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薄膜材料無損檢測光功率熱分析儀(OPA)
薄膜材料無損檢測光功率熱分析儀(OPA)

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型號

品牌

產(chǎn)地

湖北

樣本

暫無
上海昊擴(kuò)科學(xué)器材有限公司

會員

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第2年

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薄膜材料無損檢測光功率熱分析儀(OPA )

本儀器為無損檢測,,并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數(shù)。OPA 的研發(fā)成功,,一舉填補(bǔ)了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數(shù)的國際性技術(shù)空白,, 能測量低至5nm的薄膜材料,。本儀器擁有多項***,具有獨立知識產(chǎn)權(quán),。

創(chuàng)新設(shè)計

利用光干涉原理對透光材料及其配套薄膜熱膨脹系數(shù)的檢測,。

根據(jù)薄膜材料在相變前后光學(xué)性質(zhì)(反射光功率)有較大差異的特性,在程序控制溫度下,,采用一束恒定光功率的激光照射樣品表面,,

并對其反射回的光功率進(jìn)行檢測,確定樣品在對應(yīng)溫度點下的反射光功率,,通過分析形成反射光功率與溫度的變化曲線,,確認(rèn)樣品的包括晶化溫度、熔化溫度等不同結(jié)構(gòu)相之間轉(zhuǎn)變的一級相變,,及其他部分二級相變在內(nèi)的所有相變溫度,。

可以同時測量薄膜相變溫度和熱膨脹系數(shù)

  • 基于三維調(diào)整的光隔離器能有效保護(hù)激光器以及調(diào)整激光通路

  • 搭載聚焦及濾波的傳感模塊能有效提高信號的檢出率

  • 采用高性能長壽命紅外加熱管進(jìn)行加熱,核心加熱區(qū)采用拋物反射面設(shè)計,,確保對樣品進(jìn)行有

    效全方位的加熱

  • 采用 PID 調(diào)節(jié)與模糊控制相結(jié)合的溫控系統(tǒng)可實現(xiàn)系統(tǒng)的高速跟隨控制

  • 可配置 3 種不同加熱爐,,覆蓋溫度范圍 RT~1800℃

  • 直線滾珠軸承作為組件支撐及運(yùn)動導(dǎo)向關(guān)聯(lián)件,確保送樣的平穩(wěn)可靠,,行程限墊可有效確保導(dǎo)

    軌的行程范圍

  • 壓迫式彈針接觸端子確保溫度傳感器的有效接通,,同時其彈力可確保設(shè)備處于鎖緊狀態(tài)時才可

    進(jìn)行加熱操作等事宜,避免誤操作,。

技術(shù)參數(shù)

型號

OPA-300

OPA-1200

OPA-1800

溫度范圍

RT~300

RT~1200

RT~1800

程序升溫重復(fù)性偏差:

1.0%

程序升溫速率偏差:

10.0%

相變溫度測量精密度偏差:

0.5%

相變溫度測量正確度偏差

0.5%

熱膨脹系數(shù)測量精密度偏差

4.5%

熱膨脹系數(shù)測量正確度偏差

<±15%

**工作功率

4.0KW

**升溫速度

3000 /min (50~1800℃,,真空氛圍)

2700 /min (50~1800℃,,N 2 氛圍)

溫場一致性

± 2.0 ℃(1800℃,,真空)

± 4.5 ℃(1800℃,N 2

制冷要求

水冷

極限真空

50Pa

10Pa

1Pa

相變薄膜材料檢測厚度下限

5.0×10 -9 m

熱膨脹分析**量值

5.0×10 -10m

主機(jī)凈重

52Kg

主機(jī)尺寸(W×H×D

510mm×404mm×470mm

樣品要求:

尺寸:長×寬 5 x 5~20 x20 mm2,,厚度 2.0mm(含基底)以下為宜

  • 相變溫度測試樣品:尺寸滿足上述要求,,具備光學(xué)反射平面;

  • 熱膨脹系數(shù)測試樣品:適用于透光材料的熱膨脹系數(shù)檢測,。具備光學(xué)反射雙平面,,不具備此形

    態(tài)的樣品需涂鍍處理,待測薄膜樣品厚度≧266nm,。

應(yīng)用材料

形變記憶合金材料 鐵電,、壓電薄膜材料

相變存儲材料——硫系相變化合物:Ge 2 Sb 2 Te 5 高溫陶瓷薄膜

金屬薄膜材料(研究馬氏體、奧氏體,、貝氏體等) 硬質(zhì)合金薄膜材料

高溫涂層薄膜 復(fù)合薄膜材料

......

應(yīng)用實例

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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薄膜材料無損檢測光功率熱分析儀(OPA)信息由上海昊擴(kuò)科學(xué)器材有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于薄膜材料無損檢測光功率熱分析儀(OPA)報價,、型號,、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢,。
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