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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro品牌
國(guó)儀量子產(chǎn)地
北京樣本
暫無(wú)探測(cè)器:
旁側(cè)二次電子探測(cè)器(ETD) 低真空二次電子探測(cè)器(LVD) 插入式背散射電子探測(cè)器(BSED)加速電壓:
200 V ~ 30 kV電子槍?zhuān)?/p>肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍
電子光學(xué)放大:
1 ~ 1,000,000 x光學(xué)放大:
-分辨率:
0.9 nm @ 30 kV,,SE看了場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro的用戶又看了
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SEM4000Pro是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度,、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流**可達(dá)200 nA,,在EDS,、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì),。標(biāo)配低真空模式,,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器,,可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品,。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,以及直觀的操作界面,,讓您的分析工作倍感輕松。
01配備高亮度,、長(zhǎng)壽命的肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍
02分辨率高,,30 kV 下優(yōu)于 0.9 nm 的極限分辨率
03三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流可調(diào)范圍大,,**支持 200 nA 的分析束流
04無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì),,可直接觀察磁性樣品
05標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器
06標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,,中文操作軟件,,讓分析工作更輕松
應(yīng)用案例
產(chǎn)品參數(shù)
關(guān)鍵參數(shù) 高真空分辨率 0.9 nm @ 30 kV,SE 低真空分辨率 2.5 nm @ 30 kV,,BSE,,30 Pa 1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa 加速電壓 200 V ~ 30 kV 放大倍率 1 ~ 1,000,000 x 電子槍類(lèi)型 肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍 樣品室 真空系統(tǒng) 全自動(dòng)控制 低真空模式 **180 Pa 攝像頭 雙攝像頭 (光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控) 行程 X=110 mm,Y=110 mm,,Z=65 mm T: -10°~+70°,,R: 360° 探測(cè)器和擴(kuò)展 標(biāo)配 旁側(cè)二次電子探測(cè)器(ETD) 低真空二次電子探測(cè)器(LVD) 插入式背散射電子探測(cè)器(BSED) 選配 能譜儀(EDS) 背散射衍射(EBSD) 插入式掃描透射探測(cè)器(STEM) 樣品交換倉(cāng) 軌跡球&旋鈕控制板 軟件 語(yǔ)言 中文 操作系統(tǒng) Windows 導(dǎo)航 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航 自動(dòng)功能 自動(dòng)亮度對(duì)比度,、自動(dòng)聚焦,、自動(dòng)像散
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
摘要:硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料,,因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用,作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑,,比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響,,硬脂酸鎂的比表面積越大,其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn),、高硬度,、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn),,被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè),、汽車(chē)工業(yè)、紡織,、化工,、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu),,是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
近期,,國(guó)儀量子傳感交付與客戶成功團(tuán)隊(duì)在全國(guó)范圍內(nèi)成功開(kāi)展了【儀心儀意】客戶服務(wù)季活動(dòng),通過(guò)深入多地客戶現(xiàn)場(chǎng),,開(kāi)展多項(xiàng)專(zhuān)業(yè)服務(wù),,切實(shí)保障客戶儀器穩(wěn)定運(yùn)行。01安徽大學(xué)在安徽大學(xué),,服務(wù)工程師姜旭盟為老師們
在當(dāng)今追求節(jié)能減排與舒適生活環(huán)境的時(shí)代,智能窗戶作為一種新型節(jié)能設(shè)備成為建筑節(jié)能領(lǐng)域的研究熱點(diǎn),。其中,,熱致變色智能窗戶能依據(jù)外界溫度變化,自動(dòng)調(diào)節(jié)太陽(yáng)光透過(guò)率,,在降低建筑能耗方面潛力巨大,。然而,現(xiàn)有的
近日,,國(guó)儀量子【鏡心鏡意】用戶關(guān)懷周活動(dòng)走進(jìn)了浙江大學(xué)杭州國(guó)際科創(chuàng)中心,。在浙大國(guó)創(chuàng)中心電鏡機(jī)組老師的大力支持下,為期三天的培訓(xùn)活動(dòng)順利舉行,。本次活動(dòng)聚焦理論學(xué)習(xí),、設(shè)備日常維護(hù)及上機(jī)實(shí)操三部分,旨在幫助
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹 在芯片制造工藝中,,金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,,對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升,芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié),。在芯片工作時(shí),,Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,,芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色,。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”,覆蓋在芯片表面,,隔絕外界環(huán)境中的濕氣,、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利