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面議型號
MRS-HI410品牌
產(chǎn)地
蘇州樣本
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鎂伽MRS-HI410系列六面外觀檢測設(shè)備，采用模塊化的設(shè)計,，適用于檢測多種不同電子元器件,，如電阻、電容,、電感,、半導(dǎo)體芯片、LED等,。檢測項目包括:方向,、印章、混料,、異物,、溢膠、氣泡,、劃痕,、劃傷、露銅,、引腳變形等外觀缺陷和尺寸量測,。
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