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Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)在提供全自動、高通量的多技術分析的同時,，保持研究級的高質量分析檢測結果,。集成ISS、UPS,、REELS,、拉曼等多種分析技術于一身，用戶因此能夠進行真正意義上的聯(lián)合多技術分析,，從而為微電子,、超薄薄膜、納米技術開發(fā)以及許多其他應用進一步取得進展釋放潛能,。

描述

材料分析和開發(fā)

Nexsa 能譜儀具有分析靈活性,，可**限度地發(fā)揮材料潛能。在使結果保持研究級質量水平的同時,，以可選多技術聯(lián)合的形式提供靈活性,，從而實現(xiàn)真正意義上多技術聯(lián)合的分析檢測和高通量。

標準化功能催生強大性能：

·絕緣體分析

·高性能XPS性能

·深度剖析

·多技術聯(lián)合

·雙模式離子源,，使深度剖析功能得到擴展

·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊

·用于儀器控制,、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的 Avantage 軟件

·小束斑分析

可選的升級：可將多種分析技術集成到您的檢測分析中。式自動運行

·ISS：離子散射譜,，分析材料*表面1-2原子層元素信息,，通過質量分辨可分析一些同位素豐度信息。

·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結構信息以及材料表面功函數(shù)信息

·拉曼：拉曼光譜技術用于提供分子結構層面的指紋信息

·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結構和帶隙信息

SnapMap

借助 SnapMap 的光學視圖,，聚焦于樣品特征,。光學視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域，同時生成完全聚焦的 XPS 圖像,，以進一步設置您的實驗,。

1.X 射線照射樣品上的一個小區(qū)域。

2.收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀

3.隨著樣品臺的移動,，不斷收集元素圖譜

4.在整個數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測樣品臺位置,，這些位置的圖譜成像用來生成 SnapMap

應用領域

·電池

·生物醫(yī)藥

·催化劑

·陶瓷

·玻璃涂層

·石墨烯

·金屬和氧化物

·納米材料

·OLED

·聚合物

·半導體

·太陽能電池

·薄膜