產(chǎn)品概述

Innovate T5型全譜直讀光譜儀采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù),，應(yīng)用了日本濱松公司先進(jìn)的CMOS信號(hào)采集元件,，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)置火花個(gè)數(shù)，與國(guó)際光譜儀先進(jìn)技術(shù)同步,，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源,。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性,，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限,，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué),，具有數(shù)據(jù)精確,，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。

應(yīng)用范圍

鑄造,、冶金,、機(jī)械加工、消防,、航空航天,、金屬加工、金屬材料質(zhì)量鑒定,、新材料開(kāi)發(fā)

主要特點(diǎn)

CCD+CMOS全譜分析技術(shù)

豐富的譜線信息,，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度,；

基于全譜測(cè)量的數(shù)據(jù),，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測(cè)量精度,；智能選擇合適的靈敏線,，通過(guò)多譜線結(jié)合技術(shù),，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測(cè)需求；

基于全譜測(cè)量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù),，有效消除譜線干擾,，實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量；

標(biāo)準(zhǔn)工廠校準(zhǔn)曲線

在分析過(guò)程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正,，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性,；減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長(zhǎng)校正周期,；自動(dòng)完成儀器校正,，操作更加簡(jiǎn)便；豐富的譜線信息,，分析靈敏線更多,，保證分析的準(zhǔn)確度；

獨(dú)特的CMOS檢測(cè)技術(shù)優(yōu)于CCD

CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度,；

CMOS相比CCD具有更好的線性度,；

CMOS相比CCD具有極高的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳,、磷、硫,、硼,、砷、氮等短波元素的檢測(cè)更準(zhǔn)確,。

創(chuàng)新點(diǎn)

**CMOS全譜接收技術(shù),；

人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止,；

一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),；

可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)；

可分析Fe,、Al,、Cu、Zn,、Ni,、Ti、Mg,、Co等多種基體,；

波長(zhǎng)范圍140-680nm，可滿足更多元素的分析要求,。

技術(shù)參數(shù)