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在科研領域,，研究進展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項挑戰(zhàn)。SYNAPT XS質譜儀具有**靈活性,，可提供更大的選擇自由度,，能夠打破這些壁壘，支持任何應用的科學創(chuàng)新和技術成功,。
• 創(chuàng)新技術作為基石,，提供**異的分析性能
• SONAR和HDMSE提供一套獨特的工具包，用于解析復雜混合物
• 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性
• CCS測量可提高化合物鑒定的準確性
憑借沃特世高級質譜“SELECT SERIES”傳承下來的技術基石,，內置先進的創(chuàng)新技術,，確保使用該平臺的科學家處于質譜分析的*前沿，同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程,。
StepWave XS
重新設計的分段四極桿傳輸光學元件,，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時進一步提高分析穩(wěn)定性。
Extended ToF
針對*復雜的樣品,，提供兼容UPLC的質量分辨率,、耐受各種基質的動態(tài)范圍和定量分析結果，同時提供**的性能指標,。
為有效解決固有難題,，分析人員對各種分析策略的需求不斷增加，因此,，SYNAPT XS將高性能與**靈活性相結合,。競爭對手的系統(tǒng)大多存在入口選項有限、掃描功能局限性或需要多個平臺等問題,。與之相比,，只有沃特世能夠提供全方位的高性能LC-MS解決方案，該方案經(jīng)過專門設計,，能夠提供更大的分析選擇自由度以支持科學研究,。
完整的分析策略需要結合適當?shù)幕パa技術才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息,。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式,，分析人員能夠利用互補機制，以****的方式解析復雜混合物,。兩種類型的采集均提高了分析峰容量,，提供“清晰明了”的碎片數(shù)據(jù)，但它們基于不同的分子特性,。這提供了一種真正獨有的研究工具包,，適用于深入解析復雜混合物。
傳統(tǒng)質譜儀基于m/z分離組分,。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中,，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù),，對分子進行分離,。 除離子淌度能提供額外的分離維度、增加峰容量和分析選擇性以外,，CCS測量還可提供額外的分子標識,。離子CCS的測量結果有助于確定離子名稱或研究其結構。運用離子淌度技術,，顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度,。
TriWave的雙碰撞室結構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉移解離(ETD)碎裂，且分辨率高,、質量測定準確,，能夠拓展MS/MS檢測能力。 高解析度四極桿包括4 KDa,、8 KDa或32 KDa質量數(shù)范圍,，適用于從小分子到大分子的MS/MS分析
時間校準平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS設計所獨有的采集模式。它使用戶能夠利用TriWave配置,，允許將IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作為兩個單獨的碰撞室運行,。得到的CID-IMS-CID儀器操作有助于對組分進行超高可信度的結構表征。TAP碎裂與傳統(tǒng)MSn或MS/MS技術相比,，具備**的碎片離子覆蓋率,、靈敏度和準確性，在構建完整結構方面有著不容置疑的優(yōu)勢,。
暫無數(shù)據(jù),！
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