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儀器簡介：
日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測試儀,， 利用微波技術結合高Q腔以及3D電磁場模擬技術,，采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測量材料的高頻介電常數(shù),，此方法保證了介電常數(shù)測量結果的精確性。
AET公司開發(fā)了二種共振腔：空洞共振腔和開放式同軸共振腔用于測試環(huán)境腔,。
技術參數(shù)：
頻率范圍：1G~20GHz
同軸共振腔：
介電常數(shù)Epsilon：1~15,，準確度：+/-1%，
介電損耗tangent delta：0.05~0.0001,，準確度：+/-5%
主要特點：
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。
印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的,， 玻纖介電常數(shù)為5~6,， 樹脂大約是3， 由于樹脂含量,， 硬化程度,， 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差， 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易,， 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低，,。
日本AET 公司針對CCL/印刷電路板設計空洞共振腔測試裝置 ,， 只需裁成小長條狀即可量測精確的復介電常數(shù)(Dk)， 尤其是低損耗(Df)的樣品,， 測量值非常精準,。
用于介電常數(shù)測試儀，介電常數(shù)分析,，介電損耗測試,，高頻介電常數(shù)測量。
暫無數(shù)據(jù),！
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