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面議型號(hào)
AFM-in-Phenom XL品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無(wú)探測(cè)器：
*加速電壓：
*電子槍?zhuān)?/p>*
電子光學(xué)放大：
*光學(xué)放大：
*分辨率：
0.2nm×0.2nm×0.04nm看了AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)的用戶(hù)又看了
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全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì),，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌、元素,、機(jī)械,、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析,。
· 設(shè)備掃描范圍（開(kāi)環(huán)）：100μm×100μm×20μm
· 設(shè)備掃描范圍（閉環(huán)）：80μm×80μm×16μm
· 分辨率：0.2nm×0.2nm×0.04nm
· **樣品尺寸：21mm×11mm×8mm
· **樣品重量：100g
· 成像模式：表面形貌和粗糙度,、CAFM、KPFM,、FMM,、PFM、EFM,、F-z curves,、I-V curves等
全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（SEM 及 AFM 形貌,、元素,、機(jī)械、電學(xué),、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析,。
今年 11 月 2 日起,，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架,、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”,、“臨牌”小客車(chē)、未載客的出租車(chē)等通行,。因?yàn)樾履茉雌?chē)車(chē)牌較容易獲得,，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車(chē)，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求,。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題,。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),，而控制
2020-12-21
2020-12-21
在數(shù)字化浪潮席卷全球的今天,，半導(dǎo)體作為信息技術(shù)的核心支撐,，其產(chǎn)業(yè)發(fā)展態(tài)勢(shì)迅猛。隨著 5G,、人工智能,、大數(shù)據(jù)等新興技術(shù)不斷突破，對(duì)半導(dǎo)體性能的要求也達(dá)到了前所未有的高度,。半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析作為半導(dǎo)
想要同時(shí)掃描“大尺寸”與“高密度”樣品，卻被傳統(tǒng)顯微CT的穿透力和空間限制束縛,？NEOSCAN 重磅推出 NXL 臺(tái)式大倉(cāng)顯微 CT 系統(tǒng),，打破邊界，精準(zhǔn)進(jìn)化,，開(kāi)啟高穿透力臺(tái)式掃描新時(shí)代,！
2025 年 3 月 25 日國(guó)家藥監(jiān)局 國(guó)家衛(wèi)生健康委頒布了2025 年版《中華人民共和國(guó)藥典》掃描電鏡首次被寫(xiě)入《中國(guó)藥典》飛納電鏡采用符合藥典標(biāo)準(zhǔn)的六硼化鈰（CeB6）燈絲符合藥典的樣品制備方法
在材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域,，精確制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡（TEM）和掃描透射電子顯微鏡（STEM）樣品是實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率成像和分析的關(guān)鍵,。Technoorg Linda 公司生產(chǎn)的 Gent
核殼納米粒子因其獨(dú)特的表面和體積特性，在多個(gè)領(lǐng)域具有重要應(yīng)用,。通過(guò)改變殼層的厚度和材料,，可以調(diào)節(jié)納米粒子的性質(zhì)?？屏_拉多大學(xué)（Forge Nano 粉末原子層沉積技術(shù)發(fā)源地）Steven George
農(nóng)業(yè)科學(xué)的發(fā)展依賴(lài)于高效,、精準(zhǔn)的檢測(cè)技術(shù)，以?xún)?yōu)化作物生長(zhǎng)環(huán)境,、提高種子質(zhì)量,、改良農(nóng)作物品種。傳統(tǒng)的農(nóng)業(yè)檢測(cè)方法,，如光學(xué)顯微鏡,、石蠟切片、激光共聚焦顯微鏡等,，往往局限于二維成像,，且檢測(cè)過(guò)程耗時(shí)費(fèi)力，難以
AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)的工作原理介紹,？AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)的使用方法,？AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)多少錢(qián)一臺(tái)？AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)使用的注意事項(xiàng)AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)的說(shuō)明書(shū)有嗎,？AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)的操作規(guī)程有嗎,？AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)有現(xiàn)貨嗎,？AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)包安裝嗎,？
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