看了Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
儀器簡介：
納米粒度測量——**動態(tài)光背散射技術
隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低,，使得經典動態(tài)光散射技術的自相關檢測（PCS）變得更加不確定。40多年來,，Microtrac公司一直致力于激光散射技術在顆粒粒度測量中的應用,。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年,，超細顆粒分析儀器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研發(fā)成功,，**引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布,。2001年,，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術，結合動態(tài)光散射理論和先進的數(shù)學處理模型,，NPA150/250將分析范圍延伸至0.3nm-10μm,，樣品濃度更可高達百分之四十，基本實現(xiàn)樣品的原位檢測,。異相多普勒頻移技術采用可控參考穩(wěn)定頻率,，直接比照因顆粒的布朗運動而產生的頻率漂移，綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度,，較之于傳統(tǒng)的自相關技術,，信號強度高出幾個數(shù)量級。另外,，新型“Y”型梯度光纖探針的使用,，實現(xiàn)了對樣品的直接測量，極大的減少了背景噪音,，提高了儀器的分辨率。
Zeta電位測量：
美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解,，經過多年的市場調研和潛心研究,，開發(fā)出**一代Nanotrac wave II微電場分析技術，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,，無需傳統(tǒng)的比色皿,，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術相比,，Nanotrac wave II采用先進的"Y"型光纖探針光路設計,，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速,，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,，完全消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失,，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異,，分散介質的影響,，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠,，重現(xiàn)性好,。
技術參數(shù)：
| 粒度分析范圍: | 0.3nm-10μm |
| 重現(xiàn)性： | 誤差≤1% |
| Zeta電位測量范圍： | -200mV~200mV |
| 電導率： | 0-200ms/cm |
| 濃度范圍： | 100ppb-40%w/v |
| 檢測角度： | 180° |
| 分析時間： | 30-120秒 |
| 準確性： | 全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 |
| 測量精度: | 無需預選，依據(jù)實際測量結果,，自動生成單峰/多峰分布結果 |
| 理論設計溫度： | 0-90℃,，可以進行程序升溫或降溫 |
| 兼容性： | 水相和有機相 |
| 測量原理： | 粒度測量：動態(tài)光背散射技術和全量程米氏理論處理 Zeta電位測量：膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率 分子量測量：水力直徑或德拜曲線 |
| 光學系統(tǒng)： | 5mW780nm半導體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品,，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,，無需校正光路 |
| 軟件系統(tǒng)： | 先進的Microtrac FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形,，數(shù)據(jù)輸出/輸入,，個性化輸出報告，及各種文字處理功能,，如PDF格式輸出,， Internet共享數(shù)據(jù)，Microsoft Access格式（OLE）等,。體積,，數(shù)量，面積及光強分布,，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù),。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護,，電子簽名和指定授權等,。 |
| 外部環(huán)境： | 電源要求：90-240VAC，5A,，50/60Hz 環(huán)境要求：溫度,，10-35°C |
| 國際標準 | 符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008 |
主要特點：
﹡ 采用**的動態(tài)光散射技術,，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法
﹡ **的:“Y”型光纖光路系統(tǒng),，通過藍寶石測量窗口,，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下,，與膜電極對應產生微電場,，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化,。
﹡ **的異相多譜勒頻移技術,，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,，提高分析結果的可靠性,。
﹡ **的可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,，確保分析的靈敏度,。
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性,。
﹡ **的快速傅利葉變換算法（FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method）,，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,，縮短分析時間。
﹡ **膜電極設計,，避免產生熱效應,，能準確測量顆粒電泳速度。
﹡ 無需比色皿,，毛細管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果
﹡ 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質的影響,，多重散射的衰減等，提高靈敏度
暫無數(shù)據(jù),！
Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀的工作原理介紹,？Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀的使用方法,？Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀多少錢一臺？Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀使用的注意事項Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀的說明書有嗎,？Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀的操作規(guī)程有嗎,？Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀的報價含票含運費嗎？Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀有現(xiàn)貨嗎,？Microtrac納米粒度及Zeta電位分析儀包安裝嗎,？
移動端
工商已核實
