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儀器簡介：

日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測試儀， 利用微波技術結合高Q腔以及3D電磁場模擬技術,，采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM,，測量材料的高頻介電常數(shù)，此方法保證了介電常數(shù)測量結果的精確性,。

AET公司開發(fā)了二種共振腔：空洞共振腔和開放式同軸共振腔用于測試環(huán)境腔,，空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測,。開放式同軸共振腔適用于不同形狀樣品,，包括薄膜樣品的非破壞性測量，使用簡易的逐步操作,，內(nèi)置的反饋振蕩器電路可實現(xiàn)精確的量測,。

技術參數(shù)：

頻率范圍：1G~18GHz

同軸共振腔：Epsilon：1~15，準確度：+/-1%,，

tangent delta：0.1~0.001,，準確度：+/-5%

空洞共振腔：Epsilon：1~30，準確度：+/-1%，

tangent delta：0.05~0.0001,，準確度+/-5%

主要特點：

應用領域：

薄膜材料,，半導體材料，電子材料（包括CCL和PCB）,，化學品,，陶瓷材料，納米材料,，光電材料等,。

不僅可測試固體，而且可測試液體,，粉末等,。

日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測試儀，介電常數(shù)分析,，介電損耗測試,，高頻介電常數(shù)測量。