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儀器簡介:
日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測試儀,, 利用微波技術結合高Q腔以及3D電磁場模擬技術,采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM,,測量材料的高頻介電常數(shù),,此方法保證了介電常數(shù)測量結果的精確性。
AET公司開發(fā)了二種共振腔:空洞共振腔和開放式同軸共振腔用于測試環(huán)境腔,,空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。開放式同軸共振腔適用于不同形狀樣品,包括薄膜樣品的非破壞性測量,,使用簡易的逐步操作,,內(nèi)置的反饋振蕩器電路可實現(xiàn)精確的量測。
技術參數(shù):
頻率范圍:1G~18GHz
同軸共振腔:Epsilon:1~15,,準確度:+/-1%,,
tangent delta:0.1~0.001,準確度:+/-5%
空洞共振腔:Epsilon:1~30,,準確度:+/-1%,,
tangent delta:0.05~0.0001,準確度+/-5%
主要特點:
應用領域:
薄膜材料,,半導體材料,,電子材料(包括CCL和PCB),化學品,,陶瓷材料,,納米材料,光電材料等,。
不僅可測試固體,,而且可測試液體,粉末等,。
日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測試儀,,介電常數(shù)分析,介電損耗測試,,高頻介電常數(shù)測量,。
暫無數(shù)據(jù)!