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鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200品牌
金埃譜產地
北京樣本
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SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡,。擁有出色的成像質量,、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像,。
大景深,，成像富有立體感。豐富的擴展性,，助您在顯微成像的世界中盡情探索,。
碳材料樣品，低電壓下,，穿透深度較小,，可以獲取樣品表面真實形貌，細節(jié)更豐富,。 毛發(fā)樣品,，在低電壓下，電子束輻照損傷減小,，同時消除了荷電效應,。 過濾纖維管材料，導電性差,，在高真空下荷電明顯,，在低真空下，無需鍍膜即可實現對不導電樣品的直接觀察,。 生物樣品,，采用大視場觀察，能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結構細節(jié),，展現跨尺度分析,。 想看哪里點哪里,，導航更輕松 可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動,、框選放大,，進行快捷導航 采取多維度的防碰撞方案： 直觀反映整個視野的像散程度,，通過鼠標點擊清晰處,，可快速調節(jié)像散至**。 一鍵聚焦,，快速成像,。 一鍵消像散，提高工作效率,。 一鍵自動亮度對比度,，調出灰度合適圖像。 SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像,?？赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和 拖動一條線,，圖像立刻“擺正角度”,。 掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察，更可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析,。 背散射電子成像模式下,，荷電效應明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息,。 鍍層樣品： 鎢鋼合金樣品： 探測器設計精巧,，靈敏度高，采用4分割設計,，無需傾斜樣品,，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。 四個單通道的陰影像 成分像 LED小燈珠能譜面分析結果,。 鎢燈絲電鏡束流大,，完全滿足高分辨EBSD的測試需求，能夠對金屬,、陶瓷,、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。低電壓
低真空
大視場
導航&防碰撞
光學導航
標配倉內攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片,，快速定位樣品,。
手勢快捷導航
如框選放大：在低倍導航下，獲得樣品的大視野情況,，可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,，提高工作效率。
防碰撞技術
1. 手動輸入樣品高度,，精準控制樣品與物鏡下端距離,，防止發(fā)生碰撞；
2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術,，運動過程中對倉內的畫面進行實時監(jiān)測,；
3. 硬件防碰撞,，可在碰撞一瞬間停止電機,，減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能）
特色功能
智能輔助消像散
自動聚焦
自動消像散
自動亮度對比度
多種信息同時成像
成分信息。
快速圖像旋轉
豐富拓展性
SEM3200接口豐富,，除支持常規(guī)的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）,、X射線能譜儀（EDS）外,，也預留了諸多接口,，如電子背散射衍射（EBSD）、陰極射線（CL）等探測器都可以在SEM3200上進行集成,。背散射電子探測器
二次電子成像和背散射電子成像對比
四分割背散射電子探測器——多通道成像
能譜
電子背散射衍射
該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,，能夠識別晶粒大小和取向,，判斷晶界和孿晶，對材料組織結構進行精確判斷,。
暫無數據,！
摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應用的藥物輔料，因為具有良好的抗粘性,、增流性和潤滑性在制劑生產中具有十分重要的作用,，作為常用的藥用輔料潤滑劑，比表面積對硬脂酸鎂有很大的影響,，硬脂酸鎂的比表面積越大,，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點、高硬度,、高耐磨性,、耐氧化等一系列特點，被廣泛應用于電子工業(yè),、汽車工業(yè),、紡織、化工,、航空航天等國民經濟的各個領域,。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結構，是掃描電鏡重要的應用領
2022-09-27
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國儀量子電鏡在芯片鈍化層開裂失效分析的應用報告一,、背景介紹在半導體芯片制造領域,，芯片鈍化層扮演著至關重要的角色。它作為芯片的 “防護鎧甲”,，覆蓋在芯片表面,，隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質以及機械應力等不利
鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的工作原理介紹,？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的使用方法,？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200多少錢一臺？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200使用的注意事項鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的說明書有嗎,？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的操作規(guī)程有嗎,？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的報價含票含運費嗎？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200有現貨嗎,？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200包安裝嗎,？
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