看了Nexsa X射線光電子能譜儀的用戶又看了
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Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)在提供全自動,、高通量的多技術(shù)分析的同時,,保持研究級的高質(zhì)量分析檢測結(jié)果。集成ISS,、UPS,、REELS、拉曼等多種分析技術(shù)于一身,,用戶因此能夠進(jìn)行真正意義上的聯(lián)合多技術(shù)分析,,從而為微電子、超薄薄膜,、納米技術(shù)開發(fā)以及許多其他應(yīng)用進(jìn)一步取得進(jìn)展釋放潛能,。
描述
材料分析和開發(fā)
Nexsa 能譜儀具有分析靈活性,可**限度地發(fā)現(xiàn)材料潛能,。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時,,以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性,從而實(shí)現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測和高通量,。
標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能:
·絕緣體分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技術(shù)聯(lián)合
·雙模式離子源,,使深度剖析功能得到擴(kuò)展
·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
·用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
·小束斑分析
可選的升級:可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中,。式自動運(yùn)行
·ISS:離子散射譜,,分析材料*表面1-2原子層元素信息,通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息,。
·UPS:紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價帶能級結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
·拉曼:拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
·REELS:反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構(gòu)和帶隙信息
SnapMap
借助 SnapMap 的光學(xué)視圖,,聚焦于樣品特征。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域,,同時生成完全聚焦的 XPS 圖像,,以進(jìn)一步設(shè)置您的實(shí)驗(yàn),。
1.X 射線照射樣品上的一個小區(qū)域。
2.收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀
3.隨著樣品臺的移動,,不斷收集元素圖譜
4.在整個數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測樣品臺位置,,這些位置的圖譜成像用來生成 SnapMap
應(yīng)用領(lǐng)域
·電池
·生物醫(yī)藥
·催化劑
·陶瓷
·玻璃涂層
·石墨烯
·金屬和氧化物
·納米材料
·OLED
·聚合物
·半導(dǎo)體
·太陽能電池
·薄膜
暫無數(shù)據(jù)!