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公司介紹：

美 國(guó)麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上***的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商,，其先進(jìn)的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料,，冶金,，制藥，石油,，石化,，陶瓷，**等領(lǐng)域,，并成為眾多行業(yè)指定的質(zhì)量檢測(cè)和控制的分析儀器,。Microtrac Inc.公司非常注重技術(shù)創(chuàng)新，近半個(gè)世紀(jì)以來(lái),，一直**著激光粒度分析的前沿技術(shù),，可靠的產(chǎn)品和強(qiáng)大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其不斷超越自我,，推陳出新,，獨(dú)領(lǐng)風(fēng)騷。

Microtrac在在線顆粒大小和形狀測(cè)量方面有超過(guò)25年經(jīng)驗(yàn),，了解過(guò)程加工環(huán)境的所有需求,，在線測(cè)量的好處就是讓操作者能實(shí)時(shí)的看到過(guò)程的變化，使他們立即作出反應(yīng),，得到高質(zhì)量的產(chǎn)品,。

Microtrac S3500系列產(chǎn)品

藍(lán)波2型(BWDL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2，800μm,；干法測(cè)量范圍：0.25-2,，800μm藍(lán)波1型(BWSL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2，000μm,；干法測(cè)量范圍：0.25-2,，000μm

增強(qiáng)型(Enhanced):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,，800μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,，800μm

擴(kuò)展型(eXtended):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,，000μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,，000μm

特殊型(speciaL) : 濕法測(cè)量范圍：0.09-1,，500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,，500μm

標(biāo)準(zhǔn)型(Standard):濕法測(cè)量范圍：0.25-1,，500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,，500μm

高端型(High) : 濕法測(cè)量范圍：2.75-2,，800μm；干法測(cè)量范圍：2.75-2,，800μm

基本型(Basic) : 濕法測(cè)量范圍：0.70-1,，000μm；干法測(cè)量范圍：0.70-1,，000μm技術(shù)參數(shù)：

﹡測(cè)量范圍:0.01μm-2,，800μm; 測(cè)量精度:0.6%; 測(cè)量時(shí)間:10-30 秒; 所需樣品量:0.05-2g;

兼容性:與任何常用有機(jī)溶劑兼容

﹡光源: 三束3mW 780nm固體二極管激光器， 電腦控制自動(dòng)校準(zhǔn); 準(zhǔn)直功能:電腦控制自動(dòng)對(duì)光;

光路:固定光學(xué)平臺(tái),，傅利葉光路結(jié)合雙透鏡技術(shù)

﹡接受角度:0.02-163°; 檢測(cè)器:高靈敏硅光電二極管; 檢測(cè)器數(shù)量:151個(gè)對(duì)數(shù)方式優(yōu)化排列

﹡操作靈活:兼容 Windows 98,， 2000， NT和XP等操作系統(tǒng); 報(bào)告格式:體積,，數(shù)量和面積分布,，包

括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)以O(shè)DBC形式輸出兼容其他統(tǒng)計(jì)分析軟件和文字

處理軟件; 安全性:數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求

﹡環(huán)境要求:溫度10-35℃; 相對(duì)濕度:小于90%; 電源要求:90-240 VAC,， 5A,，50/60Hz; 主機(jī)

尺寸:高度33cm， 寬度55.9cm,， 深度37.5cm,， 重量25Kg

﹡標(biāo)準(zhǔn)化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

﹡完整配置:固定光學(xué)平臺(tái)， 樣品分散系統(tǒng),， 計(jì)算機(jī)/打印機(jī),， 數(shù)據(jù)處理軟件

主要特點(diǎn)：

﹡**Tri-Laser激光系統(tǒng)， 完全消除了不同波長(zhǎng)光源對(duì)顆粒散射光分布“連接點(diǎn)”的影響和

多次米氏理論（Mie Theory）數(shù)學(xué)處理的誤差（米氏理論處理與波長(zhǎng)有關(guān)）,。

﹡**“Bluewave”激光技術(shù),，拓展測(cè)量下限至0.01μm。

﹡無(wú)需掃描，同步接受全量程散射光信號(hào),，保證分

析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率,。

﹡**引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因子，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù),，

提高顆粒粒度分布測(cè)試的準(zhǔn)確性,。

﹡系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)光，內(nèi)置輔助光源用于檢驗(yàn)和校正檢測(cè)器的靈敏度,。

﹡多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇，各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡(jiǎn)單方便,，結(jié)果穩(wěn)定一致,。

﹡現(xiàn)代模塊式設(shè)計(jì)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置,，以滿足將來(lái)的任何需要,。

﹡數(shù)據(jù)處理靈活方便，體積分布,，數(shù)量分布和強(qiáng)度分布,，微分與累計(jì)百分比以及其他綜合報(bào)告

形式任意組合，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)兼容性強(qiáng),。

﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)指定認(rèn)證儀器,。