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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro

品牌

國(guó)儀量子

產(chǎn)地

北京

樣本

暫無(wú)
國(guó)儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司

白金會(huì)員

|

第17年

|

生產(chǎn)商

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  • 探測(cè)器:

    旁側(cè)二次電子探測(cè)器(ETD) 低真空二次電子探測(cè)器(LVD) 插入式背散射電子探測(cè)器(BSED)
  • 加速電壓:

    200 V ~ 30 kV
  • 電子槍?zhuān)?/p>肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍

  • 電子光學(xué)放大:

    1 ~ 1,000,000 x
  • 光學(xué)放大:

    -
  • 分辨率:

    0.9 nm @ 30 kV,,SE
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場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
SEM4000Pro

SEM4000Pro是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度,、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流**可達(dá)200 nA,,在EDS,、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì),。標(biāo)配低真空模式,,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器,,可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品,。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,以及直觀的操作界面,,讓您的分析工作倍感輕松。

image.png


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

01配備高亮度,、長(zhǎng)壽命的肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍

02分辨率高,,30 kV 下優(yōu)于 0.9 nm 的極限分辨率

03三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流可調(diào)范圍大,,**支持 200 nA 的分析束流

04無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì),,可直接觀察磁性樣品

05標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器

06標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,,中文操作軟件,,讓分析工作更輕松

應(yīng)用案例

image.png

產(chǎn)品參數(shù)

關(guān)鍵參數(shù)高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV,SE
低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV,,BSE,,30 Pa
1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa
加速電壓200 V ~ 30 kV
放大倍率1 ~ 1,000,000 x
電子槍類(lèi)型肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍
樣品室真空系統(tǒng)全自動(dòng)控制
低真空模式**180 Pa
攝像頭雙攝像頭
(光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控)
行程X=110 mm,Y=110 mm,,Z=65 mm
T: -10°~+70°,,R: 360°
探測(cè)器和擴(kuò)展標(biāo)配旁側(cè)二次電子探測(cè)器(ETD)
低真空二次電子探測(cè)器(LVD)
插入式背散射電子探測(cè)器(BSED)
選配能譜儀(EDS)
背散射衍射(EBSD)
插入式掃描透射探測(cè)器(STEM)
樣品交換倉(cāng)
軌跡球&旋鈕控制板
軟件語(yǔ)言中文
操作系統(tǒng)Windows
導(dǎo)航光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航
自動(dòng)功能自動(dòng)亮度對(duì)比度,、自動(dòng)聚焦,、自動(dòng)像散


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2022-09-27

用戶評(píng)論

產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro信息由國(guó)儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司為您提供,,如您想了解更多關(guān)于場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro報(bào)價(jià),、型號(hào)、參數(shù)等信息,,歡迎來(lái)電或留言咨詢,。
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