長,，無需頻繁拆開手套箱進(jìn)行更 換,，加上定期的維護(hù)保養(yǎng)，這可以為用戶帶來長周期的穩(wěn)定體
驗(yàn),。第三,，通過 Phenom 智能軟件可盡可能地延長使用壽命， 當(dāng) Phenom Ar-C 未使用時,，燈絲進(jìn)入休眠狀態(tài),。
優(yōu)中心樣品臺
在許多的 SEM 應(yīng)用中，如果樣品可以傾斜和旋轉(zhuǎn),，有助于更深 入地了解樣品特性,。優(yōu)中心樣品臺就是考慮到這一點(diǎn)而專門開發(fā) 的，該樣品臺可以輕松安全地從各個角度觀察樣品,。
高度集成 ProSuite 軟件
操作界面集成化 自動識別譜峰
迭代反卷積算法 置信度指標(biāo)可視化
導(dǎo)出功能：CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA
可 4 個方向移動：Z (高度),、R (旋轉(zhuǎn))、T (傾斜) 和 x' (x-prime)
**樣品尺寸 | |
90° 傾斜放置 | Ø ≤30 mm; 高度 ≤32 mm |
< 45° 傾斜放置 | Ø ≤70 mm; 高度 ≤32 mm |
傾斜角度 | |
-15° 和 +90°之間 | |
旋轉(zhuǎn)角度 | |
360° 連續(xù) | |
一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運(yùn)行的掃描電 鏡,，可以在手套箱內(nèi)進(jìn)行更安全的樣品制備,、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉(zhuǎn)移到另一臺儀器,，實(shí)現(xiàn)了直接對空氣敏感 樣品的研究,，節(jié)省了時間和資源。
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2020-12-21
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2020-12-21
2020-12-21
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