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鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200
鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200

品牌

金埃譜

產(chǎn)地

北京

樣本

暫無
國儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司

白金會(huì)員

|

第17年

|

生產(chǎn)商

工商已核實(shí)

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核心參數(shù)
  • 探測器:

    -
  • 加速電壓:

    -
  • 電子槍:

    -
  • 電子光學(xué)放大:

    -
  • 光學(xué)放大:

    -
  • 分辨率:

    -
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SEM3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡,。擁有出色的成像質(zhì)量,、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像,。
大景深,,成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性,,助您在顯微成像的世界中盡情探索,。

產(chǎn)品特點(diǎn)(*為選配件)

 低電壓

碳材料樣品,低電壓下,,穿透深度較小,,可以獲取樣品表面真實(shí)形貌,細(xì)節(jié)更豐富,。

低電壓-碳高電壓-碳

毛發(fā)樣品,,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,,同時(shí)消除了荷電效應(yīng),。

低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

 低真空

過濾纖維管材料,導(dǎo)電性差,,在高真空下荷電明顯,在低真空下,,無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對(duì)不導(dǎo)電樣品的直接觀察,。

低真空高真空

 大視場

生物樣品,采用大視場觀察,,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),,展現(xiàn)跨尺度分析。

低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

 導(dǎo)航&防碰撞

光學(xué)導(dǎo)航

想看哪里點(diǎn)哪里,,導(dǎo)航更輕松
標(biāo)配倉內(nèi)攝像頭,,可拍攝高清樣品臺(tái)照片,快速定位樣品,。

光學(xué)導(dǎo)航

手勢快捷導(dǎo)航

可通過雙擊移動(dòng),、鼠標(biāo)中鍵拖動(dòng)、框選放大,,進(jìn)行快捷導(dǎo)航
如框選放大:在低倍導(dǎo)航下,,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,,提高工作效率,。

手勢快捷導(dǎo)航手勢快捷導(dǎo)航

防碰撞技術(shù)

采取多維度的防碰撞方案:
1. 手動(dòng)輸入樣品高度,,精準(zhǔn)控制樣品與物鏡下端距離,防止發(fā)生碰撞,;
2. 基于圖像識(shí)別和動(dòng)態(tài)捕捉技術(shù),,運(yùn)動(dòng)過程中對(duì)倉內(nèi)的畫面進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測;
3. 硬件防碰撞,,可在碰撞一瞬間停止電機(jī),,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

防碰撞技術(shù)

 特色功能

智能輔助消像散

直觀反映整個(gè)視野的像散程度,,通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊清晰處,,可快速調(diào)節(jié)像散至**。

智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結(jié)果圖

自動(dòng)聚焦

一鍵聚焦,,快速成像,。

自動(dòng)聚焦操作圖自動(dòng)聚焦結(jié)果圖

自動(dòng)消像散

一鍵消像散,提高工作效率,。

自動(dòng)消像散操作圖自動(dòng)消像散結(jié)果圖

自動(dòng)亮度對(duì)比度

一鍵自動(dòng)亮度對(duì)比度,,調(diào)出灰度合適圖像。

自動(dòng)亮度對(duì)比操作圖自動(dòng)亮度對(duì)比結(jié)果圖

多種信息同時(shí)成像

SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像,??赏瑫r(shí)觀察到樣品的形貌信息和
成分信息。

多種信息同時(shí)成像BSE多種信息同時(shí)成像SE

多種信息同時(shí)成像BSE+SE

快速圖像旋轉(zhuǎn)

拖動(dòng)一條線,,圖像立刻“擺正角度”,。

快速圖像旋轉(zhuǎn)操作圖快速圖像旋轉(zhuǎn)結(jié)果圖

 豐富拓展性

掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析,。
SEM3200接口豐富,,除支持常規(guī)的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED),、X射線能譜儀(EDS)外,,也預(yù)留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD),、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成,。

背散射電子探測器
二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比

背散射電子成像模式下,荷電效應(yīng)明顯減弱,,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息,。

鍍層樣品:

鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

鎢鋼合金樣品:

鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE

四分割背散射電子探測器——多通道成像

探測器設(shè)計(jì)精巧,靈敏度高,,采用4分割設(shè)計(jì),,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像,。

四個(gè)單通道的陰影像

成分像

能譜

LED小燈珠能譜面分析結(jié)果,。 

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大,,完全滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠?qū)饘?、陶瓷,、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。
該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖,,能夠識(shí)別晶粒大小和取向,,判斷晶界和孿晶,對(duì)材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷,。


創(chuàng)新點(diǎn)

暫無數(shù)據(jù),!

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用戶評(píng)論

產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
評(píng)論內(nèi)容
暫無評(píng)論!
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  • 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200使用的注意事項(xiàng)
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鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200信息由國儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司為您提供,,如您想了解更多關(guān)于鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200報(bào)價(jià),、型號(hào)、參數(shù)等信息,,歡迎來電或留言咨詢,。
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