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全新的電子光學(xué)系統(tǒng)靈敏度高,,即使在*復(fù)雜的表面化學(xué)分析中,,如傳統(tǒng)的材料和合成生物技術(shù),,納米以及制藥行業(yè)中,,K-Alpha都可以進行詳細分析。其特點是對小材料的分析能力,,并結(jié)合高靈敏度,,實現(xiàn)快速、化學(xué)態(tài)成像采集,。完整的離子源提供了高分辨率的深度形態(tài)分析,,因此完成真正的三維分析。
結(jié)構(gòu)緊湊的設(shè)計以及內(nèi)置系統(tǒng)校正特色,,正是實現(xiàn)了目前賽默飛世爾公司產(chǎn)品所倡導(dǎo)的分析產(chǎn)品的宗旨:功能強大,,低運行成本。
技術(shù)參數(shù):
K-Alpha光電子能譜儀(XPS)
表面分析中一盞閃耀明燈
● 微聚焦單色化XPS,,高精度鑒別化學(xué)態(tài)
● 全自動操作,,快速準確地分析表面化學(xué)表征
● 高靈敏度化學(xué)成像
● 高分辨率深度剖析
● 可進行包括絕緣樣品在內(nèi)各種樣品的小面積XPS分析
● 使用獨特的反射光學(xué)系統(tǒng)輕松對準分析區(qū)域
● **技術(shù)的自動中和裝置
● 大大改善了儀器使用的簡便性、安全性和穩(wěn)定性
● 穩(wěn)固保持儀器**性能,,可隨時自動校準儀器參數(shù)
● **限度提高了樣品分析通量
● 堅固和一體化設(shè)計
良好的性價比,,降低了使用者成本
主要特點:
K-Alpha XPS可以對固體材料進行納米級表面化學(xué)成分的定量分析。無論是絕緣體,,半導(dǎo)體以及金屬物質(zhì),,在用戶友好型界面下,全自動,、穩(wěn)定地完成檢測,。這款創(chuàng)新的檢測系統(tǒng)特別為高通量樣品分析所設(shè)計,并且結(jié)合了獨特的數(shù)據(jù)處理運算方法,,從而實現(xiàn)了從數(shù)據(jù)采集,,數(shù)據(jù)解析到生成報告的自動化。
暫無數(shù)據(jù),!