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薄膜材料無損檢測光功率熱分析儀(OPA )
本儀器為無損檢測,,并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數(shù)。OPA 的研發(fā)成功,,一舉填補(bǔ)了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數(shù)的國際性技術(shù)空白,, 能測量低至5nm的薄膜材料,。本儀器擁有多項***,具有獨立知識產(chǎn)權(quán),。
創(chuàng)新設(shè)計
利用光干涉原理對透光材料及其配套薄膜熱膨脹系數(shù)的檢測,。
根據(jù)薄膜材料在相變前后光學(xué)性質(zhì)(反射光功率)有較大差異的特性,在程序控制溫度下,,采用一束恒定光功率的激光照射樣品表面,,
并對其反射回的光功率進(jìn)行檢測,確定樣品在對應(yīng)溫度點下的反射光功率,,通過分析形成反射光功率與溫度的變化曲線,,確認(rèn)樣品的包括晶化溫度、熔化溫度等不同結(jié)構(gòu)相之間轉(zhuǎn)變的一級相變,,及其他部分二級相變在內(nèi)的所有相變溫度,。
可以同時測量薄膜相變溫度和熱膨脹系數(shù)
基于三維調(diào)整的光隔離器能有效保護(hù)激光器以及調(diào)整激光通路
搭載聚焦及濾波的傳感模塊能有效提高信號的檢出率
采用高性能長壽命紅外加熱管進(jìn)行加熱,核心加熱區(qū)采用拋物反射面設(shè)計,,確保對樣品進(jìn)行有
效全方位的加熱
采用 PID 調(diào)節(jié)與模糊控制相結(jié)合的溫控系統(tǒng)可實現(xiàn)系統(tǒng)的高速跟隨控制
可配置 3 種不同加熱爐,,覆蓋溫度范圍 RT~1800℃
直線滾珠軸承作為組件支撐及運(yùn)動導(dǎo)向關(guān)聯(lián)件,確保送樣的平穩(wěn)可靠,,行程限墊可有效確保導(dǎo)
軌的行程范圍
壓迫式彈針接觸端子確保溫度傳感器的有效接通,,同時其彈力可確保設(shè)備處于鎖緊狀態(tài)時才可
進(jìn)行加熱操作等事宜,避免誤操作,。
技術(shù)參數(shù)
型號 | OPA-300 | OPA-1200 | OPA-1800 |
溫度范圍 | RT~300 ℃ | RT~1200 ℃ | RT~1800 ℃ |
程序升溫重復(fù)性偏差: | <1.0% | ||
程序升溫速率偏差: | <10.0% | ||
相變溫度測量精密度偏差: | <0.5% | ||
相變溫度測量正確度偏差 | <0.5% | ||
熱膨脹系數(shù)測量精密度偏差 | <4.5% | ||
熱膨脹系數(shù)測量正確度偏差 | <±15% | ||
**工作功率 | 4.0KW | ||
**升溫速度 | 3000 ℃/min (50℃~1800℃,,真空氛圍) | ||
2700 ℃/min (50℃~1800℃,,N 2 氛圍) | |||
溫場一致性 | ± 2.0 ℃(1800℃,,真空) | ||
± 4.5 ℃(1800℃,N 2 ) | |||
制冷要求 | 水冷 | ||
極限真空 | 50Pa | 10Pa | 1Pa |
相變薄膜材料檢測厚度下限 | 5.0×10 -9 m | ||
熱膨脹分析**量值 | 5.0×10 -10m | ||
主機(jī)凈重 | 52Kg | ||
主機(jī)尺寸(W×H×D ) | 510mm×404mm×470mm |
樣品要求:
尺寸:長×寬 5 x 5~20 x20 mm2,,厚度 2.0mm(含基底)以下為宜
相變溫度測試樣品:尺寸滿足上述要求,,具備光學(xué)反射平面;
熱膨脹系數(shù)測試樣品:適用于透光材料的熱膨脹系數(shù)檢測,。具備光學(xué)反射雙平面,,不具備此形
態(tài)的樣品需涂鍍處理,待測薄膜樣品厚度≧266nm,。
應(yīng)用材料
形變記憶合金材料 鐵電,、壓電薄膜材料
相變存儲材料——硫系相變化合物:Ge 2 Sb 2 Te 5 高溫陶瓷薄膜
金屬薄膜材料(研究馬氏體、奧氏體,、貝氏體等) 硬質(zhì)合金薄膜材料
高溫涂層薄膜 復(fù)合薄膜材料
......
應(yīng)用實例
暫無數(shù)據(jù),!