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日立FT110A概要：
自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產(chǎn)品FT110A。在測量精度,、操作性能,、軟件上有新的優(yōu)化。
通過自動定位功能,，只需把樣品放在樣品臺上,，便能在數(shù)秒內(nèi)自動對準(zhǔn)觀察樣品焦點，省略了以前手動逐次對焦的操作,，大幅提高了測量效果,。
型號名稱：FT110A
測量元素：原子序數(shù)22（Ti）~83（Bi）
檢測器：比例計數(shù)管
X射線管：管電壓：50kV 管電流：1mA
準(zhǔn)直器：4種（Φ0.05mm、Φ0.1mm,、Φ0.2mm,、Φ0.025×0.4mm）
樣品觀察：CCD攝像頭（可進行廣域觀察）
X-Ray Station：電腦,、19英寸液晶顯示器
膜厚測量軟件：薄膜EP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法
測量功能：自動測量,、中心搜索
定性功能：KL標(biāo)記,、比較表示
使用電源：220V/7.5A
特長：
1.自動對焦功能 自動接近功能
在樣品臺上放置各種高度的樣品時，只要高低差在80mm范圍內(nèi),，即可在3秒內(nèi)自動對焦被測樣品,。由此進一步提高定位操作的便捷性。
●自動對焦功能 簡便的攝像頭對焦
●自動接近功能 *適合位置的對焦
2.通過新 薄膜FP法提高測量精度
實現(xiàn)微小光束的高靈敏度,，通過微小準(zhǔn)直器提高了膜厚測量精度,。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外,，針對檢測器的特性開發(fā)了新的EP法,，可進行無標(biāo)樣測量。測量結(jié)果可一鍵生成報告書,，簡單方便,。
●新 薄膜EP法
減少檢量線制作的繁瑣程度、實現(xiàn)了設(shè)定測量條件的簡易化
無標(biāo)樣測量方法可進行*多5層的膜厚測量
●自動對焦功能和距離修正功能
凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量
●靈敏度提高
鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2
●生成報告功能
一鍵生成測量報告書
3.廣域樣品觀察
對測量平臺（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態(tài)畫面后,，可在獲取的廣域觀察圖像上指定狹域的觀察位置,。由此，可大幅減少多數(shù)測量點位置的選取時間,，以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間,。
●廣域圖像觀察 輕松定位
暫無數(shù)據(jù)！
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