NanoEye

每一納米均納入計算

量程與分辨率的新的標(biāo)桿

對于傳統(tǒng)的熱膨脹儀，測試量程與分辨率這兩個參數(shù)很難兩全：高分辨率只能在很小的量程中實現(xiàn),；如果要得到較大量程,，只能犧牲一定的分辨率。

新型自反饋光電位移測量系統(tǒng) NanoEye 克服了這一技術(shù)上的矛盾,，能夠同時提供高分辨率,、線性度與無以匹敵的寬廣量程。

高靈活性與測樣效率

儀器為雙爐體結(jié)構(gòu),，可同時安裝兩個不同的爐體,，覆蓋從180℃到2000℃的寬廣的溫度范圍。另一配置方案是配備兩個相同的爐體交替使用,，再結(jié)合雙桿樣品支架,、在雙樣品模式下進(jìn)行測試，可以大大地縮短測樣周期,，提高儀器使用效率,。

Expedis Select / Supreme 提供了眾多的配置選擇：單爐體 / 雙爐體，手動 / 馬達(dá)驅(qū)動的爐體操作,，單 / 雙樣品支架,，管狀 / 桿狀樣品支架，等等等等,。豐富的配置是為了適應(yīng)各類應(yīng)用場合,。

自動長度測試與 MultiTouch

傳統(tǒng)的熱膨脹儀通常使用卡尺進(jìn)行樣品原始長度的測量，這可能加大測量結(jié)果的不確定性,，特別對于柔軟的樣品,。DIL 402 Expedis 可以在測試開始之前，在與測試本身等同的條件（頂桿接觸位置,、接觸力）下自動測量樣品的初始長度,。

對于可靠的熱膨脹測量，樣品在樣品支架內(nèi)具有穩(wěn)定的置放位置相當(dāng)關(guān)鍵,。DIL 402 Expedis 的 MultiTouch 功能使用獨特的尾式頂樣操作,，自動將樣品的置放位置調(diào)至合適。

DIL 402 Expedis 的熱電偶位置可以靈活調(diào)整,，以適應(yīng)不同的樣品長度,。通過導(dǎo)向桿，可將熱電偶調(diào)整至與樣品長短相匹配的合適的位置,，無需彎曲熱電偶,。

支持 3 路外接氣體；可連接到逸出氣體分析

如果使用的是三路質(zhì)量流量控制器（MFC,，選件）,，氣體路徑在儀器內(nèi)部是分開的：保護(hù)氣先經(jīng)過測量單元，然后進(jìn)入樣品室,，而吹掃氣（兩路）則直接進(jìn)入樣品室,，保護(hù)氣和吹掃氣都通過爐體的出氣口排出。

DIL 402 Expedis 儀器爐體為真空密閉設(shè)計,，配備的 SiC 爐體非常適合通過毛細(xì)管與 QMS 或者 FTIR 進(jìn)行聯(lián)用,，在測試過程中對逸出的雜質(zhì),、添加劑、有機(jī)粘合劑及分解產(chǎn)物進(jìn)行深入研究分析,。

寬廣的溫度范圍

我們提供兩種不同的石墨爐體,，溫度分別為 2400°C 與 2800°C，提供了合適的配置以測量金屬,、合金,、陶瓷、復(fù)合材料等的熱膨脹,，適用于如航空航天,、新能源、石油/天然氣,、或其他研究領(lǐng)域,。

通過適配器，可將石墨爐體替換成標(biāo)準(zhǔn)爐體,，例如 SiC，SiO2,，Cu 或不銹鋼,。也可以反過來配置：配備了標(biāo)準(zhǔn)爐體的 DIL 402 Expedis Supreme HT 的測量單元在后續(xù)也可改裝使用高溫爐體。

高溫計,，可在**溫度下進(jìn)行檢測

由于 W-Rh 熱電偶在 2000°C 以上可能跟石墨反應(yīng),，DIL 402 Expedis Supreme HT 的樣品溫度是使用高性能的高溫計、以光學(xué)方式進(jìn)行檢測的,，可從室溫一直檢測到高溫度,。

精心設(shè)計系統(tǒng)

儀器擁有精心設(shè)計系統(tǒng),，可以對流經(jīng)測量系統(tǒng)的冷卻水與吹掃氣流進(jìn)行實時監(jiān)控。

可變的氣氛

DIL 402 Expedis Supreme HT 的爐體與樣品室之間以保護(hù)套管（玻璃碳或氧化鋁材質(zhì)）進(jìn)行隔離,，因此可以對樣品,、以及加熱元件使用不同的氣氛。在使用氧化鋁保護(hù)套管（高溫度：1680°C）的情況下,，甚至可以為樣品使用空氣氣氛,。

儀器可以配備 AutoVac 系統(tǒng)，對樣品室進(jìn)行抽真空與充填,，再加上內(nèi)置的對高溫計窗口的吹掃功能,，可以在氧化性與惰性氛圍間進(jìn)行直接切換。