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研究級高端傅立葉變換真空紅外光譜儀
研究級高端傅立葉變換真空紅外光譜儀

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德國

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北京嘉德利達科技有限公司

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1.產品介紹:

VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀,,能夠為您帶來**的光譜分辨率,。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質光學元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺,,可消除大氣中的水分吸收,,從而實現**的靈敏度和穩(wěn)定性,助力進行諸多高難度試驗,,如高分辨率,、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量,。

得益于VERTEX 80/80v 的光學設計,,系統(tǒng)不僅具備**的靈活性,還擁有**的性能,。布魯克光學****的DigiTect™技術,,有助于避免外部信號干擾,保證了儀器的**信噪比,,這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器,。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結合,,即便是使用室溫DTGS檢測器,,也能達到近期重新發(fā)現的太赫茲光譜范圍。

2.特點介紹

譜區(qū)擴展

VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件,,來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始,,經中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域,。其預準直光學元件以及主動準直UltraScan™ 干涉儀,,使切換和維護變得十分簡單。

BMS-c:布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c,。

您可以在真空條件下,,通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器。現在,,您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器,,就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。

全新附件

布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器,,拓展了分束器的選擇范圍,。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發(fā)應用中,由于全新的遠紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 5 cm-1左右的光譜范圍,,并且能夠將中紅外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來,,因此它還能帶來更多價值。

光學分辨率

標準配置下的 VERTEX 80 VERTEX 80v光譜儀可以提供優(yōu)于0.2 cm-1的切趾光譜分辨率,足以應對大多數常壓下氣相研究及室溫樣品測量,。對于更高要求的低溫作業(yè),,如晶態(tài)半導體材料或低壓氣相測試,VERTEX 80/80V系列光譜儀可以提供優(yōu)于0.06cm-1的**分辨率,,這是商用臺式FTIR光譜儀所能達到的**分辨率,。在可見光譜區(qū),高分辨光譜能夠展現出優(yōu)于300000:1的分辨能力(定義為波數/光譜分辨率ν/?ν),。

多功能

創(chuàng)新的光學設計使靈活性和拓展能力**的研究級真空FTIR光譜儀成為可能,。借助真空光學臺,該系統(tǒng)在中紅外,、近紅外和遠紅外區(qū)域具有**的靈敏度,,而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來**的成果,,例如在低至 10-3單層的納米科學研究領域,。不僅如此,它的靈活性幾乎不受限制,。光學臺的右側,、前側和左側布有5個光束輸出端口,右側和后側有兩個光束輸入端口,。因此,,它可以同時進行連接:例如,后側輸入端口的同步輻射光源,、右側輸出口的PMA50 偏振調制附件,、右前側端口的光纖耦合模塊、左前側的輻射熱測量計探測器以及左側輸出端口的HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡,。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應用的理想儀器。

外接附件,、光源和檢測器

VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口,,可連接外部激光器和同步輻射光源。此外,,借助外部測量附件,、光源和檢測器,您可輕松升級光譜儀的光學系統(tǒng),。包括如下內容:

用于VCDPM-IRRASPMA 50偏振調制附件

PL II 光致發(fā)光模塊

RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡

TGA-FT-IR 聯用

HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡

HYPERION 3000 FTIR 成像系統(tǒng)

HTS-XT 高通量篩選eXTension

IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件

外部樣品室XSA(真空或吹掃)

外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)

真空PL/PT/PR測量單元

低溫液氦或無低溫液體恒溫器

帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元(用于固體和液體)

大型積分球

自動進樣器

外部遠紅外Hg光源

****的寬帶中紅外-遠紅外檢測器

固態(tài)遠紅外/太赫茲分束器

外部發(fā)射適配器

外部高性能中紅外光源

外部高性能可見光源

外部真空4位檢測器腔(用于真空光學系統(tǒng))

適用于遠紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計

自動分束器切換單元(BMS-c)(真空光學系統(tǒng))

3.應用介紹

VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的高端研究級儀器,。其獨具創(chuàng)新的光學設計使得極為強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光(50000 cm-1到遠紅外/太赫茲(5 cm-1)的廣泛光譜范圍,、極高的光譜和時間分辨率以及**的靈活性,。多功能VERTEX 80/80v 系統(tǒng)能夠通過其頂尖的技術,為所有高端研究應用提供**的解決方案。

研究與開發(fā)

用于幅度/相位調制光譜的連續(xù)和步進掃描技術

用于高時間分辨率實驗的快速,、交叉和步進掃描技術(步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜

對周期性有序微觀材料(即超材料)進行表征

用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜

用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化

酶催化實驗的停流方法

外接超高真空測量腔室

用于電極表面和電解質原位研究的FTIR 光譜電化學

制藥

測定分子的**構型 (VCD)

通過熱分析對藥物產品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進行表征 (TGA-FTIR)

遠紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型

聚合物和化學品

遠紅外譜區(qū)識別聚合物復合材料中的無機填料

聚合物動態(tài)和流變學研究

測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)

反應監(jiān)測和反應控制(中紅外光纖探頭)

識別無機礦物質和顏料

表面分析

薄膜和單分子層檢測與表征

結合偏振調制進行表面分析 (PM-IRRAS)

材料科學

光學和高反射材料(光窗,、反射鏡)的表征

通過光聲光譜學(PAS)研究深色物質和深度剖析

材料的發(fā)射行為表征

半導體

硅晶圓中氧和碳含量的測定

淺能級雜質的低溫透射和光致發(fā)光(PL)測量進行質量控制

創(chuàng)新點

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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
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