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一,、儀器概述
AES-8000交直流電弧發(fā)射光譜儀采用高靈敏度CMOS作為檢測器,,波段范圍內(nèi)實現(xiàn)全譜采集,可廣泛應(yīng)用于地質(zhì),、有色、化工等行業(yè),。無需樣品溶解,,對粉末樣品直接進行分析,是難溶粉末樣品中微量及痕量元素定性,、定量分析的理想儀器方案,。
二、典型應(yīng)用
1.地質(zhì)樣品中Ag,、Sn,、B、Mo,、Pb,、Zn、Ni,、Cu等元素的同時測定,;也可用于地質(zhì)樣品中痕量貴金屬元素的檢測(分離富集后);
2.高純金屬,、高純氧化物中幾到幾十種雜質(zhì)元素的測定,,粉末狀樣品如鎢、鉬,、鈷,、鎳、碲,、鉍,、銦、鉭,、鈮等,;
3.陶瓷、玻璃,、煤灰等難溶粉末樣品中微量及痕量元素的分析,。
地球化學(xué)勘查樣品不可缺少的配套分析方案之一
高純物質(zhì)中雜質(zhì)成分檢測的理想選擇
三、儀器特點
高效的光學(xué)成像系統(tǒng)
采用Ebert-Fastic光學(xué)系統(tǒng)及三透鏡光路,,有效去除雜散光,,消除光暈及色差,,減小背景,增強聚光能力,,分辨率良好,,譜線質(zhì)量均勻,充分繼承了一米光柵攝譜儀光路的優(yōu)勢,。
●光路結(jié)構(gòu)緊湊,,靈敏度高;
●成像質(zhì)量好,,焦平面直,;
●倒線色散率0.64nm/mm;
●理論光譜分辨率0.003nm(300nm),。
高性能線陣CMOS傳感器及高速采集系統(tǒng)
●采用紫外靈敏CMOS傳感器,,靈敏度高,動態(tài)范圍寬,,溫度漂移?。粺o需鍍膜,,無器件光譜增寬效應(yīng),,無膜層老化問題。
●基于FPGA技術(shù)的高速多CMOS同步采集及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),,在完成分析元素譜線自動測量的同時,,還實現(xiàn)了同步譜線自動校準(zhǔn)、背景自動扣除等功能,。
交直流電弧激發(fā)光源
交流,、直流電弧切換方便,根據(jù)測試不同的樣品,,選擇合適的激發(fā)模式,,有利于提高分析測試效果。如非導(dǎo)電性樣品選擇交流模式,,導(dǎo)電性樣品選擇直流模式,。
電極自動對準(zhǔn)
上下電極根據(jù)軟件參數(shù)設(shè)置,自動運動到指定位置,,激發(fā)完成后移開更換電極,,操作方便,對準(zhǔn)精度高,。
方便的觀察窗
**電極成像投影技術(shù)將激發(fā)過程全部顯示在儀器前方的觀察窗上,,方便用戶觀察激發(fā)室內(nèi)樣品激發(fā)情況,有助于了解樣品性質(zhì)及激發(fā)行為,。
功能強大的分析軟件
●實時譜線自動校準(zhǔn),,消除儀器漂移影響,;
●背景自動扣除,減小人為因素的干擾,;
●通過譜線分離算法,,減小光譜干擾影響;
●多譜線測定自動切換,,拓寬檢測含量范圍,;
●兩種擬合方式相結(jié)合,提高樣品分析的準(zhǔn)確度,;
●豐富的譜線信息,,拓寬分析應(yīng)用領(lǐng)域;
●專用分析軟件,,適合不同樣品測試需求。
●方便的數(shù)據(jù)后處理功能,,縮短實驗過程,,數(shù)據(jù)處理更加靈活;
安全保護
●電極夾冷卻循環(huán)水水流監(jiān)控,,避免電極夾高溫?zé)龘p,;
●激發(fā)室門安全連鎖,保護操作人員安全,。
四,、儀器參數(shù)
光路形式 | 垂直對稱式 Ebert-Fastic型 | 電流范圍 | 2~20A(交流) 2~15A(直流) |
平面光柵刻線 | 2400條/mm | 激發(fā)光源 | 交/直流電弧 |
光路焦距 | 600mm | 重量 | 約180Kg |
理論光譜 分辨率 | 0.003nm(300nm) | 外形尺寸(mm) | 1500(L)×820(W)×650(H) |
倒線色散率 | 0.64nm/mm(一級) | 分光室恒溫 | 35OC±0.1OC |
采集系統(tǒng) | 高性能CMOS傳感器 基于FPGA技術(shù)的同步高速采集系統(tǒng) | 環(huán)境條件 | 室溫15 OC~30 OC 相對濕度<80% |
暫無數(shù)據(jù)!