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儀器簡(jiǎn)介:
納米粒度測(cè)量——先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小,例如分子級(jí)別的大小,顆粒對(duì)光的散射效率急劇降低,,使得經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測(cè)(PCS)變得更加不確定,。40多年來(lái),Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測(cè)量中的應(yīng)用,。作為行業(yè)的先鋒,,早在1990年,超細(xì)顆粒分析儀器 UPA(UltrafineParticle Analyzer)研發(fā)成功,,**引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,,快速準(zhǔn)確地得到被測(cè)體系的納米粒度分布。2001年,,利用背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(HeterodyneDoppler Frequency Shifts)技術(shù),,結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和先進(jìn)的數(shù)學(xué)處理模型,NPA150/250將分析范圍延伸至0.3nm-10μm,,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十,,基本實(shí)現(xiàn)樣品的原位檢測(cè)。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率,,直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的頻率漂移,,綜合考慮被測(cè)體系的實(shí)時(shí)溫度和粘度,較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù),,信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),。另外,新型“Y”型梯度光纖探針的使用,,實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品的直接測(cè)量,,極大的減少了背景噪音,提高了儀器的分辨率,。
測(cè)量原理:
粒度測(cè)量:動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
分子量測(cè)量:水力直徑或德拜曲線(xiàn)
光學(xué)系統(tǒng):
3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,,通過(guò)梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號(hào),,無(wú)需校正光路
軟件系統(tǒng):
先進(jìn)的Microtrac FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力,,包括圖形,數(shù)據(jù)輸出/輸入,,個(gè)性化輸出報(bào)告,,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出,, Internet共享數(shù)據(jù),,Microsoft Access格式(OLE)等。體積,,數(shù)量,,面積及光強(qiáng)分布,,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,,包括口令保護(hù),,電子簽名和指定授權(quán)等。
外部環(huán)境:
電源要求:90-240VAC,,5A,,50/60Hz
環(huán)境要求:溫度,10-35°C
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):符合ISO13321,,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點(diǎn):
• 采用先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),,引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
• 異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,,獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),,提高分析結(jié)果的可靠性。
• 可控參比方法(CRM),,能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,,確保分析的靈敏度。
• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)試的準(zhǔn)確性,。
• 快速傅利葉變換算法(FFT,,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的能譜,,縮短分析時(shí)間,。
• 膜電極設(shè)計(jì),避免產(chǎn)生熱效應(yīng),,能準(zhǔn)確測(cè)量顆粒電泳速度,。
• 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,,樣品池位置不同帶來(lái)的誤差,,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,,多重散射的衰減等,,提高靈敏度。
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